Межгосударственный стандарт
ГОСТ 7727-81
Сплавы алюминиевые. Методы спектрального анализа
Aluminium alloys. Methods of spectral analysis
Редакционная карточка ГОСТНОРМ. Полный текст публикуется только при подтверждённом праве использования. Метаданные сверяются по нескольким источникам.
Область применения
Область применения пока не подтверждена.
1
Страница 1
ГОСТ 7727-81
М Е Ж Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й С Т А Н Д А Р Т
СПЛАВЫ АЛЮМИНИЕВЫЕ
МЕТОДЫ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА
Издание официальное
ИНК ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ
Москва
сертификат на краску2
Страница 2
УДК 669.715:543.42:006.3S4 Группа В59
М Е Ж Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й С Т А Н Д А Р Т
Cl 1ЛАВЫ АЛЮМ И НИ ЕВ ЫЕ
Методы спектрального анализа ГОСТ
7727-81
Aluminium alloy*. Methods o f spectral analysis
ОКСТУ 1709
Дата ввеления 01.07.82
Настоящий стандарт устанавливает спектральные методы определения содержания легирую
щих элементов и примесей (меди, магния, марганца, железа, кремния, титана, цинка, ванадия,
лития, кадмия, бериллия, никеля, хрома, циркония, церия, натрия, свинца, олова, сурьмы, мышьяка,
бора) в литейных и деформируемых алюминиевых сплавах.
1. ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ
1.1. Содержание легирующих элементов и примесей в сплавах определяют по градуировочным
графикам, построенным по стандартным образцам (СО). Используют два метода градуирования
приборов: метод «грех эталонов» и метод «контрольного эталона*.
Регистрация спектров — фотографическая или фотоэлектрическая.
При проведении анализа фотографическим методом градуировочные графики строят в коор
динатах:
Д 5 - С, lg -/--Ig C ,
*<Р
где Д S — разность почернений линий определяемого элемента и элемента сравнения;
С — массовая доля определяемого элемента в СО;
_/__ относительная интенсивность линии определяемого элемента и линии сравнения.
'а
При проведении анализа фотоэлектрическим методом градуировочные графики строят в
координатах:
п—lg С; я —С; Ig л—lg С
где п — показание выходного измерительного устройства.
1.2. П ри проведении анализа прим еняю т Государственны е стандартны е образны (ГС О ) № 484-
74 _ 490-74; 532-74 - 538-74; 5 8 4 -7 4 - 588-74; 748-75 - 752-75; 9 5 8 -7 6 - 961-76; 1062-76 - 1069-76;
1161-77 - 1165-77; 1196-77 - 1199-77; 1200-77 - 1 2 0 5 - 7 7 ; 1206-77 - 1211-77; 1212-77 - 1 2 1 7 - 7 7 ;
1251-77 - 1255-77; 1305-78 - 1308-78; 1620-79 - 1 6 2 3 - 7 9 : 1672-79 - 1676-79; 1884-80 - 1 8 8 7 - 8 0 ;
1888-80 - 1 8 9 0 - 8 0 ; 2 2 0 1 - 8 1 - 2206-81; 2821-83 - 2825-83; 2877-84 - 2880-84; 3 2 2 5 - 8 5 - 3234-85;
3430-86 - 3434-86; 3697-87 - 3703-87; 4 2 1 9 -8 8 - 4222-88: 4234-88 - 4238-88; 4344-88 - 4348-88;
4413-88 - 4419-88; 5047-89 - 5050-89; 5067-89 - 5071-89; 5276-90 - 5279-90; 5383-90 - 5389-90; о т
раслевые стандартны е образцы (О С О ) № 4 -8 5 - 8-85; 8 -8 4 - 1 1 - 8 4 ; 12-84 - 16-84; 16-81 - 20-81;
17-84 - 19-84; 21-81 - 25-81; 26-81 - 29-81; 53-82 - 57-82; 58-82 - 61-82; 6 6 -8 3 - 73-83; 371-88 -
376-88; 391-89 - 394-89; 4 1 1 -9 0 - 414-90.
Издание официальное Перепечатка поспрошена
★
© Издательство стандартов. 1981
© И ПК Издательство стандартов. 20023
Страница 3
С. 2 ГОСТ 7727-81
Допускается также применение стандартных образцов предприятия (СОП) вновь выпускаемых
стандартных образцов алюминиевых сплавов всех категорий, соответствующих требованиям
ГОСТ 8.315.
(Измененная редакция, Изм. № 2).
1.3. Отбор проб проводят по нормативно-технической документации.
1.4. Проверку правильности определения массовой доли элементов проводят по контрольным
пробам, сравнивая результаты спектрального анализа с результатами анализа, выполненного хими
ческими методами по ГОСТ 11739.1 — ГОСТ 11739.24 не реже одного раза в квартал.
Значение абсолютного допускаемого расхождения должно быть не более рассчитанного по
формуле
где Сх — результат анализа пробы, выполненного химическим методом, %\
С0 — результат анализа пробы, выполненного спектральным методом. %;
Sa — среднее квадратическое отклонение, характеризующее воспроизводимость результатов
спектрального анализа;
S a — среднее квадратическое отклонение, характеризующее воспроизводимость результатов
химического анализа.
(Измененная редакция, Изм. № 1, 2).
2. ФОТОГРАФИЧЕСКИЙ МЕТОД СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА
2.1. С у щ н о с т ь м е т о д а
Метод основан на возбуждении спектра сплава дуговым или искровым разрядом с последующей
регистрацией его на фотопластинке с помощью спектрографа.
2.2. А п п а р а т у р а , м а т е р и а л ы и р е а к т и в ы
Спектрограф с кварцевой оптикой, средней дисперсии, типа ИСП-30.
