ГОСТ Р 71584-2024

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО

                        ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ




                                    НАЦИОНАЛЬНЫЙ                        ГОСТ Р
                                         СТАНДАРТ
                                       РОССИЙСКОЙ
                                                                        71584—
                                        ФЕДЕРАЦИИ                       2024




                                 Технологии АЗБ5

                       ПЛАСТИНЫ С КРИСТАЛЛАМ И
                         ЗА КА ЗН Ы Х ЭЛЕМ ЕНТО В

                            Термины и определения



                                    Издание официальное




                                                Москва
                                   Российский институт стандартизации
                                                  2024




скачать ту бесплатно

ГОСТ Р 71584—2024


                                       Предисловие
     1 РАЗРАБОТАН Акционерным обществом «Научно-производственная фирма «Микран»
(АО «НПФ «Микран»), Федеральным государственным бюджетным образовательным учреждением
высшего образования «Томский государственный университет систем управления и радиоэлектрони­
ки» (ФГБОУ ВО «ТУСУР»), Федеральным бюджетным учреждением «Государственный региональный
центр стандартизации, метрологии и испытаний в Томской области» (ФБУ «Томский ЦСМ»)

     2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 328 «Сверхвысокочастотная и силовая
электроника»

     3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому
регулированию и метрологии от 3 сентября 2024 г. № 1161 -ст

    4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ




     Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона
от 29 июня 2015 г. № 162-ФЗ «О стандартизации в Российской Федерации». Информация об из­
менениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего
года) информационном указателе «Национальные стандарты», а официальный текст изменений
и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В случае
пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет
опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя «Национальные
стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в ин­
формационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по
техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.rst.gov.ru)




                                          © Оформление. ФГБУ «Институт стандартизации», 2024

     Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и рас­
пространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническо­
му регулированию и метрологии

ГОСТ Р 71584—2024


                                        Введение
     Установленные в настоящем стандарте термины расположены в систематизированном порядке,
отражающем систему понятий данной области знания.
     Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин.
     Установленные определения можно, при необходимости, изменять по форме изложения, не до­
пуская нарушения границ понятий.

ГОСТ Р 71584—2024


Н А Ц И О Н А Л Ь Н Ы Й            С Т А Н Д А Р Т         Р О С С И Й С К О Й            Ф Е Д Е Р А Ц И И


                                             Технологии АЗВ5

                     ПЛАСТИНЫ С КРИСТАЛЛАМИ ЗАКАЗНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ

                                         Термины и определения

                АЗВ5 technologies. Wafers with crystals of custom elements. Terms and definitions



                                                                                 Дата введения — 2024—12—02



     1 Область применения
      Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий, применяемых в области
разработки и производства пластин полупроводниковых технологий АЗВ5 с кристаллами заказанных
элементов (далее — пластины с заказанными элементами), предназначенных для применения в инте­
гральных микросхемах, многокристальных модулях и микросборках.
      Настоящий стандарт предназначен для применения предприятиями, организациями и другими
субъектами научной и хозяйственной деятельности независимо от форм собственности и подчинения,
а также федеральными органами исполнительной власти Российской Федерации, участвующими в раз­
работке, производстве и применении микросхем в соответствии с действующим законодательством.


     2 Термины и определения
      В настоящем стандарте применены следующие термины с соответствующими определениями:
      1 базовый технологический процесс (базовый процесс): Технологический процесс обработ­
ки полупроводниковых пластин, не изменяемый в течение длительного времени, характеристики кото­
рого описаны в формализованном виде — правилах проектирования.
      П р и м е ч а н и е — Базовый процесс предназначен для изготовления широкой номенклатуры конструктив­
но подобных изделий, имеющих различные функциональные характеристики. Все пластины с кристаллами микро­
схем и с заказанными элементами, изготовленные в одном базовом технологическом процессе, рассматривают
при контроле качества как исполнения одного изделия.
     2 дефект, имеющий точечный характер: Несоответствие, регистрируемое при контроле внеш­
него вида пластины, не допускающее дальнейшего использования отдельного кадра пластины, но не
влияющее на характеристики других кадров.
     3 дефект, имеющий общий характер: Несоответствие, регистрируемое при контроле внешнего
вида пластины, не допускающее или ограничивающее возможности дальнейшего использования пла­
стины с заказанными элементами.
     4 заказанный элемент: Участок пластины, который представляет собой совокупность элемен­
тов интегральной микросхемы, межэлементных соединений и контактных площадок в конфигурации,
определенной заказчиком, предназначенный им для реализации определенных функций и не выде­
ленный, как самостоятельное изделие, с точки зрения требований к испытаниям, приемке, поставке и
эксплуатации.
      П р и м е ч а н и е — Под заказанным элементом понимают участок пластины, предназначенный заказчиком
для использования в качестве кристалла (кристаллов) интегральных микросхем или полупроводниковых приборов,
в том числе тестовых структур одного или нескольких типов.




Издание официальное
                                                                                                              1