Межгосударственный стандарт
ГОСТ 28578-90
Приборы полупроводниковые. Механические и климатические испытания
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods
Редакционная карточка ГОСТНОРМ. Полный текст публикуется только при подтверждённом праве использования. Метаданные сверяются по нескольким источникам.
Область применения
Область применения пока не подтверждена.
1
Страница 1
ГОСТ 28578-90
(МЭК 749-84)
М Е Ж Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й С Т А Н Д А Р Т
ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
МЕХАНИЧЕСКИЕ И КЛИМАТИЧЕСКИЕ ИСПЫТАНИЯ
Издание официальное
ЬЗ 9 -2 0 0 4
Носка*
Станивртянформ
ЗОИ
архитектурное бюро2
Страница 2
ПРЕДИСЛОВИЕ
1. Официальные решения или соглашения МЭК по техническим вопросам, подготовленные техни
ческими комитетами, в которых представлены все заинтересованные национальные комитеты, выражают
с возможной точностью международную согласованную точку зрения по рассматриваемым вопросам.
2. Эти решения представляют собой рекомендации для международного пользования и в этом
виде принимаются национальными комитетами.
3. В целях содействия международной унификации МЭК выражает пожелание, чтобы все
национальные комитеты приняли настоящий стандарт МЭК в качестве своего национального
стандарта, насколько это позволяют условия каждой страны. Любое расхождение со стандартом
МЭК должно быть четко указано в соответствующих национальных стандартах.
II3
Страница 3
ВВЕДЕНИЕ
Стандарт МЭК 749—84 подготовлен Техническим комитетом М ЭК 47 «Полупроводниковые
приборы*.
Публикация МЭК 749 представляет собой общий стандарт на механические и климатические
испытания, применяемые к дискретным приборам и интегральным схемам.
На совещании в Лондоне в сентябре 1982 г. Технический комитет МК 47 одобрил переиздание
Публикаций МЭК 147 и МЭК 148 на основе нового принципа в зависимости от вида рассматрива
емого прибора. Поскольку все части, составляющие настоящую публикацию, были в свое время
утверждены по Правилу шести или двух месяцев, дополнительное голосование было признано
нецелесообразным.
Сведения относительно дискретных приборов и интегральных схем, содержащиеся в Публи
кациях М ЭК 147 и М ЭК 148. включены в Публикацию М ЭК 747 и МЭК 748.
Сведения относительно механических и климатических испытаний, ранее содержащиеся в
Публикациях МЭК 147-5 и М ЭК I47-5A, включены в Публикацию МЭК 749.
Соответствие данного стандарта современному уровню технически будет обеспечиваться путем
пересмотра и дополнения его, по мере дальнейшей работы технического комитета МЭК 47, с учетом
последних достижений в области полупроводниковых приборов.
П р и м е ч а н и е . Публикации МЭК 747 и МЭК 748 аннулируют и заменяют, но мерс издания их
отдельных частей. Публикациями МЭК 147 и МЭК 148.
Настоящая публикация заменяет Публикацию МЭК 147-5 и М ЭК 147-5А.
Таблица соответствия новых и прежних пунктов
Нопая публикация Новая публикация
МЭК 749 Прежние публикации МЭК 749 Прежние публикации
Номер Номер Номер Номер Номер Номер
Номер Помер раысла, публикации Номер Номер
П1ДПЫ раздела. раздела. piujeja, публика
главы пункта МЭК 1.121ЯЫ главы
пункта пункта пункта ции МЭК
I _ 0 _ 147-5 ш _ и _ 147-5
I 1 0 1 147-5 ш 1 п i 147-5
1 1.4 I 1,4 147-5 in l.l п u 147-5A
1 2 0 2 147-5 mi 1.2 и 1.2 147-5
1 3 0 3 147-5 in 2 и 2 147-5
I 4 0 4 147-5 in 3 п 3 147-5
I 5 0 5 147-5 in 5 п 5 I47-5A
1 6 0 ь 147-5 in 6 и 6 147-5A
и _ 1 — 147-5 in 7 и 7 147-5
и 1 1 1 147-5 in 7.1 и 7.1 147-5
и 1.1 I 1.1 147-5 hi 7.2 и 7.2 147-5
и 1.2 1 1.2 147-5 in 7.3 п 7,3 147-5
и 1,3 1 1,3 147-5 in 7.4 — _ —
и 2 1 2 147-5 in 8 н 8 147-5
и 2.1 1 2.1 147-5 in 9 п 9 147-5A
и 2.2 I 2.2 147-5 IV — ш — 147-5
и 3 1 3 147-5 IV 1 in 1 147-5
и 4 — — — IV l.l in l.l 147-5
и 4 1 4 147-5 IV 2 in 2 147-5
и 5 I 5 147-5
и 6 1 6 147-5А
III4
Страница 4
УДК 621.382.001.4:006.354 Группа Э29
М Е Ж Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й С Т А Н Д А Р Т
ПРИ БО РЫ ПОЛУ 11РОВОДН И КОВЫ Е
ГОСТ
Механические и климатические испытания
28578-90
Semiconductor devices. (МЭК 749-84)
Mechanical and climatic test methods
МКС 31.080
ОКСТУ 6000
Дата введения 01.01/Л
Г л а в а I. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ
1. ОБЛАСТЬ П РИ М ЕН ЕН И Я
Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний, применяемые к полупроводниковым
приборам (дискретным приборам и интегральным схемам). Для приборов без внутренних полостей
могут потребоваться дополнительные методы испытании.
П р и м е ч а н и е . Прибор без внутренней полости — это прибор, в котором герметизирующий материал
непосредственно контактирует со всеми внешними поверхностями активною элемента и при изготовлении
которого заполняется все внутреннее свободное пространство.
В настоящем стандарте, по возможности, учтены требования МЭК 68 (ГОСТ 28198-
ГОСТ 28236).
2. ЦЕЛЬ
Установление единых методов испытаний с предпочтительными значениями уровней нагрузки
для оценки степени воздействия внешних факторов на полупроводниковые приборы.
В случае противоречия между настоящим стандартом it соответствующей нормативно-техни
ческой документацией (НТД) предпочтение отдается последней.
3. Т Е РМ И Н Ы , ОП РЕДЕЛЕН ИЯ И БУКВЕННЫ Е ОБОЗНАЧЕНИЯ
Ссылки делаются на М ЭК 68 (ГОСТ 28198-ГО С Т 28236). МЭК 747* и М ЭК 748*.
4. НО РМ А ЛЬН Ы Е А ТМ О СФ ЕРНЫ Е УСЛОВИЯ
Ссылка: МЭК 68-1 (ГОСТ 28198).
Если не оговорено иное, все выдержки и восстановления проводятся при нормальных атмо
сферных условиях испытания, как указано в МЭК 68—1. п. 5.3 (ГОСТ 28198, п. 5.3):
- температура от 15 *С до 35 ‘С;
- относительная влажность от 45 % до 75 %, в случае необходимости:
- атмосферное давление от 86 до 106 кПа (860—1060 мбар).
* Государственный стандарт находится и стадии разработки.
Издание официальное Перепечатка воспрещена
£> Издательство стандартов, 1990
<© Стандартн нформ, 2005Показаны первые 4 из 23
История статуса
Подтверждённых событий пока нет.