ГОСТ Р 71349-2024

ФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО

                       ПО ТЕХНИЧЕСКОМУ РЕГУЛИРОВАНИЮ И МЕТРОЛОГИИ




                                    НАЦИОНАЛЬНЫЙ
                                                                    ГО С ТР
                                       СТАНДАРТ
                                     РОССИЙСКОЙ                     71349   —


                                      ФЕДЕРАЦИИ                     2024




                               Оптика и фотоника

                       КРИСТАЛЛЫ О П ТИ Ч ЕС КИ Е

                       Метод определения пузырности
                         с применением микроскопа



                                    Издание официальное




                                         Москва
                            Российский институт стандартизации
                                           2024




система сертификации

ГОСТ Р 71349— 2024


                                       Предисловие
     1 РАЗРАБОТАН Ф едеральным государственным унитарным предприятием «Н аучно-иссле­
довательский институт физической оптики, оптики лазеров и инф ормационных оптических си­
стем Всероссийского научного центра «Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова»
(ФГУП «НИИФООЛИОС ВНЦ «ГОИ им. С.И. Вавилова»)

     2 ВНЕСЕН Техническим комитетом по стандартизации ТК 296 «Оптика и фотоника»

     3 УТВЕРЖ ДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Приказом Федерального агентства по техническому
регулированию и метрологии от 18 апреля 2024 г. № 505-ст

     4 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ




     Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона
от 29 июня 2015 г. № 162-ФЗ «О стандартизации в Российской Федерации». Информация об из­
менениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном (по состоянию на 1 января текущего
года) информационном указателе «Национальные стандарты», а официальный текст изменений
и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В случае
пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет
опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя «Национальные
стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в ин­
формационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по
техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.rst.gov.ru)




                                          © Оформление. ФГБУ «Институт стандартизации», 2024

     Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и рас­
пространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства по техническо­
му регулированию и метрологии
II

ГОСТ Р 71349—2024


Н А Ц И О Н А Л Ь Н Ы Й             С Т А Н Д А Р Т          Р О С С И Й С К О Й            Ф Е Д Е Р А Ц И И



                                              Оптика и фотоника

                                        КРИСТАЛЛЫ О ПТИ ЧЕС КИЕ

                    Метод определения пузырности с применением микроскопа

            Optics and photonics. Optical crystals. Method for determination of bubbles using microscope



                                                                                   Дата введения — 2025—01—01



      1 Область применения
     Настоящий стандарт распространяется на оптические кристаллы (далее — кристаллы) в форме
стержней, предназначенные для изготовления оптических деталей приборов, и устанавливает метод
определения пузырности в видимом (от 0,38 до 0,78 мкм) диапазоне спектра с применением микро­
скопа.
     Определение размеров и числа включений, если их приравнивают к пузырям в соответствии с
технической документацией (ТД) на кристалл конкретного типа, проводят по настоящему стандарту.
     Для определения пузырности кристаллов допускается применять другие методы, установленные
в ГОСТ 3522.
      П р и м е ч а н и е — Точных границ излучения видимого диапазона спектра не существует, т. к. они зависят
от значения энергетического потока, достигающего сетчатки, и восприимчивости наблюдателя. Нижнюю границу,
как правило, принимают между значениями 0,36 и 0,40 мкм, а верхнюю — между 0,76 и 0,83 мкм. В настоящем
стандарте границы приняты равными значениям 0,38 и 0,78 мкм.


     2 Нормативные ссылки
     В настоящем стандарте использованы нормативные ссылки на следующие стандарты:
     ГОСТ 2789 Шероховатость поверхности. Параметры и характеристики
     ГОСТ 3522 Материалы оптические. Метод определения пузырности
     ГОСТ 5556 Вата медицинская гигроскопическая. Технические условия
     ГОСТ 11141 Детали оптические. Классы чистоты поверхностей. Методы контроля
     ГОСТ 17299 Спирт этиловый технический. Технические условия
     ГОСТ 29298 Ткани хлопчатобумажные и смешанные бытовые. Общие технические условия
     ГОСТ 32361 Стекло и изделия из него. Пороки. Термины и определения
     ГОСТ Р 8.568 Государственная система обеспечения единства измерений. Аттестация испыта­
тельного оборудования. Основные положения
     ГОСТ Р 8.654 Государственная система обеспечения единства измерений. Требования к про­
граммному обеспечению средств измерений. Основные положения
     ГОСТ Р 8.674 Государственная система обеспечения единства измерений. Общие требования к
средствам измерений и техническим системам и устройствам с измерительными функциями
     ГОСТ Р 8.678 Государственная система обеспечения единства измерений. Формы оценки соот­
ветствия технических систем и устройств с измерительными функциями установленным требованиям
     ГОСТ Р 71250 Оптика и фотоника. Производство оптических материалов. Термины и определения
      П р и м е ч а н и е — При пользовании настоящим стандартом целесообразно проверить действие ссылоч­
ных стандартов в информационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агент­
ства по техническому регулированию и метрологии в сети Интернет или по ежегодному информационному указа-


