В разделе собрано 1 327 опубликованных карточек. Тематическая принадлежность помогает сузить поиск, но не заменяет проверку области применения конкретного стандарта.
Коды с наибольшим количеством опубликованных карточек.
Конденсаторы литий-ионные для электрического и электронного оборудования. Методы испытаний электрических характеристик
Настоящий стандарт распространяется на литий-ионные конденсаторы (ЛИК), применяемые в электрическом и электронном оборудовании, и устанавливает методы их испытаний по определению электрическ...
Проверка ключевых сведений: 08.11.2026Основание со встроенными компонентами. Часть 1-1. Общие требования. Методы испытаний
В настоящем стандарте указаны методы испытаний пассивных и активных устройств, встроенных в подложки. Основные методы испытаний материалов и печатных плат указаны в МЭК 61189-3. Настоящий ст...
Проверка ключевых сведений: 08.11.2026Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем
Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых техническ...
Проверка ключевых сведений: 08.11.2026Безопасность лазерной аппаратуры. Часть 9. Компиляция максимально допустимой экспозиции некогерентного оптического излучения
Настоящий стандарт приводит в соответствие действие значения максимально возможной экспозиции (МВЭ) при экспонировании некогерентного оптического излучения от искусственных источников на гла...
Проверка ключевых сведений: 08.11.2026Интеллектуальные транспортные системы. Средства для обеспечения адаптивного управления светофорными объектами. Общие технические требования
Настоящий стандарт устанавливает требования к средствам адаптивного управления светофорными объектами, включающим дорожные контроллеры, многофункциональные устройства-адаптеры, а также вспом...
Проверка ключевых сведений: 08.11.2026Критическая информационная инфраструктура. Доверенные программно-аппаратные комплексы. Общие принципы формирования комплекса стандартов
Настоящий стандарт устанавливает общие принципы формирования комплекса стандартов в сфере доверенных программно-аппаратных комплексов для критической информационной инфраструктуры (далее – к...
Проверка ключевых сведений: 08.11.2026Критическая информационная инфраструктура. Доверенные интегральные микросхемы и электронные модули. Общие положения
Настоящий стандарт устанавливает общие принципы и подходы к обеспечению создания доверенных изделий активной электронной компонентной базы (АЭКБ), которые используются в составе доверенных п...
Проверка ключевых сведений: 08.11.2026