ГОСТ 18986.10-74

ГОСТ 18986.10—74

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ИНДУКТИВНОСТИ

Издание официальное

53 12001

ИПК ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ
Москва

УДК 621.382.2.08:006.354 Группа 929

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
м гост
етоды измерения индуктивности 18986.10—74

Semiconductor diodes.
Methods for measuring inductance

MKC
31.0800

Постановлением Госуларственного комитета стандартов Совета Министров CCCP or 27 декабря 1974 г. № 2824
дата введения установлена тя

Ограничение срока действия снято по протоколу № 5—94 Межгосударственного совета по стандартизации,
метрологии и сертификации (ИУС 11-12—94)

Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у
которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения инлуктивности
диодов:

метод | — для диодов. индуктивность которых 2 HTH и более;

метод И — для диодов, индуктивность которых менее 2 нГи.

Общие условия при измерении должны соответствовать требованиям ГОСТ 18986.0—74,
ГОСТ 19656.0—74 и настоящего стандарта.

{Измененная редакция, Изм. № 2).

1. МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ИНДУКТИВНОСТИ ДИОДОВ,
ЗНАЧЕНИЕ КОТОРОЙ 2 нГи И БОЛЕЕ

1.1. Принцип, условия и режим измерений
LLL Принцип измерения индуктивности диодов основан на измерении резонансной частоты
колебательного контура куметра при подключении к нему измеряемого диода.
1.1.2. Постоянный прямой ток диода, при котором проводят измерение, должен быть таким.
чтобы добротность контура с диодом была не менее 40.
1.1.3. Частота измерения, ГГц, должна удовлетворять условию
124,

а

где Ly — значение индуктивности, указанное в стандартах или технических условиях на диоды кон-
кретных типов, Tu.
1.2. Аппаратура
1.2.1. Измерения проволят на установке, электрическая структурная схема которой указана на
черт. 1.

'Излани фициальное Перепечатка воспрещена

Издалие (май 2004 2.) с Изменениями № 1, 2, утвержденными в феврале 1979 г., августе 1982 г.
(AYE 4-79, 12-82).

© Издательство стандартов, 1975

С. 2 ГОСТ 18986.10—74

ona

RZ

G — блок смешения; PA — миллиамиерметр: В? — резистор полачи смешении: Le— катушка индуктивности, полключаемая
к куметру: P— куметр: Cx — переменный конденсатор куметра: А2 — резистор внутри куметра.на котором со зается ЭДС
высокой частоты, YD — измеряемый диод; КЗ — замыкатель

Черт. |
© ИПК Издательство стандартов, 2004
1.2.2. Индуктивность контура /, должны выбирать из условия
L, $ 20L,.

Индуктивность замыкателя должны выбирать из условия

1,
Ler 555.

Замыкатель рекомендуется изготовлять в виде отрезка плоской широкой шины из металла,
хорошо проводящего ток на высокой частоте.

В необходимых случаях требования к конструкции замыкателя должны быть указаны в стан-
дартах или технических условиях на диоды конкретных типов.

1.2.4. Сопротивление резистора К/ должно удовлетворять условию

RI >102nfL, .

1.3. Подготовка и проведение измерений

1.3.1. При измерении индуктивности диодов должна быть определена общая емкость колеба-
тельного контура C, с учетом распределенной емкости катушки индуктивности /,. Общая емкость
контура С, определяется в положении переменного конденсатора С, соответствующем настройке
контура в резонанс на рабочей частоте при замыкании контактов А и Б измерительной схемы
замыкателем.

Измерение общей емкости контура С, должно проводиться в соответствии с документацией
на куметр, который применяют для измерения индуктивности диода.

1.3.2. Измеряемый диод включают в контур последовательно с катушкой индуктивности.

1.3.3. Устанавливают через диод постоянный прямой ток.

1.3.4. Настраивают контур в резонанс и отсчитывают значение емкости С.» .

1.3.5. Вместо измеряемого диода устанавливают замыкатель.

1.3. Настраивают контур в резонанс и отсчитывают значение емкости Са конденсатора
куметра.

14. Обработка результатов
1.4.1. Значение индуктивности диода L, вычисляют по формуле

Co- Cu

Ре

Сил”

где /— частота, Ha которой проводят измерение, Ги;
Cys Co, Сы — значения емкостей, Ф.

ГОСТ 18986.10—74 С. 3

1.5. Показатели точности измерений
1.5.1. Погрешность измерения индуктивности должна быть в пределах + [6,1 +

St 100 % с

доверительной вероятностью 0,99.
Разд. 1. (Измененная редакция, Изм. № 2).

2. МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ИНДУКТИВНОСТИ ДИОДОВ,
ЗНАЧЕНИЕ КОТОРОЙ МЕНЕЕ 2 нГн

Принцип, условия и режим измерений
2.1.1. Принцип измерения индуктивности диода Ё, основан на измен
стоячей волны при подключении в линию измеряемого диода.

2.1.2. Измерения проводят при протекании через диод прямого тока, значение которого
выбирают таким образом. чтобы коэффициент стоячей волны по напряжению в измерительной
линии был не менее 4.

2.2. Аппаратура
. Измерения проволят на установке, электрическая структурная схема которой указана на

му ®)
тн
м FO ЕН DH

нии положения узла

черт. 2.

Н 62 Hea)

G1 — тенератор мощиюсти СВЧ; WU — согласующщий азтенюатор с ослаблением 20 дБ; С — разлелительный конденсатор; РА? —
миллизмиермезр: № — измерительная аннич: ИД — измеряемый днод: /— адантер: PAZ — микрозмперметр: G2 — блок ewer

щения

Черт. 2

2.2.2. Частоту измерения должны выбирать из условия

0,047,
5 0,25

нор

/=—

му

где Z, — волновое сопротивление измерительной линии, Ом;
/— частота, Гц;
L, — индуктивность, Гн, значение которой указывают в стандартах или технических условиях
на диоды конкретных типов;
Cyop — емкость корпуса диода.
.2.3. Конструкция адаптера U, в котором измеряется диод, должна быть приведена в стандар-
тах или технических условиях на диоды конкретных типов.
Замыкатель по форме и геометрическим размерам должен совпадать с корпусом диода изме-
ряемого типа и изготовлен из металла, хорошо проводящего ток на высокой частоте. В необходимых