В разделе собрано 1 327 опубликованных карточек. Тематическая принадлежность помогает сузить поиск, но не заменяет проверку области применения конкретного стандарта.
Коды с наибольшим количеством опубликованных карточек.
Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости
Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкости
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Варикапы. Метод измерения добротности
Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые прецизионные стабилитроны, имеющие нормированную временную нестабильность напряжения стабилизации и устанавливает метод измерения вре...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и стабисторы и устанавливает метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения дифференциального сопротивления: на переменном токе; на постоянном токе
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума: метод 1 применяют при измерении спектральной плотности...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока. Стандарт не распространяется на вып...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят рав...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заря...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Транзисторы полевые. Термины, определения и буквенные обозначения параметров
Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров полевых транзисторов
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Соединители низкочастотные на напряжение до 1500 В цилиндрические. Основные параметры и размеры
Настоящий стандарт распространяется на низкочастотные (до 3 МГц) на напряжение до 1500 В цилиндрические соединители общего назначения и устанавливает их основные параметры и размеры. Стандар...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Тиристоры. Общие требования к методам измерения параметров
Настоящий стандарт распространяется на тиристоры и устанавливает общие требования к методам измерения параметров. Стандарт не распространяется на силовые тиристоры
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Тиристоры. Метод измерения напряжения переключения
Настоящий стандарт распространяется на тиристоры и устанавливает метод измерения напряжения переключения. Стандарт не распространяется на силовые тиристоры
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Тиристоры триодные. Метод измерения отпирающего постоянного и импульсного тока управления и отпирающего постоянного и импульсного напряжения управления
Настоящий стандарт распространяется на триодные тиристоры и устанавливает метод измерения отпирающего постоянного и импульсного тока управления и отпирающего постоянного и импульсного напряж...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Тиристоры триодные. Метод измерения времени выключения
Настоящий стандарт распространяется на триодные тиристоры и устанавливает метод измерения времени выключения. Стандарт не распространяется на силовые тиристоры
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026