ГОСТ 28623-90

ГОСТ 28 6 2 3 -9 0
                                                                       (МЭК 747-10-84)

                         М Е Ж Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й           С Т А Н Д А Р Т




                               ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
                                                Ч а с т ь       10


                                      О Б Щ И Е ТЕХНИЧЕСКИЕ УСЛОВИЯ
                                       НА ДИСКРЕТНЫЕ ПРИ Б О Р Ы
                                    И ИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ




                                               Издаине официальное




                         2
                         о
                         гч
                          I
                         О-
                         <
                         ■л)
                         ■




                                                         НОСюШ
                                                   С н н и цтм ф ори
                                                          зад




сертификационный центр

Предисловие

      1. Официальные решения или соглашения МЭК по техническим вопросам, подготовленные
техническими комитетами, в которых представлены все заинтересованные национальные коми­
теты. выражают с возможной точностью международную согласованную точку зрения по рассмат­
риваемым вопросам.
     2. Эти решения предегавляют собой рекомендации для международного пользования и в этом
виде принимаются национальными комитетами.
     3. В целях содействия международной унификации МЭК выражает пожелание, чтобы нацио­
нальные комитеты приняли за основу настоящий стандарт МЭК в качестве своих национальных
стандартов, насколько это позволяют условия каждой страны. Любое расхождение со стандартами
МЭК должно быть четко указано в соответствующих национальных стандартах.

Введение

     Настоящий стандарт подготовлен Техническим комитетом МЭК 47 «Полупроводниковые
приборы».
     Настоящий стандарт устанавливает общие технические условия полупроводниковых при­
боров: дискретных приборов и интегральных микросхем (исключая оптоэлектронные приборы и
гибридные микросхемы) в рамках Системы сертификации изделий электронной техники МЭК
(МСС ИЭТ).
     Текст настоящего стандарта основан на следующих документах:



             По правилу шести месяцев                       Отчет о голосовании

 47 (Центральное бюро) К16                    47 (Центральное бюро) 818
 47А «Центральное бюро) 108                   47А (Центральное бюро) 111
 47 (Центральное бюро) 893                    47 (Центральное бюро) 928
 47А (Центральное бюро) 128                   47А (Центральное бюро) 139
 47 (Центральное бюро) 894                    47 (Центральное бюро) 929
 47А (Центральное бюро) 129                   47А (Центральное бюро) 140


             Г1о правилу двух месинс в                      Отчет о голосовании

 47 (Центральное бюро) 826                    47 (Центральное бюро) 867
 47А (Центральное бюро) 112                   47А (Центральное бюро) 119



     Более подробную информацию можно найти в отчетах о голосовании, указанных выше.
     Обозначение QC и номер, указанные на обложке данной Публикации, являются номером тех­
нических условий в Системе сертификации изделий электронной техники МЭК (МСС ИЭТ).

УДК 621.382:006.354                                                                                  Группа Э20



     М Е Ж Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й                                            С Т А Н Д А Р Т

               ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ

                               Часть           10

 Общие технические условия па дискретные приборы и интегральные                                ГОСТ
                          микросхемы                                                        28623-90
                                                                                         (МЭК 747-10-84)
                            Semiconductor devices.
    Pan 10. Generic specification for discrete devices and integrated circuits

МКС 31.080
    31.200
OKCTY 6331. 6341

                                                                                        Дата введении 1991—01 —01



                                       1.   ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ

     Настоящий стандарт устанавливает общие технические условия (далее — ТУ) на полупровод­
никовые приборы (далее — приборы), дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая
многокристальные микросхемы, та исключением оптоэлектронных приборов и интегральных мик­
росхем.
     Настоящий стандарт устанавливает общий порядок сертификации, применяемый в Системе
сертификации изделий электронной техники (далее — ИЭТ), а также общие принципы методов из­
мерения электрических характеристик, климатических и механических испытаний, испытаний на
срок службы.

     П р и м е ч а н и е . Настоящий стандарт должен применяться совместно с групповыми ТУ. ТУ на се­
мейство п стандартами «форма Ту», если таковые имеются, на приборы конкретного типа или типов.


                                         2. ОБЩ ИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

     2.1. Порядок приоритетности нормативно-технических документов (далее — НТД)
     При наличии в НТД противоречивых требований устанавливается следующий порядок при­
оритетности:
     1) ТУ на приборы конкретных типов;
     2) ТУ на семейство приборов, если таковые имеются;
     3) форма ТУ на приборы конкретных типов;
     4) групповые ТУ;
     5) общие ТУ;
     6) основополагающие ТУ;
     7) правила процедуры системы сертификации ИЭТ МЭК;
     8) любой другой международный НТД (например СТ МЭК), на который дается ссылка;
     9) национальный НТД.
     Аналогичный приоритет должен быть установлен для соответствующих национальных Н ГД.



Издание официальное                                                                       Перепечатка воспрещена

                                                                                 © Издательство стандартов. 1990
                                                                                       © Стандартинформ. 2005