ГОСТ 27264-87

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й  СТ АНДАР Т
                                  СОЮЗ А      ССР




                         ТРАНЗИСТОРЫ СИЛОВЫЕ
                              БИПОЛЯРНЫЕ
                               МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ

                                  ГОСТ 27264 —87
                                (СТ СЭВ 5 5 3 8 -8 6 )

                                 Издание официальное




                     ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ
                                       М о с к в а




скатерть крючком

У Д К 621.М2.31.001.01:006.354                                         Группа Е69

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й           С Т А Н Д А Р Т      С О Ю З А       ССР



       ТРАНЗИСТОРЫ СИЛОВЫЕ БИПОЛЯРНЫЕ
                                                                ГОСТ
                  Методы измерений
                Ppuc-r brpolar lransis(or$.
                                                             2 7 2 6 4 -8 7
                 Measurement methods
                                                          |СТ СЭВ SS38—86)

ОКП 34 1700

                                                          Дата   ааедения   01.01.86


   Настоящий стандарт распространяется на силовые биполярные
транзисторы, в том числе составные (в дальнейшем — транзисто­
ры), на токи 10 А и более и устанавливает методы измерений элек­
трических, тепловых параметров и проверок предельно допусти­
мых значений параметров.

                                 1. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

   1.1. Измерения и проверки параметров, если не оговорено осо­
бо. проводят при нормальных климатических      условиях по ГОСТ
20.57.406-81.
   1.2. Если не оговорено особо, общая относительная погрешность
измерения или проверки параметров не должна превышать ± 1 5 %
для временных параметров н ± 1 0 % для остальных параметров
с доверительной вероятностью 0,95. Конкретные значения пог­
решностей, при необходимости, должны устанавливаться в техни­
ческих условиях на транзисторы конкретных типов.
   Погрешность установления и поддержания режимов измере­
ния параметров и проверки предельно допустимых значений пара­
метров не должка превышать ± 5 % для постоянных токов, нап­
ряжений, мощностей и ± 1 0 % для переменных или импульсных
токов, напряжений, мощностей.
   Погрешность измерения теплового сопротивления не устанав­
ливается.




Издание официальное                                       Перепечатка аослрещема
      ★
                                          © Издательство стандартов, 1987
2 Зак. 1167

С. 2 ГОСТ 172*4-17


      1.3. Измерительные устройства, предусмотренные схемами для
 установления и регулирования режима измерения, могут быть ис­
 ключены и заменены устройствами автоматического установления
 и регулирования режима. При этом погрешность этих устройств
 должна Сыть такой, чтобы погрешность установления и поддер­
 жания режимов измерения и проверки соответствовала я. 1.2.
     1.4. В качестве измерительных устройств мгновенных и ампли­
 тудных значений, предусмотренных схемами для измерения па­
 раметров, допускается применение как осциллоскопов, так и других
 измерительных устройств (в том числе для измерения временных
 интервалов).
     При этом метрологические характеристики        измерительных
 устройств должны быть такими, чтобы погрешность измерения и
 проверки соответствовала требованиям п. 1.2.
     1.5. Д о начала измерения параметров и проверки предельно
 допустимых значений параметров при максимально и (или) мини­
 мально допустимой рабочей температуре        транзисторы должны
 прогреваться или охлаждаться до полного установления теплово­
го равновесия. Точность поддержания температуры перехода до
 измерения и проверки параметров должна находиться в пределах
 ± 5 СС (при нагревании транзисторов внешним источником тепла).
При измерении параметров как критериальных в процессе испы­
таний на воздействие внешних факторов точность        поддержания
температуры — в соответствии с требованиями метода испытаний
по ГОСТ 20.57.406-81.
    Контроль температуры перехода должен осуществляться по
температуре корпуса; допускается контроль по температуре окру­
жающей среды.
    При этом необходимо принимать меры, обеспечивающие мини*
малыюе изменение температуры перехода относительно корпуса
млн окружающей среды в процессе измерений параметров.
     I 6. При измерении параметров транзисторов устанавливаются
фактические их значения; при проверке предельно        допустимых
значении параметров устанавливается только их соответствие нор­
мированным допустимым значениям без измерения их фактичес­
ких значений, при этом выход за пределы норм предельно допус­
тимых значений не допускается.
    Для проверки параметров транзисторов должны быть исполь­
зованы методы настоящего стандарта,       предназначенные для их
измерения. При этом в качестве измерительных устройств могут
быть использованы пороговые измерительные устройства, указы­
вающие на нахождение проверяемого         параметра внутри и вне
пределов норм, без указания ого конкретного значения.
    1.7.      Источники напряжения и тока,     применяемые в схемах,
должны обеспечивать выходные величины в пределах установлен-

ГОСТ 37264—87 С. 3


 ных норм вне зависимости от любых причин,     влияющих на лих
 (в том числе, процессов включения и выключения источников).
    1.8. Стабилизированные источники тока и напряжения должны
 обеспечивать необходимую стабилизацию тока и напряжения и
 малый уровень пульсации для обеспечения требуемой аочности из­
 мерений и проверки.
    1.9. Должна быть предусмотрена защита нзмерителыных при­
боров схемы от перегрузок, являющихся результатом выхода из
строя испытуемых транзисторов.
    1.10. Допускается   применение объединенных электрических
схем для контроля нескольких характеристик и предельно допус­
тимых значений параметров.
    1.11. Пели в настоящем стандарте при описании схем указы­
ваются высокие сопротивления или проводимость элементов ехзм
 (в том числе и измерительных приборов), то их значения должны
быть настолько большими, чтобы любое их увеличение не вызы­
 вало бы значительного изменения измеряемых      параметров или
режимов измерения и проверки (превышающего допустимую пог­
решность измерения).
    1.12. Полярность источников питания, указанных на схемах,
относится к транзисторам типа п—р —п. Для транзисторов типа
р—п ~ р полярность должна быть обратной.
    1.13. Общая относительная погрешность измерения и проверки
по п. 1.2 должна учитывать относительную погрешность установки
и дополнительную погрешность, которая определяется степенью
влияния погрешности установления и поддержания режимов изме­
рения и проверки на значение контролируемого параметра.
    1.14. Конкретные значения параметров режимов из диапазона
значений, указанных в настоящем стандарте (длительность импуль­
сов, скважность п т. и.), должны устанавливаться в технических
условиях из транзисторы конкретных гилов.
    1.15. Общие требования безопасности при испытаниях и изме­
рениях должны соответствовать ГОСТ 12.3.010—80.
    1.16. Методы измерения и проверки даны применительно к ис­
пользованию транзисторов н схеме с общим эмиттером.
    1.17. Обозначения параметров — но ГОСТ 20003—74.

       2. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ И ПРОВЕРКИ ПРЕДЕЛЬНО
                ДОПУСТИМЫХ ЗНАЧЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ

    2.1. М е т о д и з м е р е н и я о б р а т н о г о т о к а к о л л е к ­
т о р а - э м и т т е р а (/кэ о , 1 кэр, / кэх )
    2.1.1. Общие положения
    2.1.1.1. Измерение проводят при температуре перехода 25 °С и
(или) при максимально допустимой рабочей температуре перехо­
да.