Проверяемый статус документов Полнотекстовый поиск Доступ без регистрации

Карточка нормативного документа

ГОСТ Р МЭК 60904-7-2013

Государственная система обеспечения единства измерений. Приборы фотоэлектрические. Часть 7. Вычисление поправки на спектральное несоответствие при испытаниях фотоэлектрических приборов

Открыть PDF
Статус не подтверждённа 07.09.2026Перед применением сверяйтесь с официальным источником

Межгосударственный стандарт

ГОСТ Р МЭК 60904-7-2013

Государственная система обеспечения единства измерений. Приборы фотоэлектрические. Часть 7. Вычисление поправки на спектральное несоответствие при испытаниях фотоэлектрических приборов

Редакционная карточка ГОСТНОРМ. Полный текст публикуется только при подтверждённом праве использования. Метаданные сверяются по нескольким источникам.

Область применения

Область применения пока не подтверждена.

1

Страница 1

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО

                                     ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ


                                               НАЦИОНАЛЬНЫЙ
                                                                                ГОСТ Р м э к

                        Ж)
                                                    СТАНДАРТ
                                                  РОССИЙСКОЙ                    60904 7   -   —


                                                   ФЕДЕРАЦИИ                    2013



                               Государственная система обеспечения
                                       единства измерений
                               ПРИБОРЫ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ
                                                         Часть 7

                              Вычисление поправки на спектральное
                        несоответствие при испытаниях фотоэлектрических
                                            приборов

                                                     IEC 60904-7:2008
                            Photovoltaic devices - Part 7: Computation of the spectral mismatch
                                  correction for measurements of photovoltaic devices
                                                             IDT


                                                   Издание официальное




                                                                Москва
                                                            Стандартинформ
                                                                 2014




строительство квартир

2

Страница 2

ГОСТ Р МЭК 60904-7— 2013

                                        Предисловие
      1 ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский
научно-исследовательский институт оптико-физических измерений» (ФГУП «ВНИИОФИ») на основе
аутентичного перевода на русский язык стандарта, указанного в пункте 4

     2 ВНЕСЕН Федеральным агентством по техническому регулированию               и   метрологии.
Техническим комитетом по стандартизации ТК 206 «Эталоны и поверочные схемы»

      3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому
регулированию и метрологии от 8 ноября.2013 г. № 1414-ст

      4 Настоящий стандарт идентичен международному стандарту МЭК 60904-7:2007 «Приборы
фотоэлектрические. Часть 7. Подсчет ошибки из-за спектрального несоответствия при испытаниях
фотоэлектрических приборов» (IEC 60904-7:2008 «Photovoltaic devices - Part 7: Computation of the
spectral mismatch correction for measurements of photovoltaic devices»)
      Наименование настоящего стандарта изменено относительно наименования указанного
международного стандарта для приведения в соответствие с ГОСТ Р 1.5 - 2004 (подраздел 3.5).
      При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных
международных стандартов соответствующие им национальные стандарты Российской Федерации,
сведения о которых приведены в дополнительном приложении ДА.

     5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ



       Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ Р 1.0—2012 (раздел 8).
Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на
1 января текущего года) информационном указателе «Национальные стандарты». а официальный
текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе «Национальные
стандарты». В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта
соответствующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске информационного
указателя «Национальные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты
размещаются также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте
Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет
(gost.ru)




                                                                        ©Стандартинформ, 2014

      Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и
распространен в качество официального издания без разрешения Федерального агентства по
техническому регулированию и метрологии

3

Страница 3

ГОСТ Р МЭК 60904-7—2013

 Н А Ц И О Н А Л Ь Н Ы Й             С Т А Н Д А Р Т         Р О С С И Й С К О Й            Ф Е Д Е Р А Ц И И


                     Государственная система обеспечения единства измерений
                                ПРИБОРЫ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ
                                              Часть 7
                     Вычисление поправки на спектральное несоответствие при
                             испы таниях ф отоэлектрических приборов

