Найдите ГОСТ по номеру, продукции или словам из названия. Поиск помогает сузить список, но не подтверждает применимость стандарта к вашей продукции.
31 — Электроника. Код ОКС служит для тематической группировки и сам по себе не подтверждает применимость документа.
Разрядники нерезонансные. Система параметров
Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые нерезонансные разрядники (далее – разрядники), применяемые в радиоэлектронной аппаратуре, и устанавливает соста...
Проверка ключевых сведений: 07.11.2026Трубки электронно-лучевые приемные. Система параметров
Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые приемные электронно-лучевые трубки (далее - трубки) и устанавливает состав параметров и типовых характеристик т...
Проверка ключевых сведений: 07.11.2026Приборы электровакуумные и устройства защитные сверхвысокочастотного диапазона. Система условных обозначений
Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые электровакуумные приборы (ЭВП) и защитные устройства сверхвысокочастотного диапазона (СВЧ) (далее – приборы СВЧ...
Проверка ключевых сведений: 07.11.2026Приборы электронно-полупроводниковые. Термины и определения
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные электронно-полупроводниковые приборы, применяемые в радиоэлектронной аппаратуре, и устанавливает термины и определения понятий в облас...
Проверка ключевых сведений: 07.11.2026Приборы газоразрядные. Тиратроны импульсные. Система параметров
Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые импульсные тиратроны (далее – тиратроны), и устанавливает состав параметров и типовых характеристик тиратронов,...
Проверка ключевых сведений: 07.11.2026Микросхемы интегральные. Фильтры. Общие требования при измерении электрических параметров
Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы – фильтры и устанавливает требования, общие для методов измерения электрических параметров дискретно-аналоговых фильтров (ДАФ)
Проверка ключевых сведений: 07.11.2026Микросхемы интегральные. Фильтры. Метод измерения приведенного ко входу напряжения шумов, уровня выходных псофометрических шумов
Настоящий стандарт распространяется интегральные микросхемы – фильтры и устанавливает методы измерения приведенного ко входу напряжения шумов UIN и уровня выходных псофометрических шумов (от...
Проверка ключевых сведений: 07.11.2026Микросхемы интегральные. Фильтры. Метод измерения коэффициента усиления напряжения, коэффициента неравномерности амплитудно-частотной характеристики, коэффициента ослабления напряжения в полосе задерживания
Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы – фильтры и устанавливает метод измерения коэффициента напряжения AU, коэффициента неравномерности амплитудно-частотной характе...
Проверка ключевых сведений: 07.11.2026Микросхемы интегральные. Фильтры. Метод измерения уровня разряда аналогового запоминающего устройства
Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые программируемые дискретно-аналоговые фильтры (ДАФ), включающие в себя сдвиговый регистр кода, регистр селектора...
Проверка ключевых сведений: 07.11.2026Подложки из неорганических диэлектриков. Метод определения предела прочности
Настоящий стандарт распространяется на подложки из ситалла и керамики с номинальными размерами 60Ч48Ч1 мм; 60Ч48Ч0,6 мм (далее – подложки) и устанавливает метод определения предела прочности...
Проверка ключевых сведений: 07.11.2026Керамика вакуумплотная. Метод определения температурного коэффициента линейного расширения
Настоящий стандарт распространяется на вакуумплотную керамику и устанавливает метод определения температурного коэффициента линейного расширения (ТКЛР) в интервале температур от 20 °С до 900...
Проверка ключевых сведений: 07.11.2026