ГОСТ 27780-88

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ
СОЮЗА ССР

ЕЕ ЕЕ ЧЕДЖУ ЖЖ ЕДЕ Итан Е

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ.
КОММУТАТОРЫ И КЛЮЧИ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

ГОСТ 27780—88

Издание официальное

50 коп.

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР
ПО УПРАВЛЕНИЮ КАЧЕСТВОМ ПРОДУКЦИИ И СТАНДАРТАМ
Москва

УДК 621.3.049.77:006.354 Групаа 929
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
ОБЕ RE TE

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ,
КОММУТАТОРЫ И КЛЮЧИ

Методы измерения электрических параметров гост

27780—88
Integrated circuits, Multiplexers and switches,
Methods for measuring electric parameters

ОКИ 63 3000

Срок действия с 01.01.90.
до 01.0195

Настоящий стандарт распространяется на микросхемы класса
коммутаторов и ключей и устанавливает требования для методов
измерения  злектрических параметров (далее — параметров)
MH)

‘ермины, определения н буквенные обозначения — по ГОСТ
19480—89 и нормативно-технической документацин.

1. ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ

ll. Условия и режим измерений

1.1.1, Условия измерений должны соответствовать ГОСТ
20.57.406—81 и требованиям, приведенным в стандартах или техни-
ческих условиях (далее —ТУ) на микросхемы конкретных типов.
Измерения проводят при температуре окружающей среды или при
температуре на корпусе (теплоотводе), установленной в ТУ на
микросхемы конкретных типов.

(Измененная редакция, Изм, № 2).

1.1.2. Электрический режим (тестовые напряжения и токи),
количество источников постоянного и (или) импульсного напря-
жения (тока), последовательность подачи напряжений и токов
(при необходимости), полярность источников напряжения (тока)
должны соответствовать установленным в ТУ на микросхемы кон-
кретных типов,

Издание официзльное Перепечатка воспрещена.
*

© Издательство стандартов, 1988
© Издательство стандартов, 1990
Переиздание с Изменениями

С. 2 ГОСТ 27780—88

1.1.3. Выводы, а также аналоговые входы и выходы микросхемы,
не включенные в измерительную цепь, допускается подключать к
общей шине.

(Baenea дополнительно, Изм. № 2).

.2. Аппаратура

1.2.1. Средства измерений должны соответствовать требо
ниям ГОСТ 22261—82 и требованиям, установленным в настоя-
щем стандарте, При этом для нестандартизованных средств изме-
рений испытания на климатические и механические воздействия,
а также испытания на надежность допускается не проводить.

1.2.2. Для защиты микросхем от перегрузок, возникающих под
действием переходных процессов в цепях коммутации измеритель-
ных установок, статического электричества и паразитного само-
возбуждения, измерительные установки должны быть снабжены
устройствами защиты, исключающими возможность выхода мик-
росхем из строя. Введение устройства защиты не должно приво-
дить к нарушенню режимов и к ‘увеличению установленной по-
грешности измерения,

1.2.3. Коэффициент пульсации источников постоянного напря-
жения (тока) не должен выходить за пределы +1%. Источники
постоянного напряжения (тока) должны обеспечивать н поддер-
живать напряжение (токи) Ha выводах микросхемы с погреш-
ностью в пределах +1%.

1.2.4. Источники переменного и импульсного напряжения (TO-
ка) должны обеспечивать и поддерживать напряжения (токи) на
выводах микросхемы с погрешностью в пределах +5%.

1.2.5. Погрешность измерительных установок должна соответ-
ствовать требованиям, установленным в настоящем стандарте.
В измерительных установках, электрические структурные схемы
которых приведены в настоящем стандарте, допускается допол-
нителько включать или исключать измерительные приборы н дру-
гие элементы, а также изменять места их подключения. Эти уточ-
нения не должны изменять метод и погрешность измерения.

1.2.6. Нестабильность напряжения (тока) источников  пита-
ния, вызванная изменениями напряжения электрической сети и
окружающей температуры, для источников постоянного напряже-
ния (тока) --в пределах +1%, для источников переменного и им-
пульсного напряжения (тока) — в пределах =2%.

1.2.7. Методы измерения электрических параметров микросхем
должны содержать требования к основной погрешности измери-
тельных приборов н (или} установок. Основная погрешность не
должна включать составляющую погрешности, связанную с ди-
станционными измерениями,

Показатели точности измерения

1.3.1. Показатели точности измерения приводят в методах из-

мерения, приведенных в настоящем стандарте.

ТОСТ 27780—88 С, 3

1.3.2, Погрешность измерения включает частные погрешности,
которые рассчитывают по формулам:

3,—ad(*), (1)
4&(хи)
bed ее , (2)

где $, — частная погрешность {-го источника погрешности;

а; — относительный коэффициент влияния;

6, — абсолютный коэффициент влняния;
(x, ея погрешность 1-го источника погрешноети;
A(x, абсолютная погрешность {-го источника погрешности;

у — значение измеряемого параметра,

1.3.3. Коэффициенты влияния определяют аналитически или
экспериментально по зависимостям измеряемого параметра от
параметра t-ro источника погрешности по формулам:

Ay x
чи, ®
м
b= =, (4)

rae А’у, A’x, — приращение соответственно измеряемого парамет-
ра и параметра i-ro источника погрешности (гра-
фически отношение приращений численно равно

тангенсу угла наклона касательной);

Хю , Yo— значение. соответственно параметра {-го источника
погрешности и измеряемого параметра в точке из-
мерения.

При нелннейной зависимости измеряемого параметра от пара-
метра {-го источника погрешности коэффициент влияния опреде-
ляют в точке е наибольшей крутизной.

1.4. Требования безопасности

1.4.1. Общие требования безопасности к проведению измере-
ний параметров коммутаторов и ключей— по ГОСТ 12.3.019—80.

1.4.2. Требовання безопасности при выполнении защитного за-
земления или зануления измерительных установок — по
12.1.030—81.

1.43. Требования безопасности к конструкции измерительных
установок должны соответствовать требованиям, установленным
в ГОСТ 12.2.007.0—75, стандартах или ТУ на приборы н измери-
тельные установки и «Правилах устройства электроустановок»,
утвержденных Госэнергонадзором.

1.4.4. Требования безопасности к конструкции измерительных
установок должны соответствовать требованиям, установленным в
ГОСТ 12.2.007.0—75, стандартах или ТУ на приборы н нзмери-
тельные установки и «Правилах устройства электроустановок»,
утвержденных Госэнергонадзором.