Найдите ГОСТ по номеру, продукции или словам из названия. Поиск помогает сузить список, но не подтверждает применимость стандарта к вашей продукции.
31 — Электроника. Код ОКС служит для тематической группировки и сам по себе не подтверждает применимость документа.
Диоды полупроводниковые. Основные параметры
Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые полупроводниковые диоды, выпрямительные (кроме диодов Шоттки), импульсные, стабилитроны (стабисторы), варикапы,...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды: выпрямительные, универсальные, испульсные, туннельные, варикапы, стабилизаторы, генераторы шума и диоды СВЧ ( в части низкочас...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности
Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов: м...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь: для варикапов, предназначенных для работы в ди...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода
Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимости
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пиковог...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значе...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока. Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости
Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкости
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Варикапы. Метод измерения добротности
Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока. Стандарт не распространяется на вып...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят рав...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заря...
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения электрических параметров. Общие положения
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ и устанавливает общие положения при измерениях электрических параметров на сверхвысоких частотах
Проверка ключевых сведений: 06.11.2026