ГОСТ Р МЭК 60891-2013

Ф ЕД ЕРАЛЬ Н О Е АГЕН ТС ТВО ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ
                                                РЕГУЛИРО ВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ



                                                  НАЦИОНАЛЬНЫЙ                     ГОСТ Р м э к
                                                     СТАНДАРТ
                                                   РОССИЙСКОЙ                      60891      —

                                                    ФЕДЕРАЦИИ                      2013

                                Государственная система обеспечения
                                        единства измерений

                                ПРИБОРЫ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ
                                         Методики коррекции
                            по температуре и энергетической освещенности
                                результатов измерения вольт-амперной
                                           характеристики


                                                         IEC 60891:2009
                                Photovoltaic devices - Procedures for temperature and irradiance
                                           corrections to measured l-V characteristics

                                                               (IDT)




                                                     И здание оф и ц иа л ьн о е




                                                        -"1        Москва
                                                        •К ]   Стандарты нформ
                                                        —J         2014




испытательная лаборатория

ГО С Т Р МЭК 60891— 2013

                                        Предисловие
     1 ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский
научно-исследовательский институт оптико-физических измерений» (ФГУП «ВНИИОФИ») на основе
аутентичного перевода на русский язык стандарта, указанного в пункте 4

     2 ВНЕСЕН Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии. Техниче­
ским комитетом по стандартизации ТК 206 «Эталоны и поверочные схемы»

     3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому ре­
гулированию и метрологии от 22 ноября 2013 г. № 1757-ст

      4 Настоящий стандарт идентичен международному стандарту МЭК 60891:2009 «Приборы
фотогальванические. Методики коррекции по температуре и освещенности результатов измерения
вольт-амперной характеристики» (IEC 60891:2009 «Photovoltaic devices - Procedures for temperature
and irradiance corrections to measured l-V characteristics»)
      Наименование настоящего стандарта изменено относительно наименования указанного между­
народного стандарта для приведения в соответствие с ГОСТ Р 1.5 - 2004 (подраздел 3.5).
      При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных мехщу-
народных стандартов соответствующие им национальные стандарты Российской Федерации, сведе­
ния о которых приведены в дополнительном приложении ДА

     5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

     Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ Р 1.0—2012 (раздел 8).
Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на
1 января текущего года) информационном указателе «Национальные стандарты», а официаль­
ный текст изменений и поправок - в ежемесячном информационном указателе «Национальные
стандарты». В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответст­
вующее уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске информационного указателя «На­
циональные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются
также в информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федералыюго
агентства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (gost.ru)




                                                                        © Стандартинформ. 2014

     Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и
распространен в качестве официального издания на территории Российской Федерации без разре­
шения Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии

ГОСТ Р МЭК 60891—2013

     Н А Ц И О Н А Л Ь Н Ы Й           С Т А Н Д А Р Т       Р О С С И Й С К О Й          Ф Е Д Е Р А Ц И И

                 Го суд а р стве н н а я си сте м а об е спечен и я ед и н ств а изм ерений
                                  ПРИБО РЫ ФО ТО ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ
                                            М етод ики ко р р е кц и и
 по тем пературе и эне р ге ти че ско й о св е щ ен н ости ре зул ьтато в и зм ер ени я в о л ьт-а м п е р н о й ха ­
                                                ра кте ри стики

                              State system for ensuring the uniformity of measurements.
Photovoltaic devices. Procedures for temperature and irradiance corrections to measured current voltage characteristics

                                                                                     Дата введения — 2015—07—01

      1 Область применения
     Настоящий стандарт устанавливает методики коррекции по температуре и энергетической ос­
вещенности результатов измерения вольт - амперных характеристик (ВАХ) фотоэлектрических при­
боров. Стандарт также устанавливает методики определения параметров, используемых при данной
коррекции. Требования к измерению ВАХ фотоэлектрических приборов изложены в МЭК 60904-1.

      П рим ечания:
      1 К фотоэлектрическим приборам относят единичный солнечный элемент с защитным покрытием или без,
сборка солнечных элементов и модуль. Для разных типов приборов применяются различные наборы параметров
коррекции ВАХ. Несмотря на то. что температурные коэффициенты для модуля (или сборки элементов) могут
быть вычислены из результатов измерений единичного элемента, следует отметить, что для модуля и сборки
элементов должны быть отдельно измерены внутреннее последовательное сопротивление и коэффициент кор­
рекции кривой.
      2 Термин «испытуемый образец» используют применительно к любому из этих приборов.
      3 При использовании параметров коррекции ВАХ следует учитывать, что эти параметры являются верны­
ми для того фотоэлектрического прибора, для которого они были измерены. Для изделий одной партии или из­
делий одного типа их значения могут быть разными.

