Проверяемый статус документов Полнотекстовый поиск Доступ без регистрации

Карточка нормативного документа

ГОСТ 24461-80

Приборы полупроводниковые силовые. Методы измерений и испытаний

Просмотреть PDF
Статус не подтверждённа 15.09.2026Перед применением сверяйтесь с официальным источником
Удобное чтениеАбзацы и заголовки без PDF-разрывов

Межгосударственный стандарт

ГОСТ 24461-80

Приборы полупроводниковые силовые. Методы измерений и испытаний

Power semiconductor devices. Test and measurement methods

Редакционная карточка ГОСТНОРМ. Полный текст публикуется только при подтверждённом праве использования. Метаданные сверяются по нескольким источникам.

Область применения

Область применения пока не подтверждена.

1

Страница 1

1ЧЧС{-*°



                     г о с у д а р с т в е н н ы      й       с т а н д а р т

                                    С О Ю З А        С С Р




                     ПРИБОРЫ ПО ЛУПРО ВО ДНИКО ВЫ Е
                              СИ ЛО ВЫ Е
                            М ЕТО Д Ы ИЗМ ЕРЕНИ И И ИСПЫТАНИИ

                                     ГО С Т 2 4 4 6 1 — 8 0
                                    (СТ С Э В 1 6 5 6 - 79J


                                    Издание официальное
80 коп.




                        госуддрстаж ныи комитет с с о п о -управлению
                             КАЧЕСТВО.1.'. ПРОДУКЦИИ И стая/ДОтям/~

  ажурные салфетки

2

Страница 2

УДК 621.382.019 : 006.354                                           Группа Е69

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й        С Т А Н Д А Р Т      С О Ю З А       ССР




     ПРИБОРЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СИЛОВЫЕ
                                                               ГОСТ

            Методы измерений .и испытаний                    24461—80

              Power semiconductor devices.                 (CT СЭВ 1656—79J
             Test and measurement methods

OKU 34 I TOP


                                                Срои действия        с 01.01.82
                                                                   -до 0 1 0 1 9 5 -


   Настомщий стандарт распространяется на силовые полупро8о4-‘
пиковые приборы (и дальнейшем — приборы): кроме арсеннд-гал-
лиевых приборов, диоды, тиристоры на максимально допустимые
средние или действующие токи 10 А и более н устанавливает ме­
тоды измерения параметров и проверки (испытаний) предельно
допустимых значений параметров, н том числе условия, схемы, ре­
жимы, требования к элементам схем и контрольно-измерительно­
му оборудованию, последовательность операций при измерениях
и проверках.
   Основные понятия, встречающиеся в стандарте, приведены в
справочном приложении 1.
   (Измененная редакция, Изм. № 2 ).

                            1. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

   1.1. Измерения и проверки, если не указано особо, проводятся
при нормальных климатических условиях по ГОСТ 15150—69.
   1.2. Если не оговорено особо, общая относительная погрешность
измерения или проверки не должна превышать ifcl0% для им­
пульсного прямого напряжения или импульсного напряжения в
открытом состоянии и максимально допустимого неповторяющего­
ся импульсного напряжения и ± 1 5 % для остальных параметров с
доверительной вероятностью 0,95. Погрешность измерения тепло­
вою сопротивления не устанавливается.


Издание официальное                                    Перепечатка воспрещена
     ★
                                       (?) Издательство стандартов, 1980
                                           Издательство стандартов, 1990
                                            Переиздание с Изменениями