 State system for ensuring the uniformity of measurements. Photovoltaic devices. Part 7. Computation of the spectral,
                            mismatch correction for measurements of photovoltaic devices


                                                                                    Дата введения — 2015—07—01



      1 Область применения
      Настоящий стандарт устанавливает методику коррекции систематической ошибки, которая воз­
никает при испытании фотоэлектрических приборов и вызвана, с одной стороны, несоответствием
между спектром излучения, используемого при испытаниях, и стандартным спектром излучения, и. с
другой стороны, несоответствием между спектральной чувствительностью (СЧ) эталонного элемента
и испытуемого образца.
      Настоящий стандарт распространяется только на фотоэлектрические приборы, обладающие
линейной СЧ в соответствии с МЭК 60904-10. Приведенная ниже методика применима только для
однопереходных устройств, хотя ее принцип может быть распространен и на многопереходные.
      Поскольку чувствительность фотоэлектрических (ФЭ) приборов зависит от длины волны, их
эффективность в значительной степени обусловлена спектральным распределением падающего из­
лучения. которое при естественном солнечном свете зависит от многих факторов, таких как местопо­
ложение. погода, время года, время дня. ориентация приемной площадки и т.д., а для имитаторов
зависит от его типа и характеристик. Если уровень энергетической освещенности (ЭО) измеряется с
помощью теплового радиометра (который является спектрально неселективным приемником), или с
помощью эталонного солнечного элемента, должно быть известно спектральное распределение ЭО
падающего излучения для того, чтобы сделать необходимые поправки, и определить эффективность
ФЭ прибора под воздействием стандартного солнечного спектра, определенного в МЭК 60904-3.
      Если для измерения ЭО использованы эталонный ФЭ прибор или тепловой приемник, то далее,
следуя процедуре, изложенной в данном стандарте, можно рассчитать поправку на спектральное
несоответствие, необходимую для получения величины тока короткого замыкания испытуемого ФЭ
устройства в условиях воздействия стандартного солнечного излучения, значения спектральной
плотности энергетической освещенности (СПЭО) которого приведены в таблице 1 документа МЭК
60904-3. или любого другого стандартного спектра. Если эталонный ФЭ прибор имеет такую же отно­
сительную СЧ. что и испытуемый ФЭ прибор, то для излучений разница между реальным спектраль­
ным распределением и стандартным спектральным распределением учитывается автоматически, и
нет необходимости в последующей коррекции спектральной систематической ошибки. В этом случае
местоположение и погодные условия не являются критичными для натурных измерений эффективно­
сти. Аналогично, при идентичных распределениях относительной СЧ спектральный класс имитатора
не является критичным для лабораторных измерений.
      Если известна СПЭО. при которой были измерены характеристики ФЭ прибора, то его ток ко­
роткого замыкания при воздействии излучения с любой другой СПЭО может быть рассчитан с ис­
пользованием относительной СЧ этого ФЭ прибора.

     2 Нормативные ссылки
      В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на приведенные ниже стандарты.
Для датированных ссылок применяют только указанное издание. Для недатированных ссылок приме­
няют последнее издание указанного документа (со всеми поправками).
      МЭК 60891:2008 Приборы фотоэлектрические. Методики коррекции по температуре и энергети­
ческой освещенности результатов измерения вольт-амперной характеристики

Издание оф ициальное
                                                                                                                        1

