Межгосударственный стандарт
ГОСТ Р 57902-2017
Модули фотоэлектрические. Испытания на деградацию, вызванную высоким напряжением. Часть 1. Фотоэлектрические модули на основе кристаллического кремния
Photovoltaic modules. Potential induced degradation tests. Part 1. Crystalline silicon photovoltaic modules
Редакционная карточка ГОСТНОРМ. Полный текст публикуется только при подтверждённом праве использования. Метаданные сверяются по нескольким источникам.
Область применения
Область применения пока не подтверждена.
1
Страница 1
Ф Е Д Е Р А Л Ь Н О Е А ГЕ Н Т С Т В О
П О Т Е Х Н И Ч Е С К О М У Р Е ГУ Л И Р О В А Н И Ю И М Е ТР О Л О ГИ И
НАЦИОНАЛЬНЫЙ ГО СТ Р
СТАНДАРТ
РОССИЙСКОЙ
5 7902—
ФЕДЕРАЦИИ 2017
(IEC/TS 62804-1:2015)
М О Д УЛИ Ф О Т О Э Л Е К Т Р И Ч Е С К И Е
Испытания на деградацию, вызванную высоким
напряжением
Ч а с т ь 1
Фотоэлектрические модули на основе
кристаллического кремния
(IEC/TS 62804-1:2015,
Photovoltaic (PV) modules — Test methods for the detection of potential induced
degradation — Part 1: Crystalline silicon,
MOD)
И зд ан ие о ф и ц и ал ь н о е
Москва
Стандартинформ
2017
георадарная съемка2
Страница 2
ГО СТ Р 57 9 02 — 2017
Предисловие
1 П О ДГО ТО ВЛЕН Обществом с ограниченной ответственностью «ВИ ЭСХ -В О ЗО Б Н О В ЛЯЕ М Ы Е
И С ТО Ч Н И КИ Э Н Е Р ГИ И » (О О О « В И Э С Х -В И Э ») на основе собственного перевода на русский язык ан
глоязычной версии международного документа, указанного в пункте 4
2 В Н Е С ЕН Техническим комитетом по стандартизации Т К 0 1 6 «Электроэнергетика»
3 У Т В Е Р Ж Д Е Н И ВВЕДЕН В Д Е Й С ТВ И Е Приказом Федерального агентства по техническому ре
гулированию и метрологии от 3 ноября 2 0 1 7 г. №> 1645-ст
4 Настоящий стандарт является модифицированным по отношению к международному документу
1ЕСЯБ 62 8 04 -1 :2 0 1 5 «Модули фотоэлектрические. Методы испытания на деградацию, вызванную элек
трическим потенциалом. Часть 1. Фотоэлектрические модули на основе кристаллического кремния»
(IE C /T S 62 8 04 -1 :2 0 1 5 «Photovoltaic (P V ) modules — Test methods for the detection of potential induced
degradation — Part 1: Crystalline silicon». M O D ) путем изменения отдельных ф раз. слов, ссылок, которые
выделены в тексте курсивом.
Внесение указанных технических отклонений направлено на учет потребностей национальной
экономики Российской Федерации и особенностей объекта стандартизации, характерных для Россий
ской Федерации.
Наименование настоящего стандарта изменено относительно наименования указанного между
народного документа для приведения в соответствие с ГО СТ Р 1.5— 2 0 1 2 (пункт 3.5).
