Проверяемый статус документов Полнотекстовый поиск Доступ без регистрации

Карточка нормативного документа

ГОСТ 4.198-85

Система показателей качества продукции. Аппараты рентгеновские аналитические. Номенклатура показателей

Просмотреть PDF
Статус не подтверждённа 09.09.2026Перед применением сверяйтесь с официальным источником
Удобное чтениеАбзацы и заголовки без PDF-разрывов

Межгосударственный стандарт

ГОСТ 4.198-85

Система показателей качества продукции. Аппараты рентгеновские аналитические. Номенклатура показателей

System of product-quality indices. X-ray analytical apparatus. Nomenclature of indices

Редакционная карточка ГОСТНОРМ. Полный текст публикуется только при подтверждённом праве использования. Метаданные сверяются по нескольким источникам.

Область применения

Область применения пока не подтверждена.

1

Страница 1

ГОСТ 4.198-85


                          М Е Ж Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й             С Т А Н Д А Р Т




                                 СИСТЕМА ПОКАЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА ПРОДУКЦИИ


                                   АППАРАТЫ РЕНТГЕНОВСКИЕ
                                       АНАЛИТИЧЕСКИЕ

                                       НОМЕНКЛАТУРА ПОКАЗАТЕЛЕЙ



                                                Издание официальное




                          г-»
                          КЗ 3




                                           И НК ИЗДАТЕЛЬСТВО СТАНДАРТОВ
                                                     Москва




проект электроснабжения

2

Страница 2

УДК 621.386.1 : 006.354                                                                              Груша Т51


М Е Ж Г           О С      У Д      А Р     С    Т   В   Е Н Н Ы Й                  С Т А Н Д А Р Т

              Система показателей качества продукции

     А П П А Р А Т Ы РЕ Н ТГЕ Н О В С К И Е А Н А Л И Т И Ч Е С К И Е
                                                                                           ГОСТ
                       Номенклатура показателей                                        4 . 198-85
           Product-quality index system. X-ray analytical apparatus.
                           Nomenclature o f indices
О К С Т У (КЮ4


                                                                                          Дата введения 01.01.87

        Настоящ ий стандарт устанавливает номенклатуру основны х показателей качества рентгенов­
ских аналитических аппаратов, включаемы х в технические задания на научно-исследовательские
работы (Т З на Н И Р ) по определению перспектив этой группы, государственные стандарты с
перспективными требованиями (Г О С Т О Т Т ), а также номенклатуру показателей качества, включа­
емых в разрабатываемые стандарты на продукцию, технические задания на опытно-конструкторские
работы (Т З на О К Р ), технические у с л о в и я ( Т У ), карты технического уровня и качества продукции
(К У ).
        К оды рентгеновских аналитических аппаратов, входящих в группу однородной продукции по
ОКП:
        42 7651 — аппаратура рентгеноструктурная: дифрактометры общ его назначения (пр ецизион­
ные, средней точности, упрощ енны е), дифрактометры специализированны е (текстурны е, для иссле­
дования монокристаллов, для определения макронапряжений, м алоугловы е, для исследования в
особы х условиях — низкотемпературные и высокотемперату рные, для исследования реальной струк­
туры кристаллов — на основе детекторов телевизионного типа), аппараты рентгеновские для струк­
турного анализа с фоторегнетрапией (с отпаянной рентгеновской трубкой, с вращающимся анодом );
        42 7651 — аппаратура рентгеноспектральная: спектрометры кристалл-дифракционные (м н о г о ­
канальные, сканирую щ ие), спектрометры бездифракционные с полупроводниковым детектором,
анализаторы рентгеновские;
        42 7651 — м икроскопы рентгеновские: с фоторегистрацией, анализаторы, рентгенотелевизион­
ные;
        42 7651 — аппараты рентгенолюминесцентные: сепараторы лю минесцентны е;
        42 7651 — микроанализаторы рентгеновские;
        42 7651 — приборы рентгенофизические: аппараты для исследования тонкой структуры рент­
геновских спектров:
        42 7658 — приборы рентгенофизнческие: спектрометры рентгеноэлектронны е, спектрометры
ож е-электронны е.
        Алф авитный перечень показателей качества продукции приведен в приложении I.
        Терм и н ы , применяемые в стандарте, и пояснения к ним приведены в приложении 2.
        Примеры расчета некоторых показателей качества продукции приведены в прилож ении 3.
        (Измененная редакция, Мзм. 1).


