Межгосударственный стандарт
ГОСТ Р МЭК 60793-1-49-2014
Волокна оптические. Часть 1-49. Методы измерений и проведение испытаний. Дифференциальная задержка мод
Редакционная карточка ГОСТНОРМ. Полный текст публикуется только при подтверждённом праве использования. Метаданные сверяются по нескольким источникам.
Область применения
Область применения пока не подтверждена.
1
Страница 1
ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО
ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ
НАЦИОНАЛЬНЫЙ
ГОСТ Р м э к
СТАНДАРТ
РОССИЙСКОЙ 60793 1 49
- - —
ФЕДЕРАЦИИ 2014
ВОЛОКНА ОПТИЧЕСКИЕ
Ч а с т ь 1 -4 9
Методы измерений и проведение испытаний.
Дифференциальная задержка мод
IEC 60793-1-49:2006
Optical fibres- Part 1-49:
Measurement methods and test procedures — Differential mode delay
(IDT)
Издание официальное
Москва
Стандартинформ
2015
скатерти интернет магазин2
Страница 2
ГОСТ Р МЭК 60793-1-49—2014
Предисловие
1 ПОДГОТОВЛЕН Открытым акционерным обществом «Всерос-сийский научно-
исследовательский. проектно конструкторский и технологический институт кабельной промышленно
сти» (ОАО «ВНИИКП») на основе собственного аутентичного перевода на русский язык международ
ного стандарта, указанного в пункте 4
2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 46 «Кабельные изделия»
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому ре
гулированию и метрологии от 18 сентября 2014 г. Np 1116-ст
4 Настоящий стандарт идентичен международному стандарту МЭК 60793-1-49 (2006) «Волокна
оптические. Часть 1-49. Методы измерений и проведение испытаний. Дифференциальная модовая
задержка» (IEC 60793-1-49:2006 «Optical fibres — Рал 1-49: Measurement methods and test procedures
— Differential mode delay»).
При применении настоящего стандарта рекомендуется использо вать вместо ссылочных меж
дународных стандартов соответствующие им национальные стандарты Российской Федерации, све
дения о кото-рых приведены в дополнительном приложении ДА
5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
6 Некоторые положения международного стандарта, указанного в пункте 4, могут являться объ
ектами патентных прав. Международная электротехническая комиссия (МЭК) не несет ответственно
сти за идентификацию подобных патентных прав
Правила применения настоящего стандарта установлены в ГОСТ Р 1.0—2012 (раздел 8).
Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на
1 января текущего года) информационном указателе «Национальные стандарты», а официальный
текст изменений и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стан
дарты». В случае пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее
уведомление будет опубликовано в ближайшем выпуске информационного указателя «Националь
ные стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в
информационной системе общего пользования - на официальном сайте Федерального агентства
по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (gost.ru)
© Стандартинформ. 2015
В Российской Федерации настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспро
изведен. тиражирован и распространен в качестве официального издания без разрешения Феде
рального агентства по техническому регулированию и метрологии3
Страница 3
ГОСТ Р МЭК 60793-1-49—2014
Содержание
1 Область применения...........................................................................................................................................1
2 Нормативные ссылки...........................................................................................................................................2
3 Термины и определения................................................................... 2
4 Оборудование...................................................................................................................................................... 2
4.1 Оптический источник................................................................................................................................... 2
4.2 Устойчивость образца................................................................ 3
4.3 Система ввода излучения...........................................................................................................................3
4.4 Система детектирования............................................................................................................................ 3
4.5 Вычислительное оборудование.................................................................................................................4
5 Отбор и подготовка образцов............................................................................................................................4
5.1 Испытуемый образец.................................................................................................................................. 4
5.2 Торцевые поверхности образца................................................................................................................ 4
5.3 Длина образца................................. 4
5.4 Установка образца..................... 4
5.5 Позиционирование образца........................................................................................................................4
6 Проведение испытания...................................................................................................................................... 5
