ГОСТ 25369-82

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й   С Т А Н Д А Р Т
                                           С О Ю З А     ССР




                             ФОТОЭЛЕМЕНТЫ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ
                                        ОСНОВНЫЕ ПАРАМЕТРЫ
                               МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ ОСНОВНЫХ ПАРАМЕТРОВ


V                                         ГОСТ 25369-82

                                           Издание официальное




     I
    Цеиа




                                ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ
                                                 М о с и н ,' " ~
           кружево вологда

РАЗРАБОТАН Государственным комитетом СССР по стандартом
 ИСПОЛНИТЕЛИ
      Б. М. Степане» (руководитель темы), Л. И. Андрее»», М. М. Егеро». И. Н.
      Гусе»». С. А. Кайдвло», А. Ф. Котюк, В. И. Сачхо». 3. М. Семмчастно»»,
      А. П. Ромашке», В. А. Яковлев

 ВНЕСЕН Государственным комитетом СССР по стандартам
      Член Госстандарта Л. К. Исае»

 УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государств
 венного комитета СССР по стандартам от 30 июля 1982 г. Н* 2990




                               Редактор В. П. Оеурцой
                         Технический редактор А. Г. Каширин
                             Корректор Н. Н, Жухозцееа

Сдано в иаб. И С<>62 Пол '-, к печ. М.С9 82 1,0 п. л. 1,19 уч.-ю а. л. Тир. 10000 Ц»»» 8 «ап.
Ордена сЗи ав Почет*» И здательство стандартов. 123857. Москва. Коаояресиеасх»8 гер.. 3.
             Калужская типография стандартов, уд. Московская. 2SS. Зах. 2118

УДК 621.181.083:006.254                                          Группе П49
Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й       С Т А Н Д А Р Т     СО ЮЗ А       ССР



          ФОТОЭЛЕМЕНТЫ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ
               Основные параметры.                         ГОСТ
       Методы измерений основных параметров
        Measuring photocells Basic parameters,
                                                      2 5 3 6 9 -8 2
        measuring methods of basic parameters



Постаиовпсимем Государственного комитета СССР по      стандартам от 10 июля
1982 г. No 2990 срок введения установлен
                                                                   с 01.07.81


               Несобяюдвние стандарта лрсспедуется по закону
   Настоящий стандарт распространяется на фотоэлементы изме­
рительные (далее фотоэлементы), предназначенные для исполь­
зования в качестве средств измерений мощности и динамических
характеристик оптического излучения, и устанавливает перечень
основных параметров и методы их измерений.
   Стандарт не распространяется на фотоэлементы, поставляе­
мые как комплектующие изделия для средств измерений.

                           1. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

   1.1. Все измерения проводятся при нормальных условиях н со­
ответствии с ГОСТ 24469—80.
   1.2. В помещении, где проводятся измерения, не должно быть
конвекционных потоков (в том числе активной вентиляции), ис­
точников пыли, посторонних тепловых возмущений, внешних маг­
нитных полей.
    1.3. А п п а р а т у р а
   1.3.1.       Все параметры фотоэлементов измеряют в защитной ка
море. Защитная камера должна обеспечивать защиту фотоэлемен­
тов от шнешних источников излучения, а также от воздействия
магнитных и электрических полей.
   Защитная камера должна иметь электрическое соединение с
общей точкой измерительной схемы испытательной установки. Не

Издание официальное                                Перепечатка аоспрещена
       ★
                                      © Издательство стандартов, 1982

Стр.   2 ГОСТ Ш И —«2

допускается использовать материалы с высокой люминесценцией
в качестве конструктивных элементов, находящихся вблизи фото­
катода. Предпочтительным материалом для этих целей является
органическое стекло.
    Конструкция камеры должна исключить появление побочных
отражений от стенок камеры и деталей, расположенных в камере.
    1.3.2. Для ослабления потока оптического излучения использу­
ют измерительные ослабители. Для ослабителей излучения дол­
жны быть указаны следующие технические и метрологические ха­
рактеристики: коэффициент ослабления как функция длины вол­
ны, погрешность коэффициента ослабления как функция коэффи­
циента ослабления и длины волны; стабильность коэффнцнечпа
ослабления во времени.
     1.3.3. Источники питания
   В качестве источников питания фотоэлементов должны приме­
няться источники постоянного напряжения с нестабильностью вы­
ходного напряжения не более 0,1 % при изменении напряжения
питающей сети на ± 1 0 % и нестабильностью в течение времени,
необходимого для проведения измерений, не более 0,1 %. •
   Напряжение на выходе источника питания должно регулиро­
ваться в пределах, необходимых для измерения конкретного па­
раметра фотоэлемента.
    1.3.4. Источники питания источника излучения
    В качестве источников питания источника излучения применя­
ют источники постоянного или переменного напряжения.
    Нестабильность выходного напряжения источников питания
при изменении напряжения питающей сети на ± 1 0 % и в течение
времени, необходимого для проведения измерения, должна быть
не более — 0,2 %.
    1.3.5. Измерительные приборы
    Предел допускаемой относительной погрешности приборов,
контролирующих напряжение питания фотоэлементов, должен со­
ответствовать требуемой точности измерений, указанной в норма­
тивно-технической документации на фотоэлементы конкретных ти­
пов.
    1.4. Т р е б о в а н и я б е з о п а с н о с т и
    1.4.1. При подготовке к измерениям и при проведении измере­
ний параметров фотоэлементов следует руководствоваться общи­
ми правилами безопасности в соответствии с ГОСТ 12.2.003-—74 и
ГОСТ 24469-80.
    1.4.2. Защитная камера с фотоэлементом должпа быть обору­
дована блокировкой, исключающей возможность прикосновения
оператора к- токопроводящим частям, а также сигнализацией о
включении высокого напряжения.
    1.4.3. Металлические корпуса измерительных приборов, в том
числе переносных, необходимо заземлить.