ГОСТ 18683.2-83

ГОСТ 18683.2—83

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ
ЦИФРОВЫЕ

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ
ПАРАМЕТРОВ

Издание официальное

Б3 5—99

ИПК ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ
Москва

УДК 621.3.049.77.083:006.354 Группа 929

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ

МИКРОСХЕМЫ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ ЦИФРОВЫЕ

Методы измерения динамических электрических параметров 18 Peta

Digital integrated circuits.
Methods of measuring dynamic electrical parameters

ОКП 62 3100

Дата введения 01.01.84

Настоящий стандарт распространяется на цифровые интегральные микросхемы (далее —
микросхемы) и устанавливает методы измерения динамических электрических параметров мик-
росхем.

Общие требования при измерении и требования безопасности — по ГОСТ 18683.0.

{Измененная редакция, Изм. № 1, 2).

1. ИЗМЕРЕНИЕ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ ВКЛЮЧЕНИЯ
И ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ ВЫКЛЮЧЕНИЯ

1.1. Измерение слелует проводить на измерительной установке, электрическая структурная
схема которой приведена на черт. 1.
2. Подготовка к измерениям
2.1. Подготавливают измерительную установку к работе.
2.2. Подключают микросхему к измерительной установке.
Проведение измерений
1.3.1. Подают на микросхему напряжение питания от источника (2, входные постоянные
напряжения от источника G/ и входные импульсные напряжения от источника G3, значения которых
установлены в стандартах или технических условиях (лалее — ТУ) на микросхемы конкретных типов.
1.3.2. Интервал времени между входным и выходным импульсами измеряют в соответствии с
черт. 2 при значениях уровней отсчета U,, 45, U;, Uy, указанных в стандартах или ТУ на микросхемы
конкретных типов.

62
Gt D Е
GJ, 62 — источники постоянного напряжения: D— микросхема;
Gz нератор импульсного напряжении: Р — измеритель дина.
мических параметров; Е — эквивалент нагрузки
Черт. 1 63 Р
{Измененная редакция, Изм. № 1).
'Излание официальное Перепечатка воспрешена

© Излательство стандартов, 1983
© ИПК Илзлательство стандартов, 2000

С. 2 ГОСТ 18683.2—83

1 1.4. Показатели точности из-
мерения
ГА 1.4.1. Погрешность измерения времени

задержки включения и времени задержки вы-
ключения должна быть в пределах:

+10 % — ana интегральных микросхем со
средним временем задержки распространения
5 нс и более;

+15 % — лля интегральных микросхем со
средним временем задержки распространения
от 1,0 до 5.0 нс;

+20 % — для интегральных микросхем со
средиим временем задержки распространения
от 1.0 нс и соответствовать установленной в
стандартах или ТУ на микросхемы конкретных
типов.

1.4.2. Доверительную вероятность по-
грешности измерения выбирают из ряда: 0,950;
0.990; 0,997. Конкретное значение доверитель-
ной вероятности устанавливают в стандартах
1 - входное напряжение; 2— выходное наприжение (инверти- или ТУ на микросхемы конкретных типов.
руюшая микросхема: J — выходное напряжение (нениверти 1.4.3. Границы интервала погрешности
руюшая микросхема: Ui, U2. Us, Иа — уровни отчет: 14 — измерения времени задержки включения и вре-
BPEME задержки включения, Гы — премя злержки выключения мени задержки выключения 5 определяют по

Черт. 2 формуле
Sek
7 > :
5=+К
+ a.
3 8 eR: аа а:
+ р + (aoe + Dayz? + Ур + Laser +
rel ы ral ы rat nl
iiss
5 : (ty

: 8 5 5
+ 2 my? В
т, ма мых) (ко $
= vn

„-2
где а, yy, sp, Gy, — относительные коэффициенты влияния соответственно фронта, спада, высоты
и длительности входного импульса на /-м входе на измеряемый параметр;

4), dg — относительные коэффициенты влияния уровня отсчета соответственно на входном и
выходном импульсе на измеряемый параметр;

а; — относительный коэффициент влияния напряжения питания на /-м выводе питания на
измеряемый параметр;

а; — относительный коэффициент влияния постоянного напряжения на /-м входе на измеряе-
мый параметр;

а; — относительный коэффициент влияния параметра &-го элемента нагрузки на измеряемый
параметр;

а, — относительный коэффиниент влияния температуры окружающей среды или температуры
в заданной точке на корпусе (теплоотводе) микросхемы на измеряемый параметр;

Qn относительный коэффициент влияния временной нестабильности сдвига входного им-
пульса на и-м входе относительно входного импульса на у-м входе на измеряемый параметр:

б1,- 5:„. бу, ба, — относительные погрешности установления и поддержания соответственно
фронта, спада, высоты и длительности входного импульса на г-м входе;

ГОСТ 18683.2—83 С. 3

6, бо — относительная погрешность установления и поддержания уровня отсчета соответст
венно на входном и выходном импульсе;

$, — относительная погрешность установления и поддержания напряжения питания на {-м
выводе питания;

5; — относительная погрешность установления и поддержания постоянного напряжения на
J-M входе;

& — относительная погрешность установления и поддержания параметра kro элемента
нагрузки;

5, — относительная погрешность измерителя динамических параметров;

5, — относительная погрешность временной нестабильности фронта (спада) входного импульса;

$т — относительная погрешность установления и поддержания температуры окружающей
среды или температуры в заданной точке на корпусе (теплоотводе) микросхемы;
Sy, — относительная погрешность временной нестабильности сдвига входного импульса на
W-M входе относительно входного импульса на у-м входе;

$, — относительная погрешность, обусловленная неучтенным х-м источником погрешности;

КК. Kars Kip, Kies Kp Kip К, Kgs Ко К» К, Kyo

K,,,, К, — коэффициенты, зависящие от закона распределения соответствующей погрешности
5, bin bon Syn Syn 5, 8, 5 би, Sp, 5,, 5, бт, 5, 6, и доверительной вероятности

J = число выводов питания;

т — число входов, на которые подают постоянное напряжение;

п — число элементов нагрузки;

& — число входов, на которые подают импульсное напряжение.

2. ИЗМЕРЕНИЕ ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛА
ПРИ ВКЛЮЧЕНИИ И ВРЕМЕНИ ЗАДЕРЖКИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ СИГНАЛА
ПРИ ВЫКЛЮЧЕНИИ

1

2.1. Аппаратура — по п. 1.1.

2.2. Подготовка к измерениям —
по п. 1.2. 7)

2.3. Проведение изме-
рений

2.3.1. Подают на микросхему на-
пряжения питания от источника G2 tale
входные постоянные напряжения OT
источника GI, входные импульсные
напряжения от источника G3, значе- y,
ния которых установлены в стандартах t 1h 2
или ТУ на микросхемы конкретных р.
типов.

2.3.2. Интервал времени между 14,
входным и выходным импульсами из-
меряют в соответствии с черт. 3 при
значениях уровней отсчета U), (/,, ука-
занных в стандартах или ТУ на мик- Us
росхемы конкретных типов.

(Измененная редакция, Изм. Z
№ 1).

1- входное напряжение; 2— зыходное напряжение (инвертирующая
2.3.3. (Исключен, Изм. № о. микросхема); J — выходное наприжение (неинвертируюшщая микросхема);
2.4. Показатели точности изме- (у уровни отечета: # М5 — иреми залержки раепространения енгнала
рения — по и. 1.4. при включении: Culp — время задержки распространения сигнала при
выключении

Черт. 3