6.1 Настройка и измерение отклика системы................................................................................................5
6.2 Настройка системы детектирования......................................................................................................... 5
6.3 Измерение на испытуемом образце.........................................................................................................5
7 Расчеты и интерпретация результатов........................................................................................................... 6
7.1 Дифференциальная задержка мод (DMD)...............................................................................................6
7.2 Минимальное расчетное значение эффективной модовой ширины полосы пропускания............. 6
7.3 Нормирование длины.................................................................................................................................. 8
8 Документация....................................................................................................................................................... 8
9 Информация в технических условиях............................................ 8
Приложение А (справочное) Ограничение ширины спектраисточника.......................................................... 9
Приложение В (справочное) Обсуждение подробностейизмерения............................................................12
Приложение С (справочное) Определение весовых коэффициентов DMD для расчета ЕМВс............. 15
Приложение D (справочное) Информация по расчету ЕМВс........................................................................ 17
Приложение Е (справочное) Сравнение между настоящим стандартом и рекомендациями
Международного союза электросвязи................................................................................... 20
Приложение ДА (справочное) Сведения о соответствии ссылочных международных стандартов
ссылочным национальным стандартам Российской Федерации..................................... 21
Библиография....................................................................................................................................................... 22
III4
Страница 4
ГОСТ Р МЭК 60793-1-49—2014
Н А Ц И О Н А Л Ь Н Ы Й С Т А Н Д А Р Т Р О С С И Й С К О Й Ф Е Д Е Р А Ц И И
ВОЛОКНА ОПТИЧЕСКИЕ
Часть 1-49
Методы измерений и проведение испытаний.
Дифференциальная задержка мод
Optical fibres. Part 1-49. Measurement methods and test procedures.
Differential mode delay
Дата введения — 2016—01—01
1 Область применения
Настоящий стандарт распространяется только на многомодовые градиентные волокна (далее —
волокна) со стеклянной сердцевиной (категория А1). Данный метод испытания обычно используют в
производственных и исследовательских помещениях, применение его в полевых условиях затрудни
тельно.
В настоящем стандарте описан метод получения характеристик модовой структуры градиентно
го многомодового волокна. Данная информация полезна для оценки характеристик полосы пропуска
ния волокна, особенно в случае волокон, предназначенных для применения при разных условиях
возбуждения, например производимых нормированными лазерными передатчиками.
При данном методе свет на выходе волокна, которое является одномодовым, с длиной волны,
на которой проводят испытание, возбуждает испытуемое волокно. Измерительное пятно сканируют
через торцевую поверхность испытуемого волокна и задержку оптического импульса определяют для
заданных положений смещения.
От одних и тех же данных могут быть получены два результата. Во-первых, может быть опреде
лена разница во времени задержки оптического импульса между самой быстрой и самой медленной
модовыми группами испытуемого волокна. Лицо, проводящее измерение, указывает верхнюю и ниж
нюю границы положений радиальных сдвигов в пределах, в которых измерительное волокно сканиру
ется с целью определения желаемых границ модальной структуры. Данные дифференциальной за
держки мод (DMD) затем сравнивают со значениями DMD. указанными в технических условиях, кото
рые были определены путем моделирования и проведения экспериментов с целью соответствия ми
нимальному значению эффективной модовой ширины полосы пропускания (ЕМВ) для диапазона пе
редатчиков. Во-вторых, формы оптических импульсов могут объединяться с использованием специ
альных весовых коэффициентов для определения расчетного значения эффективной модовой шири
ны полосы пропускания (ЕМВс). и, путем расчета последовательности значений ЕМВс разными набо
рами весовых коэффициентов в соответствии с диапазоном передатчиков, может быть рассчитано
минимальное значение ЕМВс.
Данное испытание позволяет оценить результаты взаимовлияний между модовой структурой
волокна и модовыми характеристиками источника, за исключением взаимосвязей между спектраль
ными характеристиками источника и хроматической дисперсией волокна. Добавление влияния хрома
тической дисперсии и ширины спектра источника приведет к уменьшению общей ширины полосы
пропускания, но для этого проводят отдельные расчеты для большинства моделей передачи сигнала.
В данном испытании влияние ненулевой ширины спектра минимизировано, но любой остаточный
эффект приводит к увеличению значения DMD и уменьшению значения ЕМВс.
Издание официальное
1Показаны первые 4 из 27
История статуса
Подтверждённых событий пока нет.