Проверяемый статус документов Полнотекстовый поиск Доступ без регистрации

Карточка нормативного документа

ГОСТ 3520-92

Материалы оптические. Методы определения показателей ослабления

Просмотреть PDF
Статус не подтверждённа 18.09.2026Перед применением сверяйтесь с официальным источником
Удобное чтениеАбзацы и заголовки без PDF-разрывов

Межгосударственный стандарт

ГОСТ 3520-92

Материалы оптические. Методы определения показателей ослабления

Optical materials. Methods for determination of linear attenuation coefficient

Редакционная карточка ГОСТНОРМ. Полный текст публикуется только при подтверждённом праве использования. Метаданные сверяются по нескольким источникам.

Область применения

Область применения пока не подтверждена.

1

Страница 1

г о с у д а р с т в е н н ы й          с т а н д а р т
                                                 С О ЮЗ А        C С Р




                                          МАТЕРИАЛЫ ОПТИЧЕСКИЕ
                                  МЕТОДЫ ОПРЕДЕЛЕНИЯ      ПОКАЗАТЕЛЕЙ ОСЛАБЛЕНИЯ

                                                   ГОСТ 3 5 2 0 - 9 2


                                                  Издание официальное
                   БЗ 1 -9 2/31




                                       КОМИТЕТ СТАНДАРТИЗАЦИИ И МЕТРОЛОГИИ СССР
                                                        Москва




методы испытаний

2

Страница 2

УДК 681.7.031.001.4:006.354                                     Группа П49

 Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й          СТАНДАРТ         СОЮЗА        ССР


             МАТЕРИАЛЫ ОПТИЧЕСКИЕ
      Методы определения подавателей ослабления
                                                             ГОСТ
                    Optical materials.
           Methods for determination ol linear             3520-92
                 attenuation coefficients

ОКСТУ 4409

                                                      Дата введения 01.07.93

    Настоящий стандарт распространяется на оптические материа­
лы: стекло бесцветное и цветное, кварцевое стекло, кристалличес­
кие материалы и устанавливает используемые при контроле мето­
ды определения спектрального показателя ослабления в области
спектра от 0,1 до 25 мкм и показателя ослабления для источника
А по ГОСТ 7721.
   Пояснения терминов, встречающихся в стандарте, приведены
в приложении I.

       I МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНОЮ ПОКАЗАТЕЛЯ
                        ОСЛАБЛЕНИЯ

     I I. С у щ н о с т ь м е т о д а
     Метод определения спектрального показателя ослабления за­
ключается в измерении спектрального коэффициента пропускания
т ( а ) образца оптического материала и последующем расчете по­
казателя ослабления р ( а ).
     Рекомендации по выбору способа измерения т (/.) приведены в
приложении 2.
     1.2. Т р е б о в а н и и к о т б о р у о б р а з ц о в
     1.2 I. Отбор пробы для изготовления образца следует прово­
дить по нормативно-технической документации, утвержденной в
установленном порядке.
     1.2.2. Образец должен иметь форму пластины млн параллеле­
пипеда с плоскопараллельными рабочими поверхностями.

Издание официальное
                                       <С) Издательство стандартов, 1992
Настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроизведен,
      тиражирован и распространен без разрешения Госстандарта СССР