4

Страница 4

ГОСТ Р МЭК 60904-7—2013

       МЭК 60904-1:2006 Приборы фотоэлектрические. Часть 1. Измерение вольт-амперных характе­
ристик
       МЭК 60904-2:2007 Приборы фотоэлектрические. Часть 2. Требования к эталонным солнечным
приборам
       МЭК 60904-3:2008 Приборы фотоэлектрические. Часть 3. Измерение характеристик фотоэлек­
трических преобразователей с учетом стандартной спектральной плотности энергетической осве­
щенности наземного солнечного излучения
       МЭК 60904-8:1998 Приборы фотоэлектрические. Часть 8. Измерение спектральной чувстви­
тельности фотоэлектрического прибора
       МЭК 60904-9:2007 Приборы фотоэлектрические. Часть 9. Требования к характеристикам имита­
торов солнечного излучения
       МЭК 60904-10:2010 Приборы фотоэлектрические. Часть 10. Методы измерения линейности
       МЭК 61215:2005 Наземные фотоэлектрические модули из кристаллического кремния. Требова­
ния к конструкции и подтверждение соответствия
       МЭК 61646:2008 Наземные фотоэлектрические модули на основе технологии тонких пленок.
Аттестация конструкции и утверждение типа

       П р и м е ч а н и е - При пользовании настоящим стандартом целесообразно проверить действие ссы­
лочных стандартов в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального
агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет или по ежегодному информационному
указателю «Национальные стандарты», который опубликован по состоянию на 1 января текущего года, и по вы­
пускам ежемесячного информационного указателя «Национальные стандарты» за текущий год Если заменен
ссылочный стандарт, на который дана недатированная ссылка, то рекомендуется использовать действующую
версию этого стандарта с учетом всех внесенных в данную версию изменений. Если заменен ссылочный стан­
дарт. на который дана датированная ссылка, то рекомендуется использовать версию этого стандарта с указан­
ным выше годом утверждения (принятия). Еспи после утверждения настоящего стандарта в ссылочный стан­
дарт. на который дана датированная ссылка, внесено изменение, затрагивающее положение, на которое дана
ссылка, то это положение рекомендуется применять без учета данного изменения. Если ссылочный стандарт
отменен без замены, то положение, в котором дана ссылка на него, рекомендуется применять в части, не затра­
гивающей эту ссыпку.

      3 Описание метода
      Форма вольтампорной характеристики (ВАХ) многих ФЭ приборов зависит от величины тока ко­
роткого замыкания и температуры прибора, но не зависит от спектрального распределения излуче­
ния. вызвавшего ток короткого замыкания. Для таких приборов поправка, связанная с несоответстви­
ем спектров излучения или несоответствием СЧ. может быть определена по нижеизложенной мето­
дике. Для других приборов ВАХ измеряют с помощью источников излучения с надлежащим спектром.
      Поправка не требуется в том случае, если спектр излучения идентичен стандартному спектру
(см. МЭК 60904-3). или если относительная СЧ испытуемого образца идентична относительной СЧ
эталонного элемента. В этом случае сигнал эталонного элемента указывает на интенсивность стан­
дартного спектра, которая вызовет тот же ток короткого замыкания испытуемого прибора, что был
вызван спектром, использованным при испытаниях.
      При наличии несоответствия как в спектрах излучения, так и в спектральных чувствительностях
вычисляют поправку на несоответствие.
      Из-за несоответствия спектров излучения и спектров СЧ сигнал эталонного элемента (см. МЭК
60904-2) не выдает значения ЭО стандартного спектра, которое вызовет измеренное значение тока
короткого замыкания испытуемого прибора. Необходимо определить эффективную ЭО стандартного
спектра      , которая вызовет тот же ток короткого замыкания испытуемого прибора, что вызывает
используемый спектр излучения

                                             G ^ = M M G ......                                         (1)


где  G„w - значение ЭО. измеренное эталонным прибором со спектральной чувствительностью s3(>.),
     а ММ - коэффициент спектрального несоответствия, определенный в Разделе 7 настоящего
     стандарта.
     Возможны два метода учета поправки для приведения измерений к стандартной СПЭО:
     Если есть возможность, подстраивают интенсивность имитатора так. чтобы эффективная ЭО.
определенная формулой (1). равнялась стандартной ЭО G3 (т.е. 1000 ВтУм2, как указано в МЭК 61215
и МЭК 61646).

2
Показаны первые 4 из 11

История статуса

Подтверждённых событий пока нет.