Проверяемый статус документов Полнотекстовый поиск Доступ без регистрации

Карточка нормативного документа

ГОСТ Р 59607-2021

Оптика и фотоника. Приемники излучения полупроводниковые. Фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Методы измерений фотоэлектрических параметров и определения характеристик

Просмотреть PDF
Статус не подтверждённа 26.09.2026Перед применением сверяйтесь с официальным источником
Удобное чтениеАбзацы и заголовки без PDF-разрывов

Межгосударственный стандарт

ГОСТ Р 59607-2021

Оптика и фотоника. Приемники излучения полупроводниковые. Фотоэлектрические и фотоприемные устройства. Методы измерений фотоэлектрических параметров и определения характеристик

Optics and photonics. Semiconducting photoelectric detectors. Photoelectric and photoreceiving devices. Methods of measuring photoelectric parameters and determining characteristics

Редакционная карточка ГОСТНОРМ. Полный текст публикуется только при подтверждённом праве использования. Метаданные сверяются по нескольким источникам.

Область применения

Область применения пока не подтверждена.

1

Страница 1

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО

                   ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ




                             НАЦИОНАЛЬНЫЙ                       ГО СТР
                                  СТАНДАРТ
                               РОССИЙСКОЙ
                                                                59607  —


                                 ФЕДЕРАЦИИ                      2021




                           Оптика и фотоника

                    П Р И ЕМ Н И КИ ИЗЛ УЧ ЕН И Я
                     П О Л УП Р О В О Д Н И КО В Ы Е .
         Ф О ТО Э Л Е К ТР И Ч Е С КИ Е И Ф О ТО П Р И Е М Н Ы Е
                            УС ТР О Й С ТВ А

        Методы измерений фотоэлектрических параметров
                 и определения характеристик



                                Издание официальное




                                        Москва
                           Российский институт стандартизации
                                          2021




окпд2

2

Страница 2

ГОСТ Р 59607—2021


                                       Предисловие
     1 РАЗРАБОТАН Федеральным государственным унитарным предприятием «Научно-исследова­
тельский институт физической оптики, оптики лазеров и информационных оптических систем Всерос­
сийского научного центра «Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова» (ФГУП «НИИ-
ФООЛИОС ВНЦ «ГОИ им. С.И. Вавилова») и Акционерным обществом «Научно-производственное
объединение «Орион» (АО «НПО «Орион»)

    2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 296 «Оптика и фотоника»

     3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому ре­
гулированию и метрологии от 12 октября 2021 г. № 1133-ст

    4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ




     Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона
от 29 июня 2015 г. № 162-ФЗ «О стандартизации в Российской Федерации». Информация об из­
менениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего
года) информационном указателе «Национальные стандарты», а официальный текст изменений
и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В случае
пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет
опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя «Национальные
стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в ин­
формационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по
техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.rst.gov.ru)




                                                              © Оформление. ФГБУ «РОТ», 2021

     Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и рас­
пространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническо­
му регулированию и метрологии

