ГОСТ Р МЭК 62562-2012

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО

                                     ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ



                                                НАЦИОНАЛЬНЫЙ
                                                                                ГОСТ Р м э к
                                                    СТАНДАРТ
                                                  РОССИЙСКОЙ                    62562—
                                                   ФЕДЕРАЦИИ                    2012

                           ГОСУДАРСТВЕННАЯ СИСТЕМА ОБЕСПЕЧЕНИЯ
                                    ЕДИНСТВА ИЗМЕРЕНИЙ
                           Комплексная диэлектрическая проницаемость ди­
                              электрических пластин с малыми потерями
                              Метод измерений в объемном резонаторе

                                                       IEC 62562:2010
                                Cavity resonator method to measure the complex permittivity
                                                 of low-loss dielectric plates
                                                             (IDT)


                                                    Издание официальное




                                                                Москва
                                                            Стандартинформ
                                                                  2014




гигиенический сертификат

ГОСТ Р М Э К 62562— 2012

                                       Предисловие
       1 ПОДГОТОВЛЕН Восточно-Сибирским филиалом Федерального государственного унитарно­
го предприятия «Всероссийский научно-исследовательский институт физико-технических и радиотех­
нических измерений» (Восточно-Сибирский филиал ФГУП «ВНИИФТРИ») на основе собственного
аутентичного перевода на русский язык международного стандарта, указанного в пункте 4

       2 ВНЕСЕН Управлением метрологии Федерального агентства по техническому регулирова­
нию и метрологии, ТК 206

       3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ приказом Федерального агентства по техническому
регулированию и метрологии от 27 ноября 2012 г. Np 12 4 3- ст

       4 Настоящий стандарт идентичен международному стандарту МЭК 62562:2010 «Метод изме­
рения комплексной диэлектрической проницаемости пластин из диэлектрика с малыми потерями с
использованием объемного резонатора» (IEC 62562:2010 «Cavity resonator method to measure the
complex permittivity of low-loss dielectric plates»)
       Наименование настоящего стандарта изменено относительно наименования указанного меж­
дународного стандарта для приведения в соответствие с ГОСТ Р 1.5-2004 (подраздел 3.5)
       Раздел «Содержание» настоящего стандарта изменен относительно содержания междуна­
родного стандарта для приведения в соответствие с ГОСТ Р 1.5-2004 (подраздел 3.4)

      5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ




      Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ Р 1.0—2012 (раздел 8).
Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на
1 января текущего года) информационном указателе кНациональные стандарты», а официальный
текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе «Национальные стан­
дарты». В случав пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее
уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске информационного указателя «Националь­
ные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в
информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства
по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (posf.ru)




                                                                      © Стандартинформ. 2014

       Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и
распространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по
техническому регулированию и метрологии

II

ГОСТ Р М ЭК 62562—2012

            Предисловие к международному стандарту МЭК 62562:2010
       В международном стандарте приведен метод измерений комплексной диэлектрической про­
ницаемости диэлектрических пластин с малыми потерями в объемном резонаторе на частотах мик­
роволнового диапазона. Этот метод был создан для разработки новых материалов и конструирова­
ния активных и пассивных устройств, для которых все более важной становится стандартизация ме­
тодов измерения свойств материалов.




                                                                                            Ill

ГОСТ Р МЭК 62562—2012
 Н А Ц И О Н А Л Ь Н Ы Й           С Т А Н Д А Р Т         Р О С С И Й С К О Й            Ф Е Д Е Р А Ц И И


             ГОСУДАРСТВЕННАЯ СИСТЕМА ОБЕСПЕЧЕНИЯ ЕДИНСТВА ИЗМЕРЕНИЙ

 Комплексная диэлектрическая проницаемость диэлектрических пластин с малыми потерями

                              Метод измерений в объемном резонаторе

                            State system lor ensuring the uniformity ot measurements.
                           Cavity resonator method to measure the complex permittivity
                                            of low-loss dielectric plates


                                                                                   Дата введения —2014—07—01



         1 Область применения
       Настоящий стандарт устанавливает метод измерений комплексной диэлектрической проница­
емости диэлектрических пластин с малыми потерями в объемном резонаторе {далее - резонатор) на
частотах микроволнового диапазона [1] - [3].
       Метод имеет следующие характеристики:
         - относительная диэлектрическая проницаемость е ' и тангенс угла диэлектрических потерь
tg S образца диэлектрической пластины могут быть измерены точно и без разрушения образца [4],
И;
         * может быть измерена температурная зависимость комплексной диэлектрической проницае­
мости;
         - неопределенность измерения не более 0.3 % для относительной диэлектрической проница­
емости £    и не более 5 10 '6 для тангенса утла диэлектрических потерь tg r? ;
       - краевой эффект учитывается применением коррекционных номограмм, рассчитанных на ос­
новании строгих анализов.
       Метод применим для измерений в следующих условиях:
 частота                                                2 ГГц < / < 40 ГГц;
 относительная диэлектрическая проницаемость                          2 < е ' < 100-
 тангенс угла диэлектрических потерь                                  10 6 < tg<!> < 1 0 г.


         2 Измеряемые параметры
         Измеряемые параметры определяют следующим образом;

                                   £ г = £ ’ - j £ ' = D / ( £ qE )                                      (1)


                                            tg S = £ * / £ '                                             (2)


                           TKr. = —-— ■— — —           I0 6    (X A Q -b/K ),                            (3)
                                  s ref T - T ref
где      D - индукция электрического поля:
         E - напряженность электрического поля;
         £ q - диэлектрическая постоянная вакуума;
         £ . £ ’ - действительная и мнимая составляющие комплексной относительной диэлектриче­
ской проницаемости £ г ;
         Т К е - температурный коэффициент относительной диэлектрической проницаемости;


Издание оф ициальное
                                                                                                               1