Проверяемый статус документов Полнотекстовый поиск Доступ без регистрации

Карточка нормативного документа

ГОСТ 25278.12-82

Сплавы и лигатуры редких металлов. Спектральный метод определения кремния, железа, алюминия, марганца и хрома в сплавах на основе ванадия

Просмотреть PDF
Статус не подтверждённа 20.09.2026Перед применением сверяйтесь с официальным источником
Удобное чтениеАбзацы и заголовки без PDF-разрывов

Межгосударственный стандарт

ГОСТ 25278.12-82

Сплавы и лигатуры редких металлов. Спектральный метод определения кремния, железа, алюминия, марганца и хрома в сплавах на основе ванадия

Alloys and foundry alloys of rare metals. Spectral method for determination of silicon, iron, aluminium, manganese and chromium in alloys on vanadium base

Редакционная карточка ГОСТНОРМ. Полный текст публикуется только при подтверждённом праве использования. Метаданные сверяются по нескольким источникам.

Область применения

Область применения пока не подтверждена.

1

Страница 1

У Д К 669.85/.86.018 : 543.06 : 006.354                                                  Группе В59

      Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й                          С Т А Н Д А Р Т        С О Ю З А       С С Р


                               СПЛАВЫ И ЛИГАТУРЫ РЕДКИХ МЕТАЛЛОВ
                               Спектральный метод определенна кремния,
                             ж елеза, алюминия, марганца и хрома я сплавах
 .                                         на основе ванадия
                                                                                        ГОСТ
                ,
         Alloys and foundry alloys of rate m dals
       Spectral method for determination of silicon,
          J                                                                       25278.12-82
        iron, aluminium, manganese and chromium
                 in alloys on vanadium base
   ОКСТУ 1709

                                                                             С рок действия      с 01.0У.83
                                                                                                до 01.07.93

                                        Несоблюдение стандарта преследуется по закону


      Настоящий стандарт устанавливает спектральный метод оп­
   ределения кремния, железа, марганца и хрома (от 0,02 до 1%),
   алюминия (от 0,1 до 1%). в сплавах и лигатурах на основе ва­
   надия (компоненты: вольфрама не более 10%i молибдена не бо­
   лее 10%, титана не более 15%, циркония не более 5%j .
      .Метод основан на зависимости интенсивности спектральных
   линий кремния, железа, алюминия, марганца н хрома от их мас­
   совой доли в образце при возбуждении спектра в дуге постоян­
   ного тока.

                                                    1.   ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ

     1.1.    Общие требования к методам анализа и требования бе­
  зопасности - по ГОСТ 26473.0—85.
     (Измененная редакция, Изм. № 1).

                                           2.   АППАРАТУРА, МАТЕРИАЛЫ И РЕАКТИВЫ

     Спектрограф дифракционный ДФС-8 с решеткой 600 штр/м.м
  (комнлетная установка с универсальным штативом) или анало­
  гичный ему прибор.
     Источник постоянного тока, обеспечивающий напряжение не
  менее 260 В и силу тока не менее 20 А.
     Электропечь муфельная с терморегулятором, обеспечивающим
  температуру 800—900^С.
     Микрофотометр МФ-2 или аналогичный ему прибор.
     Чашки платиновые.                          ■

   И зд а н и е офи ци альн ое                                                   Перепечатка воспрещена
                                                                                                        93
энергоэффективность зданий

2

Страница 2

С. 2 ГОСТ 21278.12— 82


    Весы аналитические типа ЛДВ-200 или аналогичного типа.
    Весы торсионные тира ВТ-500.                           „
    Спектропроектор типа ПС-18 или аналогичного типа.
    Приспособление для заточки графитовых электродов.
    Ступка и пестик из органического стекла.
    Бокс из органического стекла.
    Электроды графитовые ОСЧ-7—3 диаметром б мм, со сфери­
ческим углублением на торце (радиус сферы — 5 мм, глубина —
1 мм) и заточенные на выпуклую полусферу радиусом 5 мм, обож­
женные в дуге постоянного тока при 10 А в течение 7 с.
    Вазелин косметический или аналогичный, чистый по кремнию,
железу, алюминию, марганцу и хрому на уровне 5-10"*.% масс.
    Пластинка из органического стекла размером 6X20 см для
смешивания пробы с вазелином.
    Подставки из оргстекла и дерева для электродов с пробой.
    Мерник-пластина толщиной 4 мм с просверленным отверстием
диаметром 5 мм. ’                 .                    .
    Пластинки фотографические спектральные 0X12 тип 2, чувств.
 15 ед. нлн аналогичные, обеспечивающие нормальные почернения
аналитических линий.
    Ванадия пятнокись спектрально-чистая.
    Железа окись по ГОСТ 4173—77, ч.д.а.
    Кремния двуокись по ГОСТ 9428—73, ч.д.а.
    Алюминия окись, ч.д.а.
    Аммоний хлористый но ГОСТ 3773—72.                           .
    Натрий серноватистокислый но ГОСТ 27068—86.
    Марганца двуокись х.ч.
    Хрома окись, я-Д а.
    Спирт этиловый ректификованный технический по ГОСТ
 18300-72.
    Проявитель по ГОСТ 10691.1—8*1.
    Фиксаж: 300 г еерноватистокмслого натрия, 20 г хлористого
аммония растворяют соответственно в 700. и 200 гм3 воды, сливают
полученные растворы вместе и доводят общин объем водой до
 1 дм*.
    Секундомер.
    Калька.
    Вата.
    Шпатель.
    Скальпель.
    Пинцет.
    Лампа инфракрасная ИКЗ-500 с регулятором напряжения ти­
па РНО-250—0,5 или регулятором аналогичного тина.
    (Измененная редакция, Изм. N2 1).
04

