Проверяемый статус документов Полнотекстовый поиск Доступ без регистрации

Карточка нормативного документа

ГОСТ 28624-90

Приборы полупроводниковые. Часть 11. Групповые технические условия на дискретные приборы

Просмотреть PDF
Статус не подтверждённа 13.09.2026Перед применением сверяйтесь с официальным источником
Удобное чтениеАбзацы и заголовки без PDF-разрывов

Межгосударственный стандарт

ГОСТ 28624-90

Приборы полупроводниковые. Часть 11. Групповые технические условия на дискретные приборы

Semiconductor devices. Part 11. Sectional specification for discrete devices

Редакционная карточка ГОСТНОРМ. Полный текст публикуется только при подтверждённом праве использования. Метаданные сверяются по нескольким источникам.

Область применения

Область применения пока не подтверждена.

1

Страница 1

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й   С Т А Н Д А Р Т
                                         С О ЮЗ А     ССР




                            ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
                          Ч асть   II. ГРУППОВЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ УСЛОВИЯ
                                       НА ДИСКРЕТНЫЕ ПРИБОРЫ

                                         ГОСТ 2 8 6 2 4 -9 0
                                      (СТ МЭК 7 4 7 - 1 1 - 8 5 )

                                         Издание официальное
БЗ 6—89/473




                                                                             .*
35 коп.




                                                                    ■£   ■


                                    ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР
                           ПО УПРАВЛЕНИЮ КАЧЕСТВОМ ПРОДУКЦИИ И СТАНДАРТАМ
                                               Мо с к в а

         сметный расчет

2

Страница 2

ПРЕДИСЛОВИЕ
     1 Официальные решения или соглашения МЭК по техническим вопросам,
подготовленные техническими комитетами, в которых представлены все заин­
тересованные национальные комитеты, выражают с возможной точность» меж­
дународную согласованную точку зрении по рассматриваемым вопросам.
    2 Эти решения представляют собой рекомендации для международного
пользования н а этом виде принимаются национальными комитетами
    5. В целях содействия международной унификации МЭК выражает по­
желание, чтоОы национальные комитеты приняли за основу взетоящкй стандарт
•МЭК п качестве своих национальных стандартов, насколько это позволяют
условия каждой страны. Любое расхождение со стандартами МЭК должно
быть четко указано а соответствующих национальных стандартах.




1—2173

3

Страница 3

В В С Л Е М МЕ
   Настоящий стандарт подготовлен Техническим комитетом
МЭК 47 «Полупроводниковые приборы*.
   Настоящий стандарт устанавливает групповые технические ус
ловия на дискретные приборы (исключая оптоэлектронные прибо­
ры) в рамках Системы сертификации изделий электронной тех­
ники МЭК (МСС ИЭТ).
   Текст настоящего стандарта основан на следующих докумен-
тах:

         По Пр*|илт шести xtc*u*i                    Омет о голосовании

       47 (Центральное бюро) 895                 47 (Центральное бюро) 938


   Болес подробную информацию можно найти в отчете о голо­
совании, указанном в данной таблице.
   Обозначение QC и номер, указанные на обложке данной Пуб­
ликации, являются номером технических условий в Системе сер­
тификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ).

4

Страница 4

УДК 621.382:006Л54                                               Группа Э23
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ                     СТАНДАРТ            СО ЮЗ А       ССР


          ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ                         ГОСТ
         4acib II. Групповые технические условия          28624-90
                  на дискретные приборы
                   Semiconductor devices.
          Part 11: Sectional specification                (CT МЭК
                     for discrete diviccs                747—11- 85)
ОКГ.ТУ w ,

                                                      Дата введения 01.01.91

                        I. ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ
   Настоящие групповые технические условия (далее — ТУ) рас­
пространяются са полупроводниковые дискретные приборы (да­
лее — приборы), за исключением оптозлектронных приборов.

                         2. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ
   Настоящие групповые ТУ должны применяться совместно с со-
отвегствуюшимн общими ТУ стандарта МЭК 747—10 (ГОСТ
28623).
   В настоящих групповых ТУ установлен порядок сертификации,
требования контроля, программы отбраковочных испытаний, тре­
бования выборочного контроля, порядок испытаний и измерений,
необходимых для подтверждения соответствия приборов заданно­
му уровню качества.
   2.1. И с п о л ь з у е м ы е д о к у м е н т ы
   СТ МЭК 747— 10 (ГОСТ 28623) «Полупроводниковые приборы.
Общие технические условия на дискретные приборы и интеграль­
ные схемы».
   2.2. Р е к о м е н д у е м ы е       значения            температур
 (пред поч ти тел ьные значения)
   Рекомендуемые значения температур установлены в СТ МЭК
747 -1, глава VI, разд. 5 (ГОСТ*).
   2.3. Р е к о м е н д у е м ы е з н а ч е н и я н а п р я ж е н и й и т о ­
ков ( пред поч ти тельные значения)
    Рекомендуемые значения напряжений и токов установлены в
СТ МЭК 747—1. глава VI. разд. 6.
    • Находится и стадии р а з р а б о т к и . _________________________
Издание официальное                                 Перепечатка воспрещена
                                     © Издательство стандартов, 1990
Показаны первые 4 из 27

История статуса

Подтверждённых событий пока нет.