Сведения о соответствии ссылочных национальных и межгосударственных стандартов м еждуна
родным стандартам, использованным в качестве ссылочных в примененном международном докумен
те. приведено в дополнительном приложении ДА
5 ВВЕДЕН ВПЕРВЫ Е
Правила применения настоящего стандарта установлены в статье 26 Федерального закона
от 29 июня 2015 г. № 162-ФЗ «О стандартизации в Российской Федерации». Информация об из
менениях к настоящему стандарту публикуется в ожегод1Юм (по состоянию на 1 января текущего
года) информациоююм указателе «Национальные стандарты», а официальный текст изменений
и поправок — в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». В случае
пересмотра (замены) или отмены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет
опубликовано в ближайшем выпуске ежемесячного информационного указателя «Национальные
стандарты». Соответствующая информация, уведомление и тексты размещаются также в ин
формационной системе общего пользования — на официальном сайте Федерального агентства по
техническому регулированию и метрологии в сети Интернет (www.gost.ru)
© Стандартинформ. 2017
Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен, тиражирован и рас
пространен в качестве официального издания без разреш ения Федерального агентства по техническо
му регулированию и метрологии
II3
Страница 3
ГО СТ Р 57 9 02 — 2017
Содержание
1 Область п р и м е н е н и я ................................................................................................................................................................ 1
2 Нормативные ссы л ки................................................................................................................................................................2
3 Выбор о б р а з ц о в ........................................................................................................................................................................3
4 Порядок проведения испытаний.......................................................................................................................................... 4
5 Предварительная о б р аб отка.................................................................................................................................................6
6 Начальные испытания...................................... 6
7 В ы д ер ж ка................................................................................... 7
7.1 Испытательное оборудование и м атериалы .......................................................................................................... 7
7 .2 Метод А ..................................................................................................................................................................................8
7 .3 Метод В .............................................................. 11
8 Восстановление........................................................................................................................................................................ 15
9 Заключительные испы тания................................................................................................................................................ 15
10 Протокол испытаний.............................................................................................................................................................15
Приложение Д А (справочное) Сведения о соответствии ссылочных межгосударственных
и национальных стандартов международным стандартам, использованным
в качестве ссылочных в примененном международном д окум енте................................... 18
Б иблиограф ия..............................................................................................................................................................................194
Страница 4
ГОСТ Р 57902—2017
(IEC/TS 62804-1:2015)
Н А Ц И О Н А Л Ь Н Ы Й С Т А Н Д А Р Т Р О С С И Й С К О Й Ф Е Д Е Р А Ц И И
М О ДУЛ И Ф О Т О Э Л Е К Т Р И Ч Е С К И Е
И сп ы тан и я на д е гр ад а ц и ю , вы зван ную в ы со ким нап р яж ен ием
Часть 1
Ф о тоэл ектри ч ески е м од ул и на о сн о в е кр и с та л л и че с ко го крем ния
Photovoltaic modules. Potential induced degradation tests. Part 1. Crystalline silicon photovoltaic modules
Дата введения — 2018— 07—01
1 Область применения
Настоящий стандарт распространяется на наземные фотоэлектрические модули на основе кри
сталлического кремния. Стандарт устанавливает методы испытаний на стойкость к кратковременному
воздействию высокого напряжения, приводящему к деградации фотоэлектрических модулей в процес
се эксплуатации.
Стандарт распространяется на фотоэлектрические модули, которые содержат:
- фотоэлектрические элементы из кристаллического кремния с пассивирующим/просветляющим
диэлектрическим покрытием, механизмы деградации которых могут быть обусловлены подвижностью
ионов, влияющих на электрическое поле вблизи поверхности фотоэлектрических элементов или элек
трически взаимодействующих с ними;
- стеклянное покрытие на рабочей поверхности.
Настоящий стандарт не распространяется на фотоэлектрические модули с концентраторами сол
нечного излучения, а также модули, выполненные из тандемных фотоэлектрических элементов.
П р и м е ч а н и е — Настоящий стандарт может быть применен к фотоэлектрическим модулям, состоя
щим из многопереходных (многослойных и матричных) фотоэлектрических элементов на основе кристаллического
кремния, если механизмы и процессы их деградации в условиях испытаний, установленных в разделе 7, аналогич
ны механизмам и процессам деградации указанных фотоэлектрических модулей из элементов с одним р-п пере
ходом. В этом случае при начальных и завершающих испытаниях должны учитываться особенности измерения
вольт-амперных характеристик (ВАХ) таких модулей*.
В условиях эксплуатации периодически возникают ситуации, когда на один фотоэлектрический мо
дуль поступает все напряжение постоянного тока фотоэлектрической системы, предельное значение кото
рого определяется при создании системы исходя из характеристик фотоэлектрических модулей или уста
новленного значения, и может быть равно максимально допустимому напряжению модуля. Относительно
кратковременные воздействия такого высокого напряжения на фотоэлектрические модули в процессе
эксплуатации вызывают различные механизмы в деталях конструкции модуля, приводящие к возникно
вению разницы потенциалов между цепями фотоэлектрических элементов и заземленными поверхностя
ми модуля и. как следствие, к деградации. В фотоэлектрических модулях на основе кристаллического
кремния указанная деградация, прежде всего, связана с ионным переносом в герметиках и покрытиях
рабочей и тыльной поверхностей; разогревом носителей заряда в фотоэлектрических элементах; пере
распределением зарядов, которое ухудшает характеристики слоев и поверхности фотоэлектрических эле
ментов; разрушением клеевых соединений: коррозией компонентов. В некоторых конструкциях под д ей
ствием высокого напряжения происходит разрушение р-п переходов и изменение характеристик пробоя.
‘ См. [1].
Издание официальное
1Показаны первые 4 из 23
История статуса
Подтверждённых событий пока нет.