3

Страница 3

ГОСТ 2J278.12—82 С. 3

                                      Э.   ПО ДГОТОВ КА К А Н А Л И ЗУ

    3.1. Приготовление основного образца сравнения (ООС), со­
держащего оо 5% кремния, железа, алюминия, марганца и хрома.
     Образцы сравнения готовят на основе, представляющей собой
•чистую пятнокись ванадия (при суммарном содержании легирую­
 щих компонентов в сплаве до 8%) или искусственную смесь окис­
лов. имитирующую состав анализируемого сплава (основа).
     1,3400 г основы, 0,1069 г двуокиси кремния, 0,0715 г окиси же­
леза, 0,0945 г окнеи алюминия, 0,0790 г двуокиси марганца,
 0,0730 г окиси хрома перетирают в ступке из органического стек­
ла под слоем спирта (30 см1) в течение 1,5—2 ч. Смесь просу­
шивают под инфракрасной' лампой до постоянной массы. Перед
 взятием навесок оксида прокаливают при температуре 400°С до
 постоянной массы.
    Массу навесок взвешивают на весах, шпателем пересыпают в
 пакеты из кальки. Шпатель, лодочку весов, ступку протирают ва­
 той, смоченной спиртом. Для приготовления пакетов кальку раз­
резают скальпелем.
     (Измененная редакция, Изм. Л* 1).               * -
    3.2. Приготовление образцов сравнения (ОС) последователь­
ным разбавлением основного образца сравнения, а затем каждого
 последующего образца основой.
     Массовая доля каждой из определяемых примесей в образце
сравнения (в процентах в расчете на содержание металла в смеси
 металлов) и масса вводимых в смесь навесок основы и разбавляе­
 мого образца указаны в табл: 1.
     Смеси перетирают в ступке под слоем спирта (30 см5) в те­
 чение .1,5—2 ч и высушивают под инфракрасной лампой.
     Образцы сравнения хранят в полиэтиленовых банках с крыш?
 ками из полиэтилена.


                                                                                           Таблица I
                                                                           •Масса р.а весок, г
 О б о ч о -л -п в с р а б о ­
                                 М ассов ая д о л я прЛ-
                                  иеск к о е м н к я . ж е­
     чего образц а                 л е з а , алк*мкявя,
        сра а и с н и я          uap rsm u * . х ром а, %     огиоаы                ри эб ао л л см о го о б р а зц а



           ОС1                             1.0                1 .4 9 6 0                 0 ,3 7 4 0    (О О С )
           ОС2                             0 .5               1 ,0 0 0 0                  1 .0 0 0 0   (О С -1 )
           ОСЗ                             Q.2                1 .1 1 0 0                 0 .7 4 0 0    (О С -2 )
           ОС4                             0.1                1 ,0 0 0 0                 1 ,0 0 0 0    (О С -3 )
           ОС5                             а о 5              1 .0 0 0 0                 1 .0 0 0      (О С -4 )
           ОС6                             0 .0 2             0 ,6 0 0 0                 0 ,4 0 0 0    (О С -5 )


     <Измененная редакция, Изм. Лк 1).
                                                                                                                   95

4

Страница 4

С. 4 ГОСТ 25278.12— 82


                          4.    ПРОВЕДЕНИЕ АНА ЛИЗА

   Навеску анализируемой пробы массой 0.5 г помещают в пла­
тиновую чашку и прокаливают в муфеле до постоянной массы при
температуре 850°С.
   Взятую из муфельной печи чашку с окисленным расплавом
охлаждают на воздухе, смочив расплав 10 см3 спирта. Сл'егка де­
формируя стенки чашки, извлекают расплав и тщательно рас­
тирают его с 10 см* спирта в ступке из органического стекла.
Смесь просушивают под инфракрасной лампой до постоянной мас­
сы. Взвешивают на торсионных весах 5 мг подготовленного об­
разца и смешивают его с вазелином, взятым с помощью меринка,
на стеклянной пластинке с помощью шпателя. Полученную смесь
наносят шпателем на три электрода со сферическим углублени­
ем на торце.
   Электрод с пробой устанавливают в нижний держатель штати­
ва с помощью пинцета. В верхний держатель устанавливают
угольный электрод, заточенный на выпуклую полусферу. Индекс,
шкалы длин волн спектрографа устанавливают так, чтобы учас­
ток спектра около 290 нм оказался в середине спектрограммы. На
промежуточном конденсоре устанавливают диафрагму 5 мм. М еж­
ду электродами зажигают дугу постоянного тока и фотографиру­
ют спектры каждой пары электродов на спектрографе, пользуясь
трехлинзовой системой освещения щели.
     Ток дуги поддерживают равным (15±0.5) А.
   Межэлектродцре расстояние 3 мм, экспозиция каждого спект­
ра 30 с. Те же операции выполняют с образцами сравнения, спект­
ры которых фотографируют на ту же фотопластинку. Спектр
каждого анализируемого образца (или каждого образца сравне­
ния) фотографируют три раза.
   (Измененная редакция, Изм. №* I).

                         5.    ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ

    5.1. В каждой из полученных спектрограмм фотометрированием
находят почернение аналитической линии примеси (S!K) и линии
сравнения (SCp) (табл. 2) и вычисляют разности почернений
A S - 8 ' J U ~ Sep. По трем значениям ASi, AS*. AS3, полученным по
трем спектрограммам, снятым для каждого образца, находят сред­
нее арифметическое значение (AS).
    По результатам фотометрнрования спектров образцов сравне­
ния сгроят градуировочные графики в координатах lgC- AS, где
!gC — логарифм массовой доли определяемого элемента в образце
(равнения.
96
                                                                      |
Показаны первые 4 из 7

История статуса

Подтверждённых событий пока нет.