Издание официальное
                                                                                                                1

ГОСТ Р 71349— 2024

телю «Национальные стандарты», который опубликован по состоянию на 1 января текущего года, и по выпускам
ежемесячного информационного указателя «Национальные стандарты» за текущий год. Если заменен ссылочный
стандарт, на который дана недатированная ссылка, то рекомендуется использовать действующую версию этого
стандарта с учетом всех внесенных в данную версию изменений. Если заменен ссылочный стандарт, на который
дана датированная ссылка, то рекомендуется использовать версию этого стандарта с указанным выше годом ут­
верждения (принятия). Если после утверждения настоящего стандарта в ссылочный стандарт, на который дана
датированная ссылка, внесено изменение, затрагивающее положение, на которое дана ссылка, то это положение
рекомендуется применять без учета данного изменения. Если ссылочный стандарт отменен без замены, то поло­
жение, в котором дана ссылка на него, рекомендуется применять в части, не затрагивающей эту ссылку.


     3 Термины и определения
     В настоящем стандарте применены термины по ГОСТ 32361 и ГОСТ Р 71250.


     4 Общие положения
     4.1 Микроскопический метод определения пузырности заключается в просмотре кристаллов при
направленном боковом освещении на темном фоне, когда пузыри и приравниваемые к ним включения
вследствие рассеяния ими света четко видны, с последующим подсчетом числа пузырей и определе­
нием их размеров.
     4.2 Пузырность кристалла характеризуется диаметром имеющегося в нем наибольшего пузы­
ря или включения, средним числом пузырей и суммируемых с ними включений в единичном объеме
(1 мм3, 1 см3, 1 дм 3) или в единичной массе (1 кг, 100 г), либо суммарной площадью сечений пузырей и
включений, содержащихся в единичном объеме (мм2/мм3, мм2/см3, см2/см3).
     За диаметр пузыря или включения неправильной формы принимают размер, полученный как
среднее арифметическое его наибольшего и наименьшего размеров.
     П р и м е ч а н и е — Наибольший (наименьший) размер — большая (меньшая) сторона прямоугольника,
условно описанного вокруг проекции пузыря.
      4.3 Погрешность измерений диаметра пузыря определяется погрешностью измерений окуляр-
микрометра, инструментального, оптико-электронного микроскопов или исходя из цены деления окуля­
ра микроскопа — объект-микрометра. Допустимую погрешность измерений диаметра пузыря устанав­
ливают в ТД на кристалл конкретного типа.
      4.4 При проведении измерений должны быть обеспечены следующие условия, если иные не ука­
заны в ТД на испытуемый кристалл и используемую аппаратуру:
      - температура воздуха в помещении — (25 ± 10) °С;
      - относительная влажность воздуха — от 45 % до 80 % (при температуре воздуха 20 °С);
      - атмосферное давление — от 86,6 до 106,6 кПа.
      4.5 Перед началом измерений кристаллы должны быть выдержаны в указанных условиях не
менее 2 ч или в течение времени, достаточного для достижения ими температуры окружающего возду­
ха по всему объему, если условия хранения и транспортирования кристаллов от них отличались.
      4.6 Средства измерений, их составные части и программное обеспечение, стандартные образ­
цы, средства контроля и испытательное оборудование, эталоны единиц величин должны обеспечивать
проведение мониторинга и измерений параметров и характеристик процессов и продукции в заданных
условиях и диапазонах измерений с необходимой точностью и соответствовать требованиям ТД.
      4.7 Средства измерений должны быть поверены или откалиброваны.
      4.8 Эталоны единиц величин должны быть аттестованы.
      4.9 Стандартные образцы должны иметь утвержденный тип и соответствовать установленному
сроку службы.
      4.10 Испытательное оборудование должно быть аттестовано в соответствии с ГОСТ Р 8.568,
средства измерений, используемые в составе испытательного оборудования, должны быть поверены.
      4.11 Средства контроля и индикаторы, являющиеся техническими средствами, должны быть про­
верены на соответствие эксплуатационной документации.
      4.12 Программное обеспечение средств измерений — в соответствии с требованиями
ГОСТ Р 8.654.



2