ГОСТ 23902-79

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й      СТАНДАРТ
                                      С О Ю З А      ССР




                               СПЛАВЫ ТИТАНОВЫЕ
                              МЕТОДЫ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА

                                      ГОСТ 23902—79


                                     Издание официальное




                           ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ
                                            Москва



строительство квартир

УДК 669.295.5 : 543.42:006.354                                       Группа В59

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й          С Т А Н Д А Р Т      С О Ю З А    С С Р
•4



                  СПЛАВЫ ТИТАНОВЫЕ
              Методы спектрального анализа                 ГОСТ
               Titanium alloys. Methods of
                     spectral analysis                   23902 - 79 *
-ОКСТУ 1809

Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам От 21 ноября
1979 г. № 4443 срок введения установлен
                                                                     с 01.07.81
■Проверен в 1985 г. Постановлением Госстандарта от 20.12Л15 Ы2 4508
срок действия продлен                                               до 01.07.91

                Несоблюдение стандарта преследуется по закону

    Настоящий стандарт устанавливает методы спектрального ана­
лиза для определения массовой доли легирующих элементов и
примесей: алюминия, ванадия, железа, кремния, марганца, мо­
либдена, олова, хрома, никеля, циркония, меди в деформируемых
 и литейных титановых сплавах.

                             1. ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ

    1.1.    Массовая доля легирующих элементов и примесей в тита­
новых сплавах определяют по градуировочным графикам. Предус­
матривается использование двух методов градуировки приборов:
    метода «трех эталонов»;
    метода «контрольного эталона».
    Регистрация спектров фотографическая или фотоэлектричес­
кая.
    При проведении анализа фотографическим методом градуи­
ровочные графики строят в координатах:
                            AS—\gC,
•где AS — разность почернений линий определяемого элемента и
           элемента сравнения;
       С — массовая доля определяемого элемента в стандартном
           образце (СО).
Издание официальное                                    Перепечатка воспрещена
     'к
               * Переиздание ( октябрь 1988 г.) с Изменением Х° 1,
                  утвержденным в августе 1986 г. (ИУС 3—86).

С. 2 ГОСТ 23902—79

    При проведении анализа фотоэлектрическим методом градуи­
 ровочные графики строят в координатах:
                     п—lg С, п— С, lg п— lg С,
  где п — показание выходного измерительного устройства;
        С — массовая доля определяемого элемента в СО.
    1.2. Для испарения пробы и возбуждения спектра используют
искровые и дуговые источники света.
    1.3. Для градуировки приборов применяют государственные
стандартные образцы ГСО №№ 1641—79— 1645 79, 1792 80
1796—80, 2194—81 — 2198—81, 2881—84 — 2885—84, 3047—84 —
3050—84.
    (Измененная редакция, Изм. № 1).
    1.3.1. Допускается применение отраслевых стандартных образ­
цов (ОСО 5-84 — 7-84, 20-84 — 28-84), стандартных образцов пред­
приятий, а также вновь выпускаемых стандартных образцов сос­
тава титановых сплавов всех категорий.
    (Введен дополнительно, Изм. № 1).
    1.4. Отбор проб производят по нормативно-технической доку­
ментации.
    1.5. Проверку правильности определения массовой доли эле­
ментов проводят, сравнивая результаты спектрального анализа с
результатами анализа, выполненного химическими методами по
ГОСТ 19863.1-80 — ГОСТ 19863.13-80. Значение абсолютного до­
пускаемого расхождения в процентах должно быть не более рас­
считанного по формуле
              IСх—Са 1I < 3 У1 / S*а •С2
              1                        а
                                         + S*ах ■С2 ,
                                                  х 7
 где Сх — результат анализа пробы, выполненного химическим