3

Страница 3

ГОСТ   3520-92   С.   2

     1.2.3. Размеры образца определяются конструкцией к разме­
рами держателя и должны быть такими, чтобы при измерении че­
рез образец проходил весь измерительный пучок лучей.
     Размер образца и направлении прохождения излучения (тол­
щина) должен обеспечивать проведение измерения коэффициента
пропускания от 0,10 до 0,90.
     1.2.4. Наименьшие размеры рабочего участка образца в фор­
ме пластины (параллелепипеда) должны на 2 мм превышать раз­
меры падающего на образец пучка лучей.
     Наибольшая толщина пластины должна быть такой, чтобы оп­
тическая длина пути не превышала 30 мм
     Толщина параллелепипеда должно быть от 50 до 250 мм и
выбираться в зависимости от требований к точности определения
показателя ослабления.
     1.2.5. Д ля измерения коэффициента внутреннего пропускания
изготовляют два образца- длинный и короткий
     Разница между толщинами образцов должна обеспечивать, по
возможности, наибольшую разность их коэффициентов пропуска­
ния.
     Оба образца должны быть изготовлены из одного или близко
расположенных кусков блока контролируемого оптического мате­
риала и отполированы совместно.
     1.2.6. Допуск параллельности и перпендикулярности рабочих н
опорных поверхностей образца - 30'.
     Допуск плоскостности рабочих поверхностей образца — 10 ин­
терференционных полос.
     1.2.7. Параметр шероховатости рабочих поверхностей образца
 R должен быть нс более 0,050 мкм но ГОСТ 2789.
     Класс чистоты рабочих поверхностей должен быть нс ниже
 IV класса по ГОСТ 11141.
     Па боковых (нерабочих) поверхностях не должно быть вкко-
л о к и раковин.
     Рабочие поверхности образца из химически неустойчивого оп­
тического материала должны Сыть отполированы нс ранее чем за
трое суток перед измерением, образцы должны храниться в экси­
каторе по ГОСТ 25336.
     1.2.8. Образец нс должен содержать видимых невооруженным
глазом свилей, пузырей н включений, поглощающих, рассеиваю­
 щих или отклоняющих пучок лучей, проходящих через образец.
     Качество образца, изготовленного из материала, к которому нс
 предъявляются требования по показателю рассеяния, должно со­
 ответствовать по свилям и пузырям требованиям, установленным
для материала
     1.3. Т р е б о в а н и я к с р е д с т в а м н з м с р с н и П
     1.3.1.     Для измерения спектрального коэффициента пропуска­
 ния используют следующие приборы:
2 Зак 616

4

Страница 4

С   3   ГОСТ   3520—92

 в области      спектра от 0,1 до 0,2 мкм — вакуумные спектрофотс'
                                                  метры;
        »       »       от 0,2 до 2,5 мкм — спектрофотометры для УВН
                                                области;
        »        и      от 2,5 до 25 мкм -- инфракрасные спектрофотс
                                                  метры.
     Тип прибора следует выбирать с учетом требовании к показа­
 телю ослабления, установленных в нормативно-технической доку­
 ментации на конкретный материал.
     1.3.2. Все используемые средства измерений должны быть по­
 верены или аттестованы.
     1.3.3. Рекомендуемые приборы приведены в приложении 3.
     1-3.4. При измерениях коэффициентов пропускания менее 0,10
 для изменения масштаба фотометрической шкалы используют
 образцовые меры пропускания, обеспечивающие проведение этих
 измерений в диапазоне показаний от 0,10 до 0,90 по фотометричес­
 кой шкале.
    Требования к форме, размерам и обработке поверхностен •- пс
 ип. 1.2.2-1.28
    Образцовая мера пропускания должна быть аттестована по ко­
 эффициенту пропускания н рабочем диапазоне длин волн. Д ля ко­
 эффициентов пропускания от 0.01 до 0.05 включительно погреш­
 ность нс должна быть более 2-10 я. для коэффициентов пропуска­
 ния свыше 0.05 погрешность нс должна быть более 5-10 Л
     1.3.5. Для измерения толщины образца применяют микромет­
 ры с ценой деления 0,01 мм по ГОСТ 6507.
    Образцы толщиной свыше 100 мм измеряют штангенциркулем
с ценой деления нониуса 0,05 мм по ГОСТ 166.
     1.3.6. Для проверки плоскостности поверхностен образна при­
меняют пробное стекло по ГОСТ 2786.
    1.3.7. Д ля измерения температуры рабочего пространства нсм-
ле образца применяют термометры по ГОСТ 28498 с диапазоном
измерения от 0 до 50X и ценой деления шкалы 1 X .
    1.3.8. Допускается использование других средств измерении с
погрешностями не более заданных.
    1.4. Т р е б о в а в н я к п о д г о т о в к е и з м е р е н и и
    1.4.1. Подготовку прибора к измерению и проверку его работы
проводят согласно прилагаемой к нему инструкции по эксплуата­
ции.
    1.4.2. Рабочие поверхности образца должны быть тщательно
очищены от загрязнений. Допускается использовать этиловый
спирт no 1 ОСТ 18300 или спирто-эфирную смесь СЭ-90 для чистки
оптических деталей.
    1.5. Т р е б о в а н и я к п р о в е д е н и ю и з м е р е н и й
    1.5.1.     Образец следует установить в держателе                прибора
перпендикулярно оптической осп пучка лучей.
Показаны первые 4 из 20

История статуса

Подтверждённых событий пока нет.