ГОСТ Р 57394-2017

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО.

ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ
НАЦИОНАЛЬНЫЙ ГОСТ P
СТАНДАРТ 4
РОССИЙСКОЙ 5739
ФЕДЕРАЦИИ 2017

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ
И ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

Методы ускоренных испытаний
на безотказность

Издание официальное

Е т

ГОСТР 57394—2017

Предисловие

1 РАЗРАБОТАН Ахционерным обществом «Российский научно-исследовательский институт «Элек-
тронстандарт» (АО «РНИИ «Электронстандарт») при участии Федерального государственного унитар-
ного предприятия «Мытищинский научно-исследовательский институт радиоизмерительных приборов»
{ФГУП «МНИИРИП»), Акционерного общества «Центральное конструкторское бюро «ЦКБ «Дейтон»
(АО «ЦКБ «Дейтон»), Акционерного общества «Росэлектроника» (АО «Росэлектроника»)

2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 303 «Изделия электронной техники,
материалы и оборудование»

3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому ре-
гулированию и метрологии от 27 февраля 2017 г. № 74-ст

4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона
от 29 июня 2015 г. № 162-ФЗ «О стандартизации в Российской Федерации». Информация об из-
менениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего
года) информационном указателе «Национальные стандарты», а официальный текст изменений
и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В случае
‘пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет
опубликовано в бпижайшем выпуске ежемесячного информационного указателя «Национальные
стандарты». Соответствующая информация. уведомление и тексты размещаются также в ин-
‘формационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства NO
техническому регулированию и метропогии в сети Интернет (www.gost.ru).

© Стандартинформ. 2017

Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и рас-
пространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническо-
му регулированию и метрологии

ГОСТР 57394—2017

Содержание

1 Область применения _ .
2 Нормативные ссылки .
3 Термины, определения и сокращения .
4 Общие положения ...
5 Подготовка к введению ускоренных испытаний на безотказность .
6 Определение режима ускоренных кратковременных испытаний на безотказность . ..
7 Определение режима и продолжительности ускоренных длительных испытаний

Me ele

Приложение Б {рекомендуемое) Определение коэффициента ускорения отказов изделий
с учетом нескольких механизмов отказов -.........---...- неее eee ee eee 13

Приложение В (рекомендуемое} Определение констант ускорения п и ce в моделях коэффициента
ускорения от тока и напряжения. . lets

Приложение Г (рекомендуемое) Определение значения энергии активации на основе
параллельных испытаний выборок в различных режимах ...............--....-- 17

Приложение Д (рекомендуемое) Определение значения энергии активации по накопленным
| И НИЕ 528 20

Приложение Е (рекомендуемое) Определение значения энергии активации по результатам
испытаний со ступенчато-возрастающей нагрузкой .........-......-...----.---. 22

Приложение Ж (рекомендуемое) Определение значения энергии активации по результатам
электротермотренировки при ступенчато-возрастающей нагрузке ..............-- 24
Приложение И (рекомендуемое) Форма обобщения результатов испытаний при определении
режима ускоренных кратковременных испытаний на безотказность .............- 26

Приложение К (рекомендуемое) Форма программы работ по определению режимов ускоренных
ИСПЫТЕНИЙ рее 6 ore b ae ces ce cates edie HAA ale sed aH STM ord seeeRbades 27

Приложение Л (обязательное) Методы определения границ области допустимого форсирования ..28

Приложение М (рекомендуемое) Форма решения об утверждении режимов ускоренных
кратковременных и длительных испытаний на безотказность и введения этих

‘испытаний в систему испытаний на безотказность ....-....-... eee eee 32
Приложение Н (рекомендуемое) Форма программы и методики ускоренных испытаний

на безотбаЗВОСТЬ «ete вина ааа оа анна 33
Приложение П (справочное) Примеры расчета режимов и продолжительности ускоренных.

испытаний на безотказность .....-....-... ен иене eee eee 34

Библиография 53.1 one парада ее ето Mena ad 41

ГОСТР 57394—2017

Введение

Настоящий стандарт устанавливает методы ускоренных испытаний на безотказность полупрово-
‘дниковых интегральных микросхем и полупроводниковых приборов, предусматривающие форсирова-
ние режимов эксплуатации.

Методы могут быть применены для многокристальных модулей и микросборок.

Методы ускоренных испытаний на безотказность используют:

- при проведении кратковременных и длительных испытаний на безотказность (в составе приемо-
сдаточных и периодических испытаний);

- при испытаниях дополнительной выборки, проводимых при получении одного отказа на кратко-
временных испытаниях на безотказность;

- при проведении новых ислытаний,

= при испытаниях, проводимых для подтверждения эффективности специальной программы пе-
‘репроверки изделий, возвращенных изготовителю при отрицательных результатах испытаний, а также
находящихся в производстве до реализации плана мероприятий;

- для оценки эффективности изменений, вносимых в конструкторскую или технологическую до-
кументацию (при проведении типовых испытаний};

- подготовке справочных данных об интенсивности отказов.

Методы ускоренных испытаний на безотказность могут быть использованы на этапе приемки
опытных образцов (если это установлено в техническом задании) и испытаниях установочной серии
изделий, при проведении испытаний на безотказность в составе квалификационных испытаний, если
режим ускоренных испытаний на безотказность был ранее отработан и утвержден для изделий, находя-
щихся в производстве и являющихся конструктивно-технологическими аналогами новых изделий (при
сравнительной оценке надежности при совместных испытаниях с изделием-аналогом}.

Методы ускоренных испытаний на безотказность могут быть использованы при входном контроле
потребителем.

Методы ускоренных испытаний на безотказность могут быть использованы также для определе-
ния облегченного режима испытаний и наработки в облегченном режиме.

Для большинства механизмов отказов повышение температуры кристалла (перехода) являются
‘ускоряющим фактором. В этом случае коэффициент ускорения рассчитывается по модели Аррениуса.
Настоящий стандарт при форсировании испытаний за счет температуры среды (корпуса) опирается
только на модель Аррениуса и не рассматривает модели отказов. использующих температуру в каче-
стве ускоряющего фактора, но отличных от модели Аррениуса (например. для микросхем в матричных
корпусах с шариковыми выводами, для которых превалирующим механизмом отказа является деграда-
ция не кристалла, а контакта шарик—контактная площадка).