                1. Н О М Е Н К Л А Т У Р А П ОК АЗАТЕЛЕЙ КАЧЕСТВА РЕ Н ТГЕ Н О В С К И Х
                                      АН АЛ Э Т И Ч Е С К И Х АП П АРАТО В


     1.1.     Н оменклатура показателей качества и характеризуемые ими свойства рентгеновских
аналитических аппаратов приведены в табл. 1.



И здание официальное                                                                     Перепечатка воспрещена

                                                                              ©   Издательство стандартов, 1986
                                                                        ©   ИПК   Издательство стандартов. 2002

3

Страница 3

Г О С Т 4 .1 9 8 -8 5 С. 2

                                                                                                                                     Таблица                       I

                                                                           Обозначение
          и а и м с п о в а н и с п ок а зател и качестна                                      а н м ен о в ан и е х а р а к т е р а з у е и о г о с в о й ств а
                                                                        Показатели качества

                                                   I. ПОКАЗАТЕЛИ НАЗНАЧЕНИЯ
   1.1. Диапазон углового               перемещения            блока       2 вИ*. 2 0 «т
                                                                                      ;         Диапазон регистрации дифракто-
детектирования, град                                                          Vи, V*,         грнмм
                                                                              г„, \
  1.2. Оеновиая           аппаратурная              погрешность.                \               Стабильность                        аналитического
(ГО С Т 16865). %                                                                             сигнала аппарата
  1.3. Допускаемое отклонение блока детек­                                      К               Искажение дифрактограммы
тирования от заданного угла поворота, град
  1.4. Диапазон поворота по углу а, . . . *                                                     Аналитические возможности аппа­
                                                                                              рата
  1.5. Диапазон рабочих углов. . . . '                                         20               То же
  1.6. Сходимость показаний аппарата                                                            Стабильность выходного параметра
                                                                                              аппарата
  1.7. Интервал рабочих температур, при которых                              г(Д Г )            Диапазон             возле йсгвующих                    Дик­
исследуется образец. ‘ С                                                                      торов
  1.8. Номинальная             мощность            рентгеновской               W                Аналитические                            возможности
трубки. Вт (кВт)                                                                              аппарата
  1.9 Угловая установка кристалла ( <р, X- © ) , . . . *                        —               То же
  1.10. Диапазон аззализируемых элементов                                      —                Аналитические                            возможности
                                                                                              аппарата
  1.11. Максимальное количество                    одновременно                                 Аналитические                            возможности
анали зируемых элементов                                                                      аппарата
  1.12. Время  одззого   цикла                   (ввод        пробы,                            П роизвол ител ьность
измерение, вывод пробы), с
  1.13. Скорость счета на линии на контрольном                                   Л              А налзп нчсск ис                         в о зм о ж н ости
образце, с _|                                                                                 аппарата
  1.14. Спектральное     разрешение                     (волновое,                              Селективность анализа
энергетическое), нм. эВ. %
   1.15. Погрешность угловой установки кристалла                                                Достоверность анализа
(по ф. х, t o ) .. . - *
  1.16. Разрешение. . . . '
  1.17. Увеличение                                                                              Возможность получения требуемого
                                                                                              линейного разрешения
  1.18. Линейное разрешение, мкм                                                                Линейная             разрешающая                   способ­
                                                                                              ность
  1.19. Извлечение минерала, %                                                                  Эффективность работы аппарата
   1.20. Пронзволзтгельноеть на классе крупности.                                               Производительность
т/ч
   1.21. Выход материала на отсечку (или на 10                                                  Качество соргировки
отссчск), кг (зерен)
  1.22. Диапазон исследуемого излучения, нм. кэВ                                                А нали ти чески е                        ВОЗМОЖНОСТИ
                                                                                              аппарата
   1.22а. Среднее квадратическое отклонение от                                                  Стабильность                       аналитического
срсдззего значения измеряемых деформаций, %                                                   сигнала
  1.23. Диапазон ускоряющих напряжении. кВ                                                      То же
  1.24. Наименьшее            увеличение           в        растровом                           Наибольшее поле зрения
режиме
  1.25. Отношение сигнал/шум                                                                    Чувствительность ирзгбора