3

Страница 3

С. 2 ГОСТ 2 4 4 6 1 -8 0

    Погрешность задания и поддержания режима измерения и
проверки не должна превышать 1 5% для постоянных напряже­
ния. тока, мощности и г : 10% для из переменных и импульсных
напряжения, тока, мощности.
    1.3. Все испытательное оборудование и пестапдартизопаиные
средства измерений, используемые для измерения н проверки пара­
метров ( п т. ч. и оборудование для входного контроля), Д О Л Ж Н Ы
быть аттестованы. При этом погрешность этого оборудования дол­
жна быть такой, чтобы общая относительная погрешность измере­
ний или проверки параметров соответствовала требованиям п. 1.2.
    Методика расчета погрешностей испытательного оборудования
силовых полупроводниковых приборов дана в обязательном при­
ложении 2.
    Измерительные приборы, предусмотренные схемами стандар­
та для уста нов тения режима измерения, могут быть исключены и
заменены устройствами автоматического установления режима.
     1.4. Вместо вольтметров, амперметров н миллиамперметров
мгновенных н амплитудных значений, предусмотренных схемами
стандарта для измерения параметров, допускается применение ос­
циллоскопов. н .наоборот, вместо осциллоскопов допускается при­
 менение вольтметров, амперметров и миллиамперметров мгновен­
 ных и амплитудных значений, п также других измерительных уст­
 ройств (в том числе для измерения временных интервалов).
     При этом классы точности измерительных приборов и уст­
ройств, характеристики осциллоскопов должны быть такими, что­
 бы погрешность измерения соответствовала требованиям и. 1.2.
     1.5. До начала измерения или проверки параметров при мак­
 симально и (и.ш) минимально допустимой рабочей температуре
 приборы должны прогреваться или охлаждаться до полного уста­
 новления теплового равновесия. Точность поддержания темпера­
 туры перехода до измерения и проверки параметров должна быть
 не менее ± 5 С'С.
     Контроль температуры перехода должен осуществляться конт­
 ролем температуры корпуса или окружающей среды.
     При эю м необходимо принимать меры, предотвращающие пе­
 регрев перехода относительно корпуса или окружающей среды при
 из мерен ни па рам етро в.
     1.2 —1.5. (Измененная редакции, Изм. № 2).
     1.6. При измерении параметров приборов устанавливаются их
 фактические значения, при проверке предельно допустимых зна­
 чений параметров устанавливается только соответствие предель­
 но допустимых значений нормам без измерения их фактических
 значений, при этом превышение норм предельно допустимых па­
 раметров не допускается.

4

Страница 4

ГОСТ 24461 — 80 С. 3


    Определение фактических предельно допустимых значений па­
раметров должно производиться но методам нредприятнй-нзго-
товнтелей приборов, согласованным с представителями заказчика
на этих предприятиях. Для проверки параметров приборов дол­
жны быть использованы методы настоящего стандарта, предназ­
наченные для к\ измерения. При этом измерительные приборы,
предусмотренные схемами стандарта, м оги быть заменены поро­
говыми измерительными устройствами, указывающими па нахож­
дение проверяемого параметра внутри и вне пределов норм, без
указания его конкретного значения. Погрешность пороговых изме­
рительных устройств должна быть такой, чтобы погрешность про­
верки соответствовала требованиям и. 1.2.
    1.7. Источники напряжении и тока, применяемые в схемах,
должны обеспечивать их выходные параметры в пределах уста­
новленных норм вне зависимости от любых причин, влияющих на
 источники (и том числе, процессов включения .1 выключения ис­
точников).
    1.8. Стабилизированные источники тока и напряжения долж­
 ны обеспечивать стабилизацию тока и напряжения е пульсация­
 ми. позволяющими получить требуемую точность измерения и про­
 верки в соответствии с и. 1.2.
     1.9. Должна быть предусмотрена зашита измерительных при­
 боров схемы от перегрузок, являющихся результатом выхода из
 строя испытуемых приборов.
     1.10. Допускается применение объединенных электрических
 схем для контроля нескольких параметров.
     1.11. Пели в стандартах или технических условиях на конкрет­
 ные типы приборов указано, что при применении тиристоров в
 цепь управляющий электрод-катод должен быть включен резистор
 определенного сопротивления, то такой резистор должен быть
 включен в схемы при всех измерениях и проверках (на схемах
 изображен штриховой линией).
     1.12. Если в настоящем стандарте при описании схем оговари­
 вается как требование высокое (низкое) сопротивление элемен­
 тов схем (в том числе и измерительных приборов), то их значе­
 ния должны быть настолько большими (малыми), чтобы любое
 их увеличение (уменьшение) не вызывало бы лшчмтслыюгп из­
 менения измеряемых параметров или режимов измерения к про­
 верки,
     1.13. Общая относительная погрешность измерения и проверки
 по п. 1.2 должна учитывать относительную погрешность установки
 и дополнительную погрешность, которая определяется степенью
 влияния погрешности установления и поддержания режимов из­
 мерения и проверки на значение контролируемого параметра.
     1.14. Параметры-критерии годности оговариваются в настоя-
Показаны первые 4 из 65

История статуса

Подтверждённых событий пока нет.