Искровой генератор типа ИГ-3 или И ВС-23 или дуговой типа ДГ-2 или И ВС-28.
Микрофотометр типа МФ-2 и ИФО-460.
Ослабители трех- и девятиступенчатые.
Угли спектральные марок ОСЧ-7—3, С-2, С-3 в виде прутков диаметром 6 мм.
Прутки алюминиевые марок Л99, Л97 по ГОСТ 11069. диаметром 3—8 мм.
Фотопластинки спектральные типов I, 2, 3, ЭС, УФШ, ПФС-01, ПФС-02. ПФС-03, Г1ФС-04,
ПФС-05 чувствительностью от 3 до 20 единиц.
Станок токарный настольный типа Т В -16.
Приспособление для заточки углей.
Проявитель, состоящий из двух растворов.
Раствор 1:
вода дистиллированная по ГОСТ 6709—1000 см3;
метол (пара-метиламинофенолсульфат) — 2 г;
натрий сернистокислый 7-водный по ТУ 6—09—1457 — 104 г или натрий сернистокислый по
ГОСТ 195-52 г;
гидрохинон (парадиоксибензол) по ГОСТ 19627—10 г;
калий бромистый по ГОСТ 4160—2 г.
Раствор II:
вода дистиллированная по ГОСТ 6709—1000 см5;
натрий углекислый по ГОСТ 83—54 г.
Перед прояачением растворы I и II смешивают в соотношении 3 : 1.
Фиксаж:
вода дистиллированная по ГОСТ 6709—1000 см3;
натрия тиосульфат кристаллический по ГОСТ 244- 300 г;
аммоний хлористый по ГОСТ 3773—60 г.
Допускается применение других приборов, оборудования, материалов и реактивов при условии
получения метрологических характеристик, предусмотренных настоящим стандартом.
2.3. П о д г о т о в к а к а н а л и з у
Для анализа используют образцы (после заточки): прутки круглого или кварцевого сечения4
Страница 4
ГОСТ 7727-81 С. 3
диаметром от 5 до 50 мм. длиной 30—100 мм, профили, диски, полосы толщиной не менее 2 мм.
«грибки* с диаметром «шляпки* 30—50 мм, толщиной не менее 5 мм.
Допускается использовать образны меньших размеров при наличии СОП соответствующих
размеров.
Обыскриваемую поверхность образцов затачивают на плоскость механической обработкой.
Параметр шероховатости поверхности Rz должен быть не более 20 мкм по ГОСТ 2789. С образцов
в виде «грибка», полученных заливкой металла в кокиль, снимают с нижней стороны (со шляпки)
слой 1.5—2 мм; с прутковых образцов диаметром 5—10 мм, полученных заливкой металла в кокиль,
снимают 5—10 мм. Если литой пруток имеет плоский торец, допускается снятие металла с торна на
глубину 0,2—0,5 мы.
Подготовка анализируемых образцов (АО) и СО к анализу должна быть однотипной для данной
серии измерений. На обработанной поверхности не допускаются раковины, царапины, трещины и
шлаковые включения.
Противозлектроды затачивают на сферу радиусом 3—6 мм. конус с углом заточки 120“ или
усеченный конус с площадкой диаметром 1—2 мм с углом заточки 40 —60'.
2.4. П р о в е д е н и е а н а л и з а
Условия проведения анализа фотографическим методом на спектрографе типа ИСП-30 при
ведены в табл. 1.
Таблица I
Условия кроне дсп и и анализа
С и. M g. Т«. Si. С г. M n . Fe. L i. С<! и
Лппарзгурд. материалы и
кои ф илируем ы е параметры Z b . Z f. V . Be. N i. C a. Sc no прим еси N i. Си.
В и прим еси РЬ.
всех сплавах. П р им еси N i. Z n . S i. Fc при Ц ерий
S n . Ах. Sb
C u. Z n . S i. Fe при их их м ассовой
м ассовой доле > 0.1 доле < 0 .1 %
Ширина щели спектрографа, мм 0.015-0.025 0.015-0,025 0.015 0.015-0,020
Генератор, тип ИГ-3. ИВС-23 (схема ДГ2, ИВС-28 ДГ2. ИВС-28 ИГ-3, ИВС-23
сложная или простая) (схема сложная)
Емкость. мкФ 0,005-0,01 — — 0,01
Самоиндукция. мГн 0: 0.01;0.05 - — 0
Сила тока. А 1.5-2.5 2 -3 5-7 2-3
Аналитический промежуток, мм 2.0—2.5 1.5-2,0 1.5-2.0 2.0
Задающий промежуток разряд 3 .0 0,5—0.9 0.5—0.9 3.0
ника. мм
Число цугов 1; 2 - - 1,2
Обжиг, с 30-90 5-10 5-10 Без обжига
Противозлектрод Угольный или алюминиевый
Фотопластинки, тип 1 , 2. ЭС 2. ЭС, УФШ 1, 2, ЭС
Система координат Д S - lg С Д S - lg С A S - lg С
«g - te с
AS - С 1» т - - lg С ‘Т*
IT
AS - С
П р и м е ч а й и я:
1. Время экспозиции устанавливают в зависимости от чувствительности фотопластинок: оно должно быть
нс менее 15 с.
2. При определении церия для получения одной спектрограммы используют две экспозиции с зачищен
ных участков образца (по 30 с каждая).
3. Допускается проведение анализа с применением парных электродов с заточкой одного из электродов
на плоскость.
4. При анализе листов и прутков с размерами меньшими, чем предусмотрено настоящим стандартом,
допускается выбор других режимов работы источников света и применение СОП соответствующих АО.Показаны первые 4 из 15
История статуса
Подтверждённых событий пока нет.