Электроника

Приборы оптоэлектронные. Волстроны. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые волстроны, применяемые в радиоэлектронной аппаратуре, и устанавливает состав параметров, способы задания норм н...

Изделия оптические из электрооптических, оптически нелинейных и акустооптических кристаллов для изделий квантовой электроники. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые оптические изделия из электрооптических, оптически нелинейных и акустооптических кристаллов для изделий квантов...

Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Методы измерений функции направленного рассеяния света

Настоящий стандарт распространяется на лазеры и лазерное оборудование и устанавливает методы измерений функции направленного рассеяния света оптических компонентов, включая оптические элемен...

Системы автоматизированного проектирования электроники. Подсистема виртуальных испытаний электронной аппаратуры на воздействие синусоидальной вибрации

Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями промышленности и организациями при использовании цифровых двойников электроники и CALS-технологий на ранних этапах проектирования...

Системы автоматизированного проектирования электроники. Информационное обеспечение. Порядок разработки моделей SPICE. Правила написания элементов

Настоящий стандарт определяет требования к описаниям разрабатываемых моделей SPICE изделий для систем автоматизированного проектирования радиоэлектронной аппаратуры. Стандарт рекомендован к...

Системы автоматизированного проектирования электроники. Информационное обеспечение. Модели SPICE. Порядок применения

Настоящий стандарт определяет требования к порядку применения моделей SPICE электронной компонентной базы и документации к ним для систем автоматизированного проектирования радиоэлектронной...

Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые газоразрядные источники высокоинтенсивного оптического излучения импульсного действия (далее – лампы) и устанав...

Лазеры инжекционные, излучатели, решетки лазерных диодов, диоды лазерные. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые инжекционные лазеры, излучатели, решетки лазерных диодов, лазерные диоды (далее – лазеры, излучатели, решетки,...

Диоды полупроводниковые импульсные. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые импульсные полупроводниковые диоды (далее – диоды) и устанавливает состав параметров и типовых характеристик, п...

Индикаторы знакосинтезирующие полупроводниковые. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые полупроводниковые знакосинтезирующие индикаторы (далее – индикаторы). Стандарт устанавливает состав параметров...

Разрядники нерезонансные. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые нерезонансные разрядники (далее – разрядники), применяемые в радиоэлектронной аппаратуре, и устанавливает соста...

Приборы полупроводниковые и оптоэлектронные. Октроны. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые октроны и устанавливает состав параметров и типовых характеристик, подлежащие включению в технические условия (...

Микросхемы интегральные. Фильтры. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые интегральные микросхемы – фильтры (далее – фильтры) и устанавливает состав параметров и типовых характеристик,...

Индикаторы знакосинтезирующие газоразрядные. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые газоразрядные знакосинтезируюзщие индикаторы (далее – индикаторы), применяемые в радиоэлектронной аппаратуре и...

Пластины маскированные для фотошаблонов. Термины и определения

Настоящий стандарт распространяется на стеклянные заготовки, маскированные и резистовые пластины для фотошаблонов, применяемые в производстве полупроводниковых приборов и интегральных схем в...

Оптика и фотоника. Оборудование на базе волоконных лазеров. Требования лазерной безопасности

Настоящий стандарт распространяется на оборудование на базе волоконных лазеров, применяемое для обработки материалов в технологических целях на производственных объектах и площадках, (далее...

Трубки электронно-лучевые приемные. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые приемные электронно-лучевые трубки (далее - трубки) и устанавливает состав параметров и типовых характеристик т...

Трубки электронно-лучевые запоминающие без видимого изображения. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на электронно-лучевые запоминающие трубки без видимого изображения (далее – трубки) и устанавливает состав параметров и типовых характеристик трубок, подл...

Микросхемы интегральные. Формирователи и генераторы импульсов напряжения прямоугольной формы. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые интегральные микросхемы формирователей и генераторов импульсов напряжения прямоугольной формы (далее – микросхе...

Микросхемы интегральные. Стабилизаторы напряжения. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые непрерывные стабилизаторы напряжения (НСН) и устанавливает состав параметров и типовых характеристик, подлежащи...