      2 Нормативные ссылки
     Международные стандарты, на которые приведены ссылки, являются обязательными для приме­
нения настоящего стандарта. В отношении датированных ссылок действительно только          указанное
издание. В отношении недатированных ссылок действительно последнее издание публикации
(включая любые изменения), на которую дается ссылка.
     МЭК 60904-1:2006 Приборы фотоэлектрические. Часть 1. Измерение вольт-амлврных характеристик
     МЭК 60904-2:2007 Приборы фотоэлектрические. Часть 2. Требования к эталонным солнечным приборам
     МЭК 60904-7: 2008 Приборы фотоэлектрические. Часть 7. Расчет поправки на спектральное не­
соответствие при измерениях фотоэлектрических приборов
     МЭК 60904-9: 2007 Приборы фотоэлектрические. Часть 9. Требования к характеристикам имита­
торов солнечного излучения
     МЭК 60904-10: 2009 Приборы фотоэлектрические. Часть 10. Методы измерения линейности

      3 Методики коррекции
     3.1 О бщие п о л о ж ен и я
     Для коррекции результатов измерений ВАХ к другим условиям по температуре и энергетической
освещенности, например к стандартным условиям испытаний (СУИ), могут быть использованы сле­
дующие три методики. Первая совпадает с методикой, которая изложена в первой редакции настоя­
щего стандарта (МЭК 891:87), отличие состоит в более удобной форме записи ее уравнений. Вторая
методика является альтернативной методу алгебраической коррекции, который дает хорошие ре­
зультаты при больших (>20 %) поправках на энергетическую освещенность. Реализация каждой из
двух методик требует знания параметров фотоэлектрического прибора, которые необходимо опреде­
лить до проведения коррекции. Третья методика представляет собой процедуру интерполяции и не
требует знания параметров коррекции. Методику можно применять, если измерены, по меньшей мере.

И здание оф и ц и а л ьн о е
                                                                                                                        1

ГО С Т Р МЭК 60891—2013
три кривые ВАХ испытуемого прибора. Эти три ВАХ охватывают диапазон температур и энергетиче­
ских освещенностей, в котором применима данная методика.
      Все методы применимы к приборам с линейной характеристикой тока короткого замыкания со­
гласно определению, изложенному в МЭК 60904-10.

      П рим ечания:
      1 Для проводимых при коррекции ВАХ преобразований требуется оценка точности нахождения преобра­
зованной ВАХ при выполнении коррекции (см. раздел 7).
     2 Все фотоэлектрические приборы должны обладать линейными характеристиками в ограниченном диапа­
зоне значений энергетической освещенности и температуры прибора. Детальное описание приведено в МЭК
61853-1.

     Общим требованием для реализации всех методик является измерение ВАХ в соответствие с
МЭК 60904-1.
     Энергетическую освещенность G. как правило, вычисляют по измеренному току короткого замы­
кания 1 „л эталонного фотоэлектрического прибора, в соответствии с МЭК 60904-2 и его калибровоч­
ному значению /,лСУИ з. при стандартных условиях испытаний (СУИ). Для учета температуры 7, эта­
лонного прибора требуется введение поправки, содержащей специфический относительный темпера­
турный коэффициент эталонного прибора (ъ П ^ С ), который задается при 2 5 Х и 1000 Вт/м2.




     Спектральная характеристика эталонного фотоэлектрического прибора должна соответствовать
испытуемому образцу. В противном случае должен быть выполнен расчет поправки на спектральное
несоответствие согласно МЭК 60904-7. Во всем представляющем интерес диапазоне энергетической
освещенности эталонный прибор должен иметь линейную характеристику тока короткого замыкания,
определяемую в соответствии с МЭК 60904-10.
     3.2 М етодика ко р р е кц и и 1
     Коррекцию измеренной ВАХ для приведения к СУИ или другим выбранным значениям темпера­
туры и энергетической освещенности выполняют с применением следующих уравнений преобразова­
ния:


                                                                                         ( 1)



                                                                                                (   2)

     где Л. У) - координаты точек на измеренной характеристике;
     l2, V2 - координаты соответствующих точек на скорректированной характеристике;
     G, - энергетическая освещенность, измеренная эталонным прибором;
     G2 - энергетическая освещенность при СУИ или другая требуемая энергетическая освещенность:
     Ft - измеренная температура испытуемого образца;
     Т2 - температура при СУИ или другая требуемая температура;
     /к, - ток короткого замыкания испытуемого образца, измеренный при G, и Г,;
     а и /3 - температурные коэффициенты тока и напряжения испытуемого образца в представляю­
щем интерес температурном диапазоне для энергетической освещенности при СУИ или другой за­
данной энергетической освещенности;
     Rn - внутреннее последовательное сопротивление испытуемого образца;
     к - коэффициент коррекции кривой.

      П рим ечания:
      1 Поскольку при переходе от меньшего значения энергетической освещенности к большему точка на оси
токов, изображающая напряжение холостого хода U „i , сместится с оси токов, следует определить смещенное
значение U„2 путем линейной экстраполяции с использованием, по меньшей мере, трех экспериментальных то­
чек. расположенных вблизи и ниже точки (Ли- Другим способом является измерение исходной ВАХ достаточно
далеко за пределами значения (Ли.
      2 Размерности всех параметров коррекции должны быть согласованы.
      3 Если испытуемый образец представляет собой модуль, параметры коррекции ВАХ элемента могут быть
найдены из схемы соединения элементов. Параметры коррекции ВАХ элемента могут быть использованы для
расчета параметров коррекции ВАХ других модулей, использующих такие же элементы.
2