ГОСТ 28654-90

ГОСТ 28654-90


                    М Е Ж Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й            С Т А Н Д А Р Т




                                 МАТЕРИАЛЫ ШЛИФОВАЛЬНЫЕ
                                    ИЗ ЭЛЕКТРОКОРУНДА
                               МЕТОДЫ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ХИМИЧЕСКОГО СОСТАВА



                                             Издание официальное
                   БЗ 8—2004




                                                       Н ош а
                                                   Отшалрптфоры
                                                        ГЖ




нужен сертификат

УДК 666.232.2:006.354                                                                                    Группа Г25


М   Е    Ж   Г    О   С   У   Д   А   Р     С   Т   В   Е   Н    Н    Ы      Й        С Т А Н Д А Р Т

МАТЕРИАЛЫ ШЛИФОВАЛЬНЫЕ ИЗ ЭЛЕКТРО КО РУН ДА

             Методы определения химического состава
                                                                                            ГОСТ
                  Abrasive grains from aluminium oxide.                                  286 5 4-90
                  Test methods of chemical composition

МКС 25.100.70
ОКСТУ 3909

                                                                                            Дата введения 01.01.92


     Настоящий стандарт распространяется на шлифовальные материалы из нормального и белого
электрокорунда.

                                       1.   СП ЕКТРА ЛЬН Ы Й МЕТОД

     1Л. Нормы точности измерений
     Пределы допускаемых значений погрешности измерения Ag массовых долей оксидов при
доверительной вероятности Р = 0,95 не должны превышать значений, приведенных в табл. I.

                                                                                                      Таблица I
                                                Массовая доля. %

    Вил элскгрокорунла        Определяемый компонент            Диапазон iciucpeHHH
                                       тю ,                       До 1.5                         ±0.1
                                                                  От 1.5 до 3.5                  ±0.2
                                                                  До 0.5                         ±0.08
        Нормальный                                                От 0.5 до 1.5                  ±0.15
                                       СаО                        До 0.5                         ±0.06
                                                                  От 0.5 до 1,5                  ±0.1
                                                                  До 0.1                         ± 0,008
                                       SiO;                        * 0.6                         ±0.05
          Белый
                                                                                                 ± 0,080*
                                       N a,0                         * 0.6                       ±0.06

     * Для микрошлифпорошков зернистостью MS.
     1.2. Метод измерений
     Метод количественного спектрального анализа основан на определении массовой доли ком­
понентов в анализируемых пробах по почернению спектральных линий элементов с использованием
фотографической регистрации спектров и градуировочных графиков.
     Спектральный анализ проводят по методу «постоянного градуировочного графика с контроль­
ным эталоном*.
     1.3. Средства измерений, аппаратура, вспомогательные устройства, материалы и реактивы
     При выполнении измерений должны быть применены следующие средства измерений, аппа­
ратура, вспомогательные устройства, материалы и реактивы:
     спектрограф кварцевый средней дисперсии с трехлинзовой системой освещения ИС'П-30;

Издание официальное                                                                        Перепечатка воспрещена
                                                                                 © Издательство стандартов. 1990
                                                                                       © Стандартннформ, 2005

С. 2 ГОСТ 2 8 6 5 4 -9 0

     спектропроектор СПГ1-2:
     микрофотометр фотоэлектрический нерегистрирующий типов ИФО-460. МФ-2 или микроден­
ситометр М Д -100 фирмы Карл Цейс;
     генератор дуги переменного тока типа И ВС-28 или ДГ-2;
     весы лабораторные 4-го класса - по ГОСТ 24104* типа ВЛК-500 с наибольшим пределом
взвешивания 500 г.
      П р и м е ч а н и с. Допускается применение приборов аналогичного типа;
      стандартные образцы состава для каждою вида и марок шлифмагериалов элекзрокорунда (комплекты),
используемые для построения градуировочных фафиков при проведении измерений — но приложению 1;
      штатив, с помошью которого обеспечивается прямолинейное равномерное лвижснис нижнего электрода
в плоскости каретки:
      электроды (стержни и пластины) из электролитической меди марок М-0 или М-1 — по приложению 2;
      фотопластинки спектрографические типов ЭС, l u l l ;
      покачиватсль кювег механический;
      термометр рттгный стеклянный лабораторный группы Э со шкалой or 0 “С до 55 ‘С с иеной деления
0,5 ‘С - но ГОСТ 28498;
      секундомер типа СОП;
      проявитель и фиксаж составов по приложению 3;
      спирт этиловый ректификованный технический — по ГОСТ 18300;
      бязь отбеленная или марля:
      медные или стеклянные пластины.
     1.4. Требования безопасности, к квалификации оператора, условия выполнения измерений
     1.4.1. При выполнении измерений должны быть соблюдены требования пожарной безопас­
ности — по ГОСТ 12.1.004; общих санитарно-гигиенических требований — по ГОСТ 12.1.005;
безопасности труда — по ГОСТ 12.1.007; электробезопасности — по ГОСТ 12.1.019.
     1.4.2. К выполнению измерений могут быть допущены лица, ознакомленные с правилами
техники безопасности, прошедшие необходимое практическое обучение.
     1.4.3. Измерения должны производиться при соблюдении следующих условий:
      температуре воздуха в помещении......................... ....................................(20 ± 5) СС
      относительной влажности............................................................................. 60 %—80 %
      атмосферном давлении      ........................................................................... 920—1040 гПа
     Для контроля условий выполнения измерений применяют;
     термометр ртутный стеклянный лабораторный — по ГОСТ 28498 группы Э со шкалой от О 'С
до 55 *С с ценой деления 0.5 *С;
     психрометр универсальный ПБУ-1 м;
     барометр любого типа со шкалой 90—1080 гПа и иеной деления не ниже 2 гПа.
      1.5. Подготовка к выполнению измерения
     Для выполнения измерений должны быть проведены работы по подготовке аппаратуры и
средств измерений, построению постоянных градуировочных графиков, отбору и подготовке пробы.
                                                         Взаимное расположение электродов




