Межгосударственный стандарт
ГОСТ Р МЭК 61193-3-2015
Системы оценки качества. Часть 3. Выбор и использование планов выборочного контроля печатных плат и слоистого материала как конечной продукции, а также во время технологического процесса
Quality assessment systems. Part 3. Selection and use of sampling plans for printed board and laminate end-product and in-process auditing
Редакционная карточка ГОСТНОРМ. Полный текст публикуется только при подтверждённом праве использования. Метаданные сверяются по нескольким источникам.
Область применения
Область применения пока не подтверждена.
1
Страница 1
ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО
ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ
НАЦИОНАЛЬНЫЙ
ГОСТ Р мэк
СТАНДАРТ
РОССИЙСКОЙ
61193-3-
ФЕДЕРАЦИИ 2015
СИСТЕМЫ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА
Ч а с т ь 3
Выбор и использование планов
выборочного контроля печатных плат
и слоистого материала как конечной продукции,
а также во время технологического процесса
(IEC 61193-3:2013, ЮТ)
Издание официальное
М иш
Спмдаушпферн
>911
гигиенический сертификат2
Страница 2
ГОСТ Р МЭК 61193-3 — 2015
Предисловие
1 ПОДГОТОВЛЕН Негосударственным образовательным частным учреждением «Новая инже
нерная школа» (НОЧУ «НИШ») на основе перевода на русский язык англоязычной версии стандарта,
указанного в пункте 4. который выполнен Российской комиссией экспертов МЭК/ТК 91 и Федеральным
государственным унитарным предприятием «Всероссийский научно-исследовательский институт стан
дартизации и сертификации в машиностроении» (ВНИИНМАШ)
2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 420 «Базовые несущие конструкции, пе
чатные платы, сборка и монтаж электронных модулей»
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому регу
лированию и метрологии от 10 ноября 2015 г. No 1742-ст.
4 Настоящий стандарт идентичен международному стандарту МЭК 61193-3:2013 «Системы оцен
ки качества. Часть 3. Выбор и использование планов выборочного контроля печатных плат и слоисто
го материала как конечной продукции, а также во время технологического процесса» (IEC 61193-3:2013
«Quality assessment systems — Part 3: Selection and use of sampling plans for printed board and laminate end-
product and in-process auditing»).
Перечень сокращений, используемых в настоящем стандарте, приведен в дополнительном при
ложении ДА.
При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных междуна
родных стандартов соответствующие им национальные стандарты Российской Федерации и межгосу
дарственные стандарты, сведения о которых приведены в дополнительном приложении ДБ
5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ Р 1.0-2012 (раздел 8). Инфор
мация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января
текущего года) информационном указателе «Национальные стандарты», а официальный текст из
менений и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В
случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление
будет опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя «Националь
ные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в
информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства
по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.gost.ru).
© Стандартинформ. 2016
Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и рас
пространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническому
регулированию и метрологии
II3
Страница 3
ГОСТ Р МЭК 61193-3 — 2015
Содержание
1 Область применения........................................................................................................................................... 1
2 Нормативные ссылки............................................................................ 1
3 Термины и определения......................................................................................................................................1
4 Методологии выборки.................... 3
4.1 Общие положения........................................................................................................................................3
4.2 Планы выборки по свойствам.................... ..............................................................................................3
4.3 Планы нестатистической выборки............................................................................................................. 4
4.4 Планы с показателем с = 0.......................................................................................................................... 5
5 Классификация свойств......................... ............................................................................................................9
5.1 Общие положения.................... 9
5.2 Назначение классификации........................................................................................................................9
5.3 Классификация и обоснование критериев плана выборки.....................................................................11
5.4 Контроль технологического процесса....................................................................................................... 11
6 Оценка дефектов и указателя отклонения от процесса (PDI)........................................................................ 11
6.1 Общие положения.......................................................................................................................................11
6.2 Контроль технологического процесса и требования по улучшению процесса................................... 12
7 Планы контроля..................................................................................................................................................12
7.1 Общие положения....................................................... 12
7.2 Планы выборки с приемочным числом, равным нулю............................................................................12
7.3 Ответственный орган..................................................................................................................................12
7.4 Применение.................................................................................................................................................13
7.5 Планы выборки............................................................................................................................................ 13
7.6 Представление изделия......... .................................................................................................................. 14
8 Классификация дефектов.................................................................................................................................15
8.1 Общие положения...................... 15
8.2 Технические требования заказчика (ТТЗ)................................................................................................. 15
9 Представление дефектов в единицах намиллион..........................................................................................15
9.1 Общие положения............ ...... 15
9.2 Классы дефектов на миллион единиц DPMO........................................................................................ 15
9.3 Оценка дефектов на миллион единиц DPMO..........................................................................................16
9.4 Вычисление DPMO..................................................................................................................................... 16
10 Использование планов выборки..................................................................................................... 17
10.1 Общие положения............................................................................ 17
10.2 Группирование испытаний.......................................................... 17
10.3 Распределение по категориям.......................................................................... 17
10.4 Проверка и контроль в ходе процесса....................................................................................................17
10.5 Методы косвенных измерений.............................................. 18
Приложение А (справочное) Пример согласованного плана выборки для обеспечения
трехуровневого соответствия требованиям МЭК 6 2 3 2 6 -4 ....................................................19
Приложение В (справочное) Пример согласованного плана выборки..........................................................44
Приложение С (справочное) Зависимости и значения рабочих характеристик............................................ 47
Приложение ДА (справочное) Перечень сокращений........................ 55
Приложение ДБ (справочное) Сведения о соответствии ссылочных международных стандартов
национальным стандартамРоссийской Федерации............................................................... 56
Библиография........................................................................................................................................................ 574
Страница 4
ГОСТ Р МЭК 61193-3 — 2015
Введение
Для обеспечения соблюдения требований заказчика важным условием является наличие четких
определений в стандартах и спецификациях МЭК и соответствующих ссылок на планы выборки. Реко
мендуется точно определить все детали по выполнению или согласованию оценки продукции перед от
грузкой. процессов контроля и статистического производственного контроля (SPC) или применимость
использования их принципов в проводимых испытаниях. Общая тенденция этих принципов заключается
в постепенном изучении деталей. По существу иногда их можно рассматривать как логические моры по
улучшению технологического процесса. Данные меры включают в себя:
a) Статистический выборочный метод: где. когда и зачем
- для определения надлежащего количества образцов из конкретной партии продукции и использо
вания статистических методов для оценки наличия отклонений,
b ) Стандарты по бездефектному производству: роль технических требований
- для подтверждения усилий по снижению количества дефектов в производственной партии с ис
пользованием рекомендаций, представленных в стандартах и технических требованиях, определяющих
требования к изделию;
c) Экономика: приемлемый уровень качества (AQL) в зависимости от стоимости дефектов
- для установки более высокого уровня несоответствия продукции, определения затрат при их об
наружении. либо случайной доставке заказчику (цена — качество), создания приемлемой оценки каче
ства и методики снижения частоты этих событий;
d) Ускоренный статистический контроль: правила применения и контроля
- для создания программы контроля технологического процесса на основе критериев отбраковки с
последующим контролируемым экспериментированием с целью совершенствования технологического
процесса, а затем использования статистического анализа с целью подтверждения того, что это совер
шенствование процесса привело к сокращению случаев отбраковки по данным критериям.
Бурное развитие электронной промышленности привело к возникновению ситуации, когда кон
струкция печатных плат и материалы, используемые для производства изделия, являются настолько
сложными, что уровень качества, при котором такие изделия поставляются с известными дефектами,
более неприемлем. Приемлемое число не соответствующих требованиям изделий в контрактах заказ
чик — изготовитель должно стремиться к нулю.
Данное требование привело к разработке новых методов обеспечения качества, таких как приме
нение статистического контроля процессов (SPC). Малое число не соответствующих требованиям из
делий. допускаемое в соответствии с таблицами приемлемого уровня качества AQL. заставило многих
изготовителей вернуться к 100 %-ной (-ому) проверке или контролю.
В то же время идеи обеспечения качества получили столь широкое развитие, что допущение де
фектов стало невозможным, а традиционное использование таблиц AQL все больше сокращается.
IVПоказаны первые 4 из 62
История статуса
Подтверждённых событий пока нет.