4

Страница 4

С . 3 Г О С Т 4 .1 9 8 -8 5

                                                                                                 Продолжение таш. I

                                                               Обозначение
            Наименование показатели качества                                    Памисноынме характеризуемого свойства
                                                            показатели качества
   1.25а. Погрешность         регулирования     заданной           —             Стабильность аналитического сиг-
температуры                                                                    нала
  1.26. Рабочая нлошаль входного окна детектора.                   —             Аналитические возможности anna-
мм3                                                                            para
   1.27— 1.27.2. (Исключены, Изм. N i 1).
   1.28. Минимальный шаг сканирования, нм                          —             Аналитические возможности аппа­
                                                                               рата
  1.29. Установочная      скорость          угловых                —             Производительность аппарата
перемещений блока детектирования, . . . ' / мин
  1.30. Диапазон     угловых              перемещении              —             Аналитические возможности anna-
рентгеновской трубки,. . . 4                                                   рата
  1.31. Допускаемые           размеры      исследуемого            —
образца, мм
   1.32. Рабочая среда                                             —
  1.33. Наименьшее     (предельное            остаточное)          —             —
давление в рабочем объеме. Па
  1.34. Диапазон     регулировки                высокого           —             Аналитические возможности аипа-
напряжения и анодного тока, кВ. мА                                             para
  1.35. Класс          крупности        обрабатываемого            —             Характеристика          обогащаемою
материала, мм                                                                  материала
   1.36. Контрастность (ГО С Т 16865)                               к
   1.37. Предел обнаружения (ГО С Т 16865), г, %                   —             Аналитические возможности
  1.38. Удельная нагрузка на действительное                        —             П рои зводител ьность
фокусное       пятно   рентгеновской трубки
(ГО С Т 20337). Вг/мм3
   1.39. Контрастная чувствительность. %                           —             Качество изображения
  1.40. Осциллированис          блока    детектирования            -             Аналитические           возможности
СЦИНГИЛЛЯ1ШОННОГО. . . . *                                                     аппарата
  1.41. Нестабильность анодного напряжения и                       —             То же
тока, %
  1.42. Размеры    экрана    для    визуального                    —             Удобство наблюдения, обзорность
наблюдения, мм
  1.43. Наличие сканирующего канала                                —             Аналитические           возможности
                                                                               аппарата
   1.44. (Исключен, Изм. .Ns 1).
  1.45. Автоматическое           управление       сменой           —             Способность      автоматического
образцов                                                                       упраазения сменой образцов
  1.46. Наличие автоматизации            управления     и          —             Возможность комплексной работа-
обработки .тайных                                                              способности  системы   «аппарат —
                                                                               Э ВМ »
  1.47. Оснащенность дополнительными устройст-                     —             Ускорение анализа
вами (например наличке приставок)
  1.48. Воспроизводимость          положения       линии           —             —

спектра, эВ
   1.49. Габаритные размеры (или установочная                      —

гглошадь). мм (мм3)
   1.50. У с л о в и я    эксплуатации                             —
   1.50.1. Параметры питающей сети                                 -
   1.50.2. Устойчивость к климатическим возлей-                    —

ствиям
   1.50.3. Устойчивость к механическим возлей-                     —

ствиям
Показаны первые 4 из 20

История статуса

Подтверждённых событий пока нет.