3

Страница 3

ГОСТ Р 59607—2021


                                                                      Содержание
1 Область применения............................................................................................................................................ 1
2 Нормативные ссы лки............................................................................................................................................2
3 Термины, определения и сокращ ения..............................................................................................................3
      3.1 Термины и определения .......................................................................................................................3
      3.2 Сокращения ............................................................................................................................................3
4 Методы измерений и определения характеристик........................................................................................ 4
      4.1 Метод измерения темнового, общего тока и фототока фотоэлектрического
          полупроводникового приемника излучения на немодулированном излучении ........................ 4
      4.2 Метод измерения темнового сопротивления фотоэлектрического полупроводникового
          приемника излучения на немодулированном излучении ............................................................... 6
      4.3 Метод измерения дифференциального электрического сопротивления
          фотоэлектрического полупроводникового приемника излучения на немодулированном
          излучении ................................................................................................................................................ 6
      4.4 Метод измерения статической токовой чувствительности фотоэлектрического
          полупроводникового приемника излучения на немодулированном излучении ........................ 8
      4.5 Метод измерения рабочего напряжения лавинного фотодиода на немодулированном
          излучении ................................................................................................................................................ 8
      4.6 Метод измерения коэффициента умножения темнового тока и фототока лавинного
          фотодиода на немодулированном излучении .................................................................................. 9
      4.7 Метод измерения емкости фотоэлектрического полупроводникового приемника
          излучения на немодулированном излучении.................................................................................. 10
      4.8 Метод измерения напряжения (тока) фотосигнала и напряжения (тока) шума
          фотоэлектрического полупроводникового приемника излучения и фотоприемного
          устройства на модулированном излучении .....................................................................................11
      4.9 Метод определения эффективной фоточувствительной площади фотоэлектрического
          полупроводникового приемника излучения и фотоприемного устройства
          на модулированном излучении.......................................................................................................... 14
      4.10 Метод измерения статической чувствительности, порога чувствительности
           и обнаружительной способности фотоэлектрического полупроводникового приемника
           излучения и фотоприемного устройства намодулированном излучении.................................16
      4.11 Метод измерения импульсной вольтовой (токовой) чувствительности
           фотоэлектрического полупроводникового приемника излучения и фотоприемного
           устройства на импульсном потоке ................................................................................................. 17
      4.12 Метод определения собственной постоянной времени, времени нарастания
           и времени спада фотоэлектрического полупроводникового приемника излучения
           и фотоприемного устройства на импульсном потоке ...................................................................19
      4.13 Метод определения вольт-амперной характеристики фотоэлектрического
           полупроводникового приемника изл учения.................................................................................. 20
      4.14 Метод определения плоского угла зрения фотоэлектрического полупроводникового
           приемника излучения и фотоприемного устройства................................................................... 21
      4.15 Метод определения линейной зоны и дифференциальной крутизны координатной
           характеристики координатного фотодиода и фотоприемного устройства .............................22
      4.16 Метод определения временного дрейфа нулевой точки координатного ф отодиода...........23
      4.17 Метод определения коэффициента фотоэлектрической связи многоэлементных
           фотоэлектрического полупроводникового приемника излучения и фотоприемного
           устройства............................................................................................................................................24
      4.18 Метод определения неравномерности чувствительности фотоэлектрического
           полупроводникового приемника излучения и фотоприемного устройства по элементу . . .25
      4.19 Метод определения энергетических характеристик фототока и напряжения
           фотосигнала фотоэлектрического полупроводникового приемника излучения
           и фотоприемного устройства ..........................................................................................................26
      4.20 Метод определения динамического диапазона фотоэлектрического
           полупроводникового приемника излучения и фотоприемного устройства .............................27

4

Страница 4

ГОСТ Р 59607—2021

      4.21 Метод определения частотных характеристик фотоэлектрического полупроводникового
           приемника излучения и фотоприемного устройства, включая статическую
           чувствительность, удельный порог чувствительности, удельную обнаружительную
           способность ....................................................................................................................................... 28
      4.22 Метод определения относительной спектральной характеристики чувствительности
           фотоэлектрического полупроводникового приемника излучения и фотоприемного
           устройства............................................................................................................................................29
      4.23 Метод определения фоновых характеристик фотоэлектрического полупроводникового
           приемника излучения и фотоприемного устройства, включая напряжение (тока) шума,
           напряжения (тока) фотосигнала, вольтовой (токовой) чувствительности, удельной
           обнаружительной способности и удельного порога чувствительности................................... 32
      4.24 Метод определения температурных характеристик (температурной зависимости)
           напряжения (тока) шума, статической вольтовой (токовой) чувствительности, удельного
           порога чувствительности и удельной обнаружительной способности фотоэлектрического
           полупроводникового приемника излучения и фотоприемного устройства .............................34
      4.25 Метод определения времени выхода на режим и времени автономной работы
           охлаждаемых фотоэлектрического полупроводникового приемника излучения
           и фотоприемного устройства ..........................................................................................................36
      4.26 Метод определения нестабильности фотоэлектрических параметров фотоэлектрического
           полупроводникового приемника излучения и фотоприемного устройства .............................38
5 Требования безопасности................................................................................................................................. 38
6 Оформление результатов измерений и определения характеристик..................................................... 39
Приложение А (рекомендуемое) Методика измерения температуры полного излучателя
                (излучателя в виде модели абсолютно черного тела) и ее стабильности................... 40
Приложение Б (справочное) Метод расчета потока излучения ................................................................... 42
Приложение В (рекомендуемое) Методика определения эквивалентной шумовой полосы
                пропускания селективного усилительного и/или измерительного устройства..............45
Приложение Г (рекомендуемое) Метод определения динамического диапазона ................................... 47
Приложение Д (справочное) Примеры расчета погрешностей измерения параметров и определения
                характеристик фотоэлектрического полупроводникового приемника излучения
                и фотоприемного устройства................................................................................................. 48
Библиография.........................................................................................................................................................52




IV
Показаны первые 4 из 60

История статуса

Подтверждённых событий пока нет.