Межгосударственный стандарт
ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-3-2011
Карты идентификационные. Методы испытаний. Часть 3. Карты на интегральных схемах с контактами и связанные с ними устройства сопряжения
Identification cards. Test methods. Part 3. Integrated circuit cards with contacts and related interface devices
Редакционная карточка ГОСТНОРМ. Полный текст публикуется только при подтверждённом праве использования. Метаданные сверяются по нескольким источникам.
Область применения
Область применения пока не подтверждена.
1
Страница 1
ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО
ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ
НАЦИОНАЛЬНЫЙ ГОСТ Р исо/мэк
СТАНДАРТ
РОССИЙСКОЙ
10373 3 - -
ФЕДЕРАЦИИ
2011
КАРТЫ ИДЕНТИФИКАЦИОННЫЕ
Методы испытаний
Часть 3
Карты на интегральных схемах с контактами
и связанные с ними устройства сопряжения
ISO/IEC 10373-3:2010
Identification cards — Test methods —
Part 3: Integrated circuit cards with contacts and related interface devices
(IDT)
Издание официальное
Москва
Стандартинформ
2013
жакет схема2
Страница 2
ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-3—2011
Предисловие
Цели и принципы стандартизации в Российской Федерации установлены Федеральным законом
от 27 декабря 2002 г. № 184-ФЗ «О техническом регулировании», а правила применения национальных
стандартов Российской Федерации — ГОСТ Р 1.0—2004 «Стандартизация в Российской Федерации.
Основные положения»
Сведения о стандарте
1 ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский
научно-исследовательский институт стандартизации и сертификации в машиностроении»
(ВНИИНМАШ) и Техническим комитетом по стандартизации ТК 22 «Информационные технологии» на
основе собственного аутентичного перевода на русский язык стандарта, указанного в пункте 4
2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 22 «Информационные технологии»
3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому
регулированию и метрологии от 13 декабря 2011 г. Np 1007-ст
4 Настоящий стандарт идентичен международному стандарту ИСО/МЭК 10373-3:2010 «Карты
идентификационные. Методы испытаний. Часть 3: Карты на интегральных схемах с контактами и свя
занные с ними устройства сопряжения» (ISO/IEC 10373-3:2010 «Identification cards — Test
methods — Part 3: Integrated circuit cards with contacts and related interface devices»).
При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных между
народных стандартов соответствующие им национальные стандарты Российской Федерации, сведе
ния о которых приведены в дополнительном приложении ДА
5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ
6 Некоторые положения международного стандарта, указанного в пункте 4. могут являться объ
ектами патентных прав. Международная организация по стандартизации (ИСО) и Международная
электротехническая комиссия (МЭК) не несут ответственности за идентификацию подобных патентных
прав
Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодно издаваемом
информационном указателе «Национальные стандарты». а текст изменений и поправок — в еже
месячно издаваемых информационных указателях «Национальные стандарты». В случае пере
смотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет
опубликовано в ежемесячно издаваемом информационном указателе «Национальные стандарты».
Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в информационной
системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по техническому
регулированию и метрологии в сети Интернет
© Стандартинформ. 2013
Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и рас
пространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническо
му регулированию и метрологии3
Страница 3
ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-3—2011
Содержание
1 Область применения......................................................................................................................................... 1
2 Нормативные ссылки......................................................................................................................................... 1
3 Термины и определения...................................................................................................................................2
4 Общие понятия, относящиеся к методам испы таний................................................................................. 2
4.1 Внешние условия при испытаниях..........................................................................................................2
4.2 Предварительное кондиционирование................................................................................................ 2
4.3 Выбор метода испытаний......................................................................................................................... 2
4.4 Допускаемые отклонения......................................................................................................................... 2
4.5 Суммарная погрешность изм ерения.....................................................................................................2
4.6 Соглашения по электрическим и зм е р е ния м ....................................................................................... 3
4.7 Оборудование............................................................................................................................................ 3
4.7.1 Оборудование для испытаний карт на интегральных схемах с контактами
(испытательное оборудование)............................................................................................................. 3
4.7.2 Оборудование для испытаний устройства сопряжения (испытательное оборудование
для IF D ) ......................................................................................................................................................6
4.7.3 Сценарий испытаний................................................................................................................... 10
4.8 Взаимосвязь методов испытаний с требованиями базовых с та н д а р то в ..................................... 10
5 Методы испытаний электрических характеристик карт с контактами.....................................................12
5.1 Контакт V C C ............................................................................................................................................ 12
5.1.1 Оборудование................................................................................................................................12
5.1.2 Методика.................................................................. 12
5.1.3 Отчет об испытаниях................................................................................................................... 13
5.2 Контакт I / O ................................................................................................................................................13
5.2.1 Оборудование................................................................................................................................13
5.2.2 Методика......................................................................................................................................... 13
5.2.3 Отчет об испытаниях................................................................................................................... 14
5.3 Контакт C L K ............................................................................................................................................ 14
5.3.1 Оборудование................................................................................................................................14
5.3.2 Методика......................................................................................................................................... 14
5.3.3 Отчет об испытаниях ....................................................................................................................15
5.4 Контакт R S T ............................................................................................................................................ 15
5.4.1 Оборудование...............................................................................................................................15
5.4.2 Методика......................................................................................................................................... 15
5.4.3 Отчет об испытаниях................................................................................................................... 16
5.5 Контакт SPU (С6)...................................................................................................................................... 16
6 Методы испытаний логических операций карт с контактами.................................................................... 16
6.1 Ответ-на-Восстановление...................................................................................................................... 16
6.1.1 «Холодное» восстановление и Ответ-на-Восстановление (A T R )........................................ 16
6.1.2 «Теплое» восстановление..........................................................................................................16
6.2 Протокол Т = 0 ......................................................................................................................................... 17
6.2.1 Синхронизация передачи I/O для протокола Т = 0 ............................................................... 17
6.2.2 Повторение знака I/O для протокола Т = 0 ..............................................................................17
6.2.3 Синхронизация приема I/O и сигнализация об ошибке для протокола Т = 0 ................... 17
6.3 Протокол Т = 1 ......................................................................................................................................... 18
6.3.1 Синхронизация передачи I/O для протокола Т = 1 ............................................................... 18
6.3.2 Синхронизация приема I/O для протокола Т = 1 .................................................................... 19
6.3.3 Характер изменения времени ожидания знака {CWT) к а р т ы ...............................................19
6.3.4 Реакция карты на превышение IFD времени ожидания знака (CW T)................................20
6.3.5 Разграничительный интервал блока (B G T )..............................................................................20
6.3.6 Упорядочение блоков в к а р т е ................................................................................................... 21
6.3.7 Реакция карты на ошибки п р о то ко л а ....................................................................................... 22
6.3.8 Устранение ошибок передачи в карте.......................................................................................22
6.3.9 Ресинхронизация......................................................................................................................... 23
ill4
Страница 4
ГОСТ Р ИСО/МЭК 10373-3—2011
6.3.10 Согласование IF S D ................................................................................................................... 23
6.3.11 Прорывание IF D ..........................................................................................................................24
7 Методы испытаний физических и электрических характеристик IF D .....................................................24
7.1 Активация контактов................................................................................................................................24
7.1.1 Оборудование................................................................................................................................24
7.1.2 Методика......................................................................................................................................... 24
7.1.3 Отчет об испытаниях................................................................................................................... 25
7.2 Контакт V C C ............................................................................................................................................ 25
7.2.1 Оборудование................................................................................................................................25
7.2.2 Методика......................................................................................................................................... 25
7.2.3 Отчет об испытаниях................................................................................................................... 26
7.3 Контакт I / O ............................................................................................................................................... 26
7.3.1 Оборудование................................................................................................................................26
7.3.2 Методика......................................................................................................................................... 26
7.3.3 Отчет об испытаниях................................................................................................................... 27
7.4 Контакт C L K ............................................................................................................................................ 27
7.4.1 Оборудование................................................................................................................................27
7.4.2 Методика......................................................................................................................................... 27
7.4.3 Отчет об испытаниях................................................................................................................... 29
7.5 Контакт R S T ............................................................................................................................................ 29
7.5.1 Оборудование................................................................................................................................29
7.5.2 Методика......................................................................................................................................... 29
7.5.3 Отчет об испытаниях................................................................................................................... 30
7.6 Контакт SPU (С6)...................................................................................................................................... 30
7.7 Деактивация ко н та кто в ..........................................................................................................................30
7.7.1 Оборудование................................................................................................................................30
7.7.2 Методика......................................................................................................................................... 30
7.7.3 Отчет об испытаниях................................................................................................................... 30
8 Методы испытаний логических операций IFD............................................................................................. 30
8.1 Ответ-на-Восстановление...................................................................................................................... 30
8.1.1 Восстановление карты («холодное» восстановление)...........................................................30
8.1.2 Восстановление карты («теплое»восстановление).................................................................31
8.2 Протокол Т = 0 .................. 31
8.2.1 Синхронизация передачи I/O для протокола Т = 0 ............................................................... 31
8.2.2 Повторение знака I/O дляпротокола Т = 0 .............................................................................. 31
8.2.3 Синхронизация приема I/O и сигнализация об ошибке для протокола Т = 0 ................... 32
8.3 Протокол Т = 1 ......................................................................................................................................... 32
8.3.1 Синхронизация передачи I/O для протокола Т = 1 ................................................................. 33
8.3.2 Синхронизация приема I/O для протокола Т = 1 .................................................................... 33
8.3.3 Характер изменения времени ожидания знака (C W T )...........................................................34
8.3.4 Реакция IFD на превышение времени ожидания знака в ка р те ........................................... 34
8.3.5 Разграничительный интервал блока (B G T )............................................................................. 35
8.3.6 Упорядочение блоков в I F D ..................................... 35
8.3.7 Устранение ошибок передачи в IF D .......................................................................................... 37
8.3.8 Согласование IF S C ...................................................................................................................... 37
8.3.9 Прерывание к а р т ы ...................................................................................................................... 37
8.4 IFD — Реакция IFD на неправильные РСВ.......................................................................................... 38
8.4.1 Оборудование................................................................................................................................38
8.4.2 Методика......................................................................................................................................... 38
8.4.3 Отчет об испытаниях ....................................................................................................................38
Приложение ДА (справочное) Сведения о соответствии ссылочных международных стандартов
ссылочным национальным стандартам Российской Федерации..................................39
IVПоказаны первые 4 из 46
История статуса
Подтверждённых событий пока нет.