   О О ' — о п т и ч е с к а я о с ь сп е к тр о г р а ф а : А В — п л о с к о с ть к а р етк и с н и ж н и м э ле к тр о д о м ; CD — ось в е р х н е ю эле к тр о д а


                                                                               Чсрг. 1



      * С 1 июля 2002 г. введен в действие ГОСТ 24104—2001 (здесь и далее).

ГОСТ 2 8 6 5 4 -9 0 С. 3

      1.5.1. Подготовку к работе аппаратуры, средств измерений проводят в соответствии с норма­
тивно-технической документацией на них.
      1.5.2. Перед анализом рабочие поверхности электродов протирают спиртом. Норматив расхода
спирта — 0.001 дм5 на один полученный спектр.
      1.5.3. Проверку правильности взаимного расположения электродов проводят в соответствии с
черт. 1.
      1.5.4. Постоянные градуировочные графики строят в координатах (S или AS: IgC), где S —
абсолютное почернение спектральной линии, A S — разность почернений аналитической линии и
линии сравнения, С — массовая доля определяемого компонента.
      1.5.5. Постоянные градуировочные графики для каждого вида электрокорунда строят с исполь­
зованием комплекта стандартных образцов.
      1.5.6. Для построения постоянных градуировочных графиков спектры всех стандартных образ­
цов фотографируют не менее чем на пяти фотопластинках с одним номером эмульсин, причем на
каждой фотопластинке фотографируют не менее трех спектров каждого образца.
      1.5.7. При переходе на фотопластинки с другим номером эмульсин строят новые постоянные
градуировочные графики для всех определяемых компонентов.
      1.5.8. Постоянные градуировочные графики для всех определяемых компонентов строят заново
не реже одного раза в год.
      1.5.9. Отбор и сокращ ение средней пробы для проведения изм ерения производят по
ГОСТ 3647.
      1.5.10. Масса средней пробы для испытаний должна быть не менее 20 г.
      1.5.11. От полученной по пп. 1.5.9 и 1.5.10 пробы методом квартования отбирают навеску
материала массой 7—10 г (для механического измельчения) и 1—3 г (для измельчения вручную).
     Оставшуюся часть пробы сохраняют для зачистки термокорундовых стакана или ступки и на
случай необходимости повторного анализа.
      1.5.12. Измельчение навески производят любым способом, указанным в приложении 4.
      Навески микрошлнфпорошков зернистостями М40-М1 не измельчают. Навески микрошлнф-
порошков зернистостями М63, М50 просеивают на контрольном сите с сеткой № 005 — по ГОСТ 6613.
При массовой доле зерен, задерживающихся на сите с сеткой в количестве менее 5 %, микрошлиф-
порошки зернистостями М63, М50 также не измельчают. В противном случае производят донзмель-
чение материала, задержавшегося на сите.
      1.6. Выполнение измерений
      При выполнении измерений должны быть соблюдены следующие режимы и проделаны сле­
дующие операции по пп. 1.6.1 —1.6.10:
      межэлскзродный промежуток.......................................................................2,0—2,5 мм
      номинальное значение силы тока дуги для всех мазериалов.................. 3,0 А
     скорость перемещения эле юрода с навеской для всех материалов . . . . 1.7—1,9 мм/с
     продолжительность предварительного обжига верхнего электрода . . . . от 3 до 5 с
      ширина шели спектрографа.........................................................................от 10 до 13 мкм
      1.6.1. Навеску' материала укладывают тонким равномерным слоем на нижний электрод. Раз­
равнивание слоя материала осушестдтяют закругленным краем медной или стеклянной пластинки.
      1.6.2. Нижний электрод с уложенным материалом помещают на каретку штатива под закреп­
ленным верхним электродом и устанавливают требуемый межэлектродный промежуток.
      1.6.3. Перед началом каждой экспозиции производят предварительный обжиг верхнего
электрода в разряде при неподвижном или движущемся нижнем электроде с пробой и устанавливают
силу тока.
      1.6.4. Экспозицию спектров осуществляют при поступательном равномерном введении тонко­
го слоя анализируемого материала в зону электрического разряда на прямолинейно движущемся
нижнем электроде.
      1.6.5. Для каждой навески материала на одной фотопластинке получают по две серии спектров
или на двух фотопластинках по одной серин спектров.
      Каждая серия спектров состоит из трех спектров испытуемого материала и трех спектров
стандартного образна.
     Для микрошлнфпорошков зернистостью М40 и мельче каждая серия состоит из трех спектров
анализируемого материала и трех спектров стандартного образца той же зернистости, что и анали-
зируе мы й ми к ро шл нф порошок.