Проверяемый статус документов Полнотекстовый поиск Доступ без регистрации

Карточка нормативного документа

ГОСТ Р 8.743-2011

Государственная система обеспечения единства измерений. Оптика и фотоника. Интерференционные измерения оптических элементов и систем. Часть 1. Термины, определения и основные соотношения

Просмотреть PDF
Статус не подтверждённа 07.09.2026Перед применением сверяйтесь с официальным источником
Удобное чтениеАбзацы и заголовки без PDF-разрывов

Межгосударственный стандарт

ГОСТ Р 8.743-2011

Государственная система обеспечения единства измерений. Оптика и фотоника. Интерференционные измерения оптических элементов и систем. Часть 1. Термины, определения и основные соотношения

State system for ensuring the uniformity of measurements. Optics and photonics. Interferometric measurement of optical elements and systems. Part 1. Terms, definitions and fundamental relationships

Редакционная карточка ГОСТНОРМ. Полный текст публикуется только при подтверждённом праве использования. Метаданные сверяются по нескольким источникам.

Область применения

Область применения пока не подтверждена.

1

Страница 1

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО

                                   ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ




                                         НАЦИОНАЛЬНЫЙ                        ГОСТР
                                              СТАНДАРТ
                                                                             8 . 743-
                                           РОССИЙСКОЙ
                                            ФЕДЕРАЦИИ
                                                                             2 0 1 1/ISO/TR 14999-1:
                                                                             2005



                     Г о с у д а р с т в е н н а я с и с те м а о б е с п е ч е н и я е д и н с тв а
                                                     и зм е р е н и й

                               ОПТИКА И ФОТОНИКА.
                          ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ
                          ОПТИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ И СИСТЕМ
                                                      Ч а с т ь          1


                    Терм ины , определения и о сн о в н ы е соотнош ения
                                                     ISO/TR14999-1:2005
                                 State system fo r ensuring the uniform ity o f measurements.
                                   O ptics and photonics — Interferom etric measurement
                  o f optical elements and optical system s. Part 1: Terms, definitions and fundam ental
                                                         relationships
                                                             (IDT)



                                                  Издание оф ициальное




                                                              Москва
                                                          Стандартинформ
                                                                  2013




идеи для одежды

2

Страница 2

ГОСТ Р 8.743—2011/ISO/TR 14999-1:2005

                                            Предисловие

      Цели и принципы стандартизации в Российской Федерации установлены Федеральным законом
от 27 декабря 2002 г. No 184-ФЗ «О техническом регулировании», а правила применения национальных
стандартов Российской Федерации — ГОСТ Р 1.0—2004 «Стандартизация в Российской Федерации.
Основные положения»

     Сведения о стандарте

     1 ПОДГОТОВЛЕН Федеральным государственным унитарным предприятием «Всероссийский
научно-исследовательский институт метрологической службы» (ФГУП «ВНИИМС»)

     2 ВНЕСЕН ТК 53 «Основные нормы и правила по обеспечению единства измерений» Федераль­
ного агентства по техническому регулированию и метрологии

     3 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому
регулированию и метрологии от 13 декабря 2011 г. N9 1066-ст

       4 Настоящий стандарт идентичен международному документу ИСО/ТО 14999-1:2005 «Оптика и
фотоника. Интерферометрическое измерение оптических элементов и систем. Часть 1. Термины,
определения и фундаментальные связи» (ISO/TR 14999-1:2005 «Optics and photonics — Interferometric
measurement of optical elements and optical systems. Part 1: Terms, definitions and fundamental
relationships»)

     5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ



        Информация об изменениях к настоящ ему с та н д а р ту публикуется в ежегодно издаваемом
информационном указателе «Национальные с та н д а р ты ». а т е к с т изменений и поправок — в еже­
месячно издаваемых указателях «Национальные с та н д а р ты ». В случав пересмотра (замены) или
отм ены настоящ его с та н д а р та с о о тв е тс тв у ю щ е е уведомление б уде т опубликовано в ежемесяч­
но издаваемом указателе «Национальные стандарты ». С о о тв е тств ую щ а я информация, уведом­
ление и т е к с т ы размещаются т а к ж е в информационной систем е общего пользования — на
официальном са й те Федерального а ге н тс тв а по техническому регулированию и метрологии в
с е т и И н те р н е т




                                                                                © Стандартинформ. 2013

     Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и рас­
пространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническо­
му регулированию и метрологии

3

Страница 3

ГОСТ Р 8.743—2011/ISO/TR 14999-1:2005

                                                                     Содержание

1 Область применения......................................................................................................................................... 1
2 Основные положения электромагнитной теории и распространения волн............................................ 1
    2.1 Параметры, обозначения, единицы, константы, операторы и вычислительные процедуры . . 1
    2.2 Уравнения М а кс в е л л а .............................................................................................................................2
    2.3 Электромагнитные поля в среде.............................................................................................................2
    2.4 Скорость распространения волны ..........................................................................................................2
    2.5 Показатель преломления......................................................................................................................... 3
    2.6 Скалярное волновое уравнение............................................................................................................. 3
    2.7 Амплитуда, угловая частота, длина волны, волновое ч и с л о ........................................................... 3
    2.8 Комплексная а м п л и туд а ......................................................................................................................... 4
    2.9 Облученность............................................................................................................................................ 4
    2.10 Вектор П ойнтинга...................................................................................................................................4
    2.11 Распространение плоских волн.............................................................................................................4
    2.12 Распространение сферической волны................................................................................................ 5
    2.13 Распространение волн ограниченной протяж енности.................................................................... 6
    2.14 Распространение асферических в о л н ..................................                                                                                  8
3 Общее описание явления интерференции и интерферометров различных типов............................ 10
    3.1 Интерференция двух волн (двухволновая интерференция)........................................................... 10
    3.2 Когерентность......................................................................................................................................... 11
    3.3 Двухлучевые интерферометры............................................................................................................. 14
    3.4 Характерные особенности оптических схем интерферометров.....................................................19
4 Спаривание траекторий лучей в интерф ерометрах.................................................................................25
    4.1 Апертурные и полевые диафрагмы, формирование телецентрических изображений............... 25
    4.2 Спаренная траектория луча................................................................................................................... 26
    4.3 Различия процессов формирования изображений в когерентном и некогерентном
        оптическом излучении............................................................................................................................ 26
    4.4 Принципиальная оптическая схема интерф ерометра.................................................................... 27
    4.5 Последствия неточного формирования изображения объекта на чувствительной
        поверхности приемника излучения.......................................................................................................30
5 Источники случайных и систематических погрешностей...........................................................................31
Приложение А (справочное) Видность п о л о с .................................................................................................32
Библиография......................................................................................................................................................33




                                                                                                                                                                 in

4

Страница 4

ГОСТ Р 8.743—2011/ISOH-R 14999-1:2005

                                           Введение

      Техническим комитетом ISO.TC 172/SC1 была подготовлена серия международных стандартов
«Обозначения в технических чертежах оптических элементов и систем», опубликованная как
ИСО 10110 под общим названием «Оптика и фотоника — Разработка технической документации на
оптические элементы и системы». После предварительного опубликования этой серии и особенно ее
части 5 «Допуски на отклонения формы поверхности» и части 14 «Допуски на деформации волнового
фронта» стала очевидной потребность в дополнительной документации, регламентирующей необхо­
димую для описания изготавливаемых оптических изделий информацию с учетом допусков. В связи с
этим ISO/ТС 172/SC1 решил подготовить технический доклад «Интерферометрия оптических волно­
вых фронтов и форм поверхностей оптических элементов».
      В ходе дискуссий было выяснено, что впервые технический доклад или международный стан­
дарт, подготавливаемый ИСО, имеет отношение к волновой оптике, т. е. базируется на основах не гео­
метрической. а физической оптики.
      Этот проект стандарта (технический доклад) освещает первоочередные потребности специалис­
тов в части определения качества оптических элементов и в целом оптических систем, причем основ­
ное внимание уделено погрешностям определения параметров и искажениям волнового фронта. Эти
погрешности и искажения охватывают всю шкалу пространственных частот, однако в докладе их спектр
ограничен только его низкочастотным и среднечастотным диапазонами. Высокочастотные погрешности
и искажения волнового фронта могут быть определены либо методами микроскопии, либо путем изме­
рения характеристик рассеянного света или же с использованием неоптических способов зондирова­
ния поверхности.
      Аналогичное ограничение было введено и применительно к диапазону длин волн излучения
источников, используемых в интерферометрах: в ИСО 14999 рассматриваются методы испытаний и
измерений в основном в видимом диапазоне оптического спектра. В некоторых случаях при исследова­
нии необработанных поверхностей, полученных после шлифования, применяются С 0 2-лазеры с дли­
ной волны 10.6 мкм, а при контроле оптики, используемой в микролитографии. — эксимерные лазеры с
длинами волн - 193 и - 248 нм. Однако в данном докладе эти спектральные диапазоны упоминаются в
редких случаях, а остальные участки оптического спектра остаются вне рассмотрения.




IV
Показаны первые 4 из 40

История статуса

Подтверждённых событий пока нет.