Подбор стандартов

Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Метод измерения разности фаз, вносимой в поляризованное лазерное излучение

Настоящий стандарт устанавливает метод измерения разности фаз, которую вносят штатные оптические элементы лазерных систем в лазерное излучение различных типов: линейное, круговое (циркулярно...

Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Стандартные оптические элементы. Часть 1. Стандартные оптические элементы для лазерного оборудования, работающего в ультрафиолетовой, видимой и ближней инфракрасной областях спектра. Общие технические требования

Настоящий стандарт распространяется на стандартные оптические элементы с плоскими и сферическими поверхностями, включая подложки и линзы (далее – элементы), применяемые в лазерном оборудован...

Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Стандартные оптические элементы. Часть 2. Стандартные оптические элементы для лазерного оборудования, работающего в инфракрасной области спектра. Общие технические требования

Настоящий стандарт распространяется на стандартные оптические элементы с плоскими, плоско-сферическими и сферическими поверхностями, включая подложки и линзы (далее – элементы), применяемые...

Оптика и фотоника. Лазеры полупроводниковые для определения малых концентраций веществ. Методы измерений характеристик

Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые лазеры, используемые для определения малой концентрации веществ, (ППЛ) и устанавливает методы измерений температурной и токовой завис...

Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Методы определения мощности, энергии и временных характеристик лазерного излучения

Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний лазеров, генерирующих непрерывное (далее – непрерывные лазеры) и импульсное (далее – импульсные лазеры) излучение, и методы измерений для оп...

Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Элементы оптические для лазерного оборудования. Методы определения коэффициента зеркального отражения и коэффициента направленного пропускания

Настоящий стандарт распространяется на оптические элементы (далее – элементы), применяемые в лазерном оборудовании, и устанавливает методы определения коэффициента зеркального отражения и ко...

Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 2. Методы измерений аберраций волнового фронта

Настоящий стандарт распространяется на матрицы микролинз с линзами, образованными внутри или на одной, или более поверхностях общей подложки, и устанавливает методы измерений аберраций волно...

Приборы оптоэлектронные. Волстроны. Классификация и система условных обозначений

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые волстроны, применяемые в радиоэлектронной аппаратуре, и устанавливает их классификацию и систему условных обозн...

Приборы фоточувствительные. Классификация и система условных обозначений

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые фоточувствительные приборы, применяемые в радиоэлектронной аппаратуре, и устанавливает их классификацию и систе...

Модуляторы и дефлекторы акустооптические. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые акустооптические модуляторы для амплитудной непрерывной и импульсной модуляции интенсивности лазерного излучени...

Устройства организации комплексов оптоэлектронных локальных сетей. Термины и определения

Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий в области вновь разрабатываемых и модернизируемых устройств организации комплексов оптоэлектронных локальных сетей: автоматизир...

Устройства организации комплексов оптоэлектронных локальных сетей. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые системы и тракты устройств организации комплексов оптоэлектронных локальных сетей (далее – системы и тракты) и...

Заготовки из электрооптических, оптически нелинейных и акустооптических кристаллов для изделий квантовой электроники. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые заготовки из электрооптических, оптически нелинейных и акустооптических кристаллов (далее – заготовки), предназ...

Источники питания твердотельных лазеров. Основные параметры

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые регулируемые и нерегулируемые вторичные источники питания твердотельных лазеров с оптической накачкой от газора...

Источники питания инжекционных лазеров импульсного режима. Основные параметры

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые вторичные источники питания инжекционных лазеров импульсного режима (далее – источники питания), и устанавливае...

Квантроны. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые квантроны и устанавливает состав параметров и типовых характеристик квантронов, подлежащих включению в техничес...

Элементы преобразования частоты лазерного излучения. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые элементы преобразования частоты лазерного излучения (далее – элементы) и устанавливает состав параметров и типо...

Элементы электрооптические для лазерных затворов. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые элементы электрооптические для лазерных затворов (далее - элементы). Настоящий стандарт устанавливает состав па...

Лазеры и излучатели твердотельные на алюмоиттриевом гранате. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые лазеры и излучатели твердотельные на алюмоиттриевом гранате (далее – лазеры и излучатели). Настоящий стандарт у...

Лазеры газовые. Система параметров

Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые атомарные, молекулярные, ионные, на парах металла газовые лазеры импульсного и непрерывного режимов работы (дал...