В разделе собрано 1 327 опубликованных карточек. Тематическая принадлежность помогает сузить поиск, но не заменяет проверку области применения конкретного стандарта.
Основные группы и подгруппы
Коды с наибольшим количеством опубликованных карточек.
Цифровая промышленность. Унифицированная архитектура ОРС. Часть 6. Сопоставления
Настоящий стандарт является руководством по применению основных нормативных положений, определяющих сопоставление нескольких отображений, поддерживающих реализацию конкретных приложений. Нас...
Методы создания карт рабочих режимов электронной компонентной базы на основе математического моделирования и виртуализации испытаний электронной компонентной базы и электронной аппаратуры на внешние воздействующие факторы при проектировании
Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями промышленности и организациями при использовании цифровых двойников электроники на ранних этапах проектирования, изготовления и и...
Методы математического моделирования и виртуализации испытаний электронной компонентной базы и электронной аппаратуры на механические воздействия при проектировании
Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями промышленности и организациями при использовании цифровых двойников на ранних этапах проектирования, изготовления и испытаний ЭКБ...
Микросхемы интегральные. Аналого-цифровые преобразователи. Методы измерения времени преобразования
Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы линейных аналого-цифровых преобразователей (АЦП) напряжения в цифровой код с числом эквивалентных двоичных разрядов до 32 включ...
Лампы генераторные, модуляторные и регулирующие мощностью, рассеиваемой анодом, свыше 25 Вт. Методы контроля отсутствия внутриламповых замыканий и обрывов электродов подогревателя
Настоящий стандарт распространяется на генераторные, модуляторные и регулирующие лампы мощностью, рассеиваемой анодом, свыше 25 Вт и устанавливает методы контроля отсутствия внутриламповых з...
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Межоперационное хранение пластин кристаллов
Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы и полупроводниковые приборы и может быть использован на предприятиях отрасли при разработке документов, регламентирующих сроки...
Термисторы. Метод измерения температурного коэффициента мощности
Настоящий стандарт распространяется на термисторы и устанавливает метод измерения температурного коэффициента мощности термисторов. Общие требования при измерении и требования безопасности –...
Термисторы. Метод измерения температурного коэффициента напряжения
Настоящий стандарт распространяется на термисторы и устанавливает метод измерения температурного коэффициента напряжения термисторов. О бщие требования при измерении и требования безопасност...
Лазеры и излучатели твердотельные на алюмоиттриевом гранате. Методы измерения поляризационных характеристик лазерного излучения
Настоящий стандарт распространяется на твердотельные лазеры и излучатели (на алюмоиттриевом гранате) импульсного режима с модуляцией добротности и устанавливает методы измерения параметров,...
Диэлектрики неорганические. Метод определения электрической прочности
Настоящий стандарт распространяется на неорганические диэлектрики: стекла, ситаллы, фотоситаллы, стеклокристаллические цементы и керамические материалы, применяемые в изделиях электронной те...
Лазеры газовые. Методы измерения поляризации излучения
Настоящий стандарт распространяется на газовые лазеры и устанавливает методы измерения степени поляризации и положения плоскости поляризации излучения атомных, ионных и молекулярных газовых...
Микросхемы интегральные на общей пластине и приборы полупроводниковые на общей пластине и разделенные на кристаллы. Порядок приемки и поставки
Настоящий стандарт устанавливает порядок приемки и поставки интегральных микросхем и полупроводниковых приборов, поставляемых в виде разделенных на кристаллы или неразделенных – (на общей пл...
Настоящий стандарт распространяется на термисторы и устанавливает метод измерения коэффициента гармоник термисторов. Общие требования при измерении и требования безопасности – по ГОСТ Р 7138...
Микросхемы интегральные. Цифро-аналоговые преобразователи. Методы измерения параметров характеристики преобразования
Настоящий стандарт устанавливает один метод измерения величины в заданной точке характеристики преобразования на аналоговом выходе ЦАП и вычисления статических характеристик (выходного напря...
Микросхемы интегральные. Цифро-аналоговые преобразователи. Методы измерения времени установления выходного напряжения (тока)
Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы линейных цифро-аналоговых преобразователей цифрового кода в напряжение (ток) с числом эквивалентных двоичных разрядов до 32 вкл...
Микросхемы интегральные. Аналого-цифровые преобразователи. Методы измерения параметров характеристики преобразования
Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы линейных аналого-цифровых преобразователей (АЦП) напряжения в цифровой код с числом эквивалентных двоичных разрядов до 32 включ...
База электронная компонентная для ракетно-космической техники. Требования к хранению
Настоящий стандарт распространяется на изделия электронной компонентной базы (далее – изделия), предназначенные для разработки, производства и ремонта аппаратуры ракетно-космической техники...