ГОСТ Р МЭК 60904-8-2013

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ
                                                РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ



                                                    НАЦИОНАЛЬНЫЙ                   ГОСТР
                                                       СТАНДАРТ
                                                     РОССИЙСКОЙ                    МЭК 60904-8—
                                                      ФЕДЕРАЦИИ                    2013


                                   Государственная система обеспечения
                                           единства измерений

                                   ПРИБОРЫ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ.

                                                 Часть 8.
                                 Измерение спектральной чувствительности
                                       фотоэлектрических приборов
                                                           IEC 60904-8:1998
                                   Photovoltaic devices - Part 8: Measurement of spectral response
                                                     of a photovoltaic (PV) device
                                                                  (IDT)




                                                        Издание официальное




                                                                   Москва
                                                               Стандарти нформ
                                                                    2014




эксклюзивные вязаные кардиганы

ГОСТ Р МЭК 60904-8— 2013
                                           Предисловие

     1 ПОДГОТОВЛЕН на основе аутентичного перевода на русский язык указанного в пункте 4 стан­
дарта. который выполнен Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский
научно-исследовательский институт оптико-физических измерений-* (ФГУП «ВНИИОФИ»)

     2 ВНЕСЕН Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии. Техниче­
ским комитетом по стандартизации ТК 206. ПК 206.10 «Эталоны и поверочные схемы в области опти­
ческих и оптико-физических измерений»

     3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому ре­
гулированию и метрологии от 22 ноября 2013 г.№ 1713-ст

     4 Настоящий стандарт идентичен международному стандарту МЭК 60904-8:1998 Приборы фо­
тоэлектрические. Часть 8. Руководство по измерению спектральной чувствительности фотоэлектри­
ческого прибора (IEC60904-8:1998 ««Photovoltaic devices - Pari 8: Measurement of spectral response of a
photovoltaic (PV) device»)
     Наименование настоящего стандарта изменено относительно наименования указанного между­
народного стандарта для приведения в соответствие с ГОСТ Р 1.5— 2004 (подраздел 3.5).
      При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных между­
народных стандартов соответствующие им национальные стандарты Российской Федерации, сведе­
ния о которых приведены в дополнительном приложении ДА

     5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

       Правила применения настоящ его ста н д а р та установлены в ГОСТ Р 1.0— 2012 (раздел 8).
Информация об изменениях к настоящ ему ста н д а р ту публикуется в ежегодном (по состоянию на
1 января текущ его года) информационном указателе Национальные с та н д а р ты ». а официаль­
ный т е к с т изменений и поправок - в вжвмесяч>юм информационном указатепе <«Национальные
ста н д а р ты -. В случав пересмотра (замены) или отм ены настоящ его ста н д а р та с о о т в е т с т ­
вующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске информационного указателя «На-
циональныв станд арты ». С оо тве тствую щ а я информация, уведомление и т е к с т ы размещ аются
такж е в информационной систем е общего пользования - на официальном са йте Федерального
а ге н тс т в а по техническому регулированию и м етрологии в се ти И н те р н е т (gost.ru)




                                                                              © Стандартинформ. 2014

     Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и
распространен в качестве официального издания на территории Российской Федерации без разре­
шения Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии

ГОСТ Р МЭК 60904-8— 2013

    НАЦИОНАЛЬНЫЙ                        СТАНДАРТ              РОССИЙСКОЙ                    ФЕДЕРАЦИИ

                  Государственная система обеспечения единства измерений
                              ПРИБОРЫ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ.
       Часть 8. Измерение спектральной чувствительности фотоэлектрических приборов

                                Stale system lor ensuring the uniformity o! measurements.
                                               Photovoltaic devices. Part 8.
                                Measurement ol spectral response ot a photovoltac device

                                                                                     Д ата в в е д е н и я — 2015— 07— 01


     1 Область применения
     Настоящий стандарт устанавливает требования к измерениям относительной спектральной чув­
ствительности линейных и нелинейных фотоэлектрических приборов. Настоящий стандарт распро­
страняется только на однопереходные фотоэлектрические приборы.

     2 Нормативные ссылки
     В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты:
     МЭК 60904-1: 1987 Приборы фотоэлектрические. Часть 1: Измерение вольт -амперных характе­
ристик фотоэлектрических приборов
     МЭК 60904-2: 1989 Приборы фотоэлектрические. Часть 2. Требования к эталонным солнечным
элементам
     МЭК 60904-3: 1989 Фотоэлектрические приборы. Часть 3: Измерение характеристик фотоэлек­
трических приборов с учетом стандартной спектральной плотности энергетической освещенности на­
земного солнечного излучения
     МЭК 61646: 1996 Модули фотоэлектрические тонкопленочные для
     наземного применения. Квалификационная оценка конструкции и утверж •
     дение типа

     3 Специальные требования к тонкопленочным приборам
      3.1 Предварительная оценка стабильности
      Перед измерениями спектральных характеристик фотоэлектрических тонкопленочных приборов,
приборы стабилизируют с использованием процедуры тестовой засветки (смотри МЭК 61646).
      3.2 Измерения под белым смещающим излучением
      Измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических тонкопленочных приборов про­
водят под белым смещающим излучением, с относительным спектральным распределением излуче­
ния близким к AM 1,5. Уровень интенсивности излучения подбирают таким образом, чтобы спек­
тральная чувствительность значительно не изменялась при уменьшении смещающего излучения на
50 %.
      3.3 Эффект напряжения
      Применяют следующие термины:
      спектральная чувствительность под нагрузкой (StfA): Плотность тока при определенном на­
пряжении нагрузки, созданная единицей освещенности на данной длине волн А-Вт       как функция
длины волны;
      относительная спектральная чувствительность под нагрузкой, k,S v\: Спектральная чувст­
вительность под нагрузкой как функция длины волны, отнесенная к своему максимальному значению
     к\ S vA= S vA/Si,,vm ai.                                      (1 )
     Спектральную чувствительность фотоэлектрических тонкопленочных приборов измеряют при
эксплуатационном напряжении нагрузки, что отражают в документации.




Издание официальное
                                                                                                                        1

ГОСТ Р МЭК 60904-8— 2013
     4 Измерения относительной спектральной чувствительности

     Относительную спектральную чувствительность фотоэлектрических приборов измеряют с по­
мощью источника излучения состоящего из набора квазимонохроматических компонент, перекры­
вающих рабочий спектральный диапазон исследуемых приборов. Относительную спектральную чув­
ствительность фотоэлектрических приборов определяют по результатам измерений плотности тока
короткого замыкания и освещенности на каждой из рассматриваемых длин волн эталонного фото­
электрического прибора и исследуемого прибора.

     П р и м е ч а н и е - В настоящем стандарте понятия -излучение» и «солнечное излучение» рассмат­
ривают в широком смысле и включают, как видимую часть спектра, так и ультрафиолетовый и инфракрасный
диапазоны.

     В плоскости приемного устройства исследуемого фотоэлектрического прибора и эталонного фо­
тоэлектрического прибора с помощью стабилизированного источника излучения создают однородную
и равномерную освещенность. Значение показаний плотности тока короткого замыкания делят на
значение освещенности или пропорциональный параметр и изображают графически как функцию
длины волны. Если в плоскости фотоэлектрического прибора поддерживают постоянную освещен­
ность. например путем изменения высоты выходной щели монохроматора при изменении длины вол­
ны. относительную спектральную чувствительность определяют непосредственно при считывании
величины показаний плотности тока. Температуру исследуемого фотоэлектрического прибора и эта­
лонного фотоэлектрического прибора контролируют и поддерживают ее постоянное значение.
     В качестве эталонного фотоэлектрического прибора для измерения показаний освещенности
может быть использована вакуумная термопара, пироэлектрический радиометр или другой аналогич­
ный приемник излучения. Может быть использован эталонный фотоэлектрический прибор, относи­
тельная спектральная чувствительность которого включает требуемый спектральный диапазон. В
этом случав, относительную спектральную чувствительность исследуемого прибора k2S3/ рассчиты­
вают по формуле

                              М ы -М и -Н " ,                              (2)
                                            *т Х

     где kxSu - относительная спектральная чувствительность эталонного фотоэлектрического при­
бора на длине волны А;
         I mri - плотность тока короткого замыкания эталонного фотоэлектрического прибора изме­
ренная на длине волны Л;
         1   - плотность тока короткого замыкания исследуемого фотоэлектрического прибора из­
меренная на той же длине волны.
      В процессе подготовки аппаратуры для проведения измерений необходимо:
      • проверять однородность и равномерность освещенности в плоскости приемного устройства
исследуемого фотоэлектрического прибора {однородность и равномерность освещенности очень
важна, когда исследуемый фотоэлектрический прибор и эталонный фотоэлектрический прибор имеют
разные размеры):
      • периодически проверять кривую спектрального коэффициента направленного пропускания
фильтров из набора фильтрового колеса;
      - проверять калибровку нагрузочного резистора и контактного сопротивления;
      - контролировать на каждой исследуемой длине волны линейность зависимости тока короткого
замыкания от интенсивности излучения:
      • проверять, что величина сопротивления нагрузочного резистора минимальна для максималь­
ного приближения к условиям режима короткого замыкания.
      На рисунке А.1 и рисунке А.2 (приложение А) приведены схемы установок для измерений спек­
тральной чувствительности фотоэлектрических приборов. На рисунке А.1 в качестве набора квазимо­
нохроматических компонент потока монохроматического источника излучения используют монохро­
матор с кварцевой призмой. В схеме установи на рисунке А.2 используют набор узкополосных фильт­
ров, далее фильтровое колесо.
      П рим ечани е - В настоящем стандарте термин -монохроматический» означает узкий спек­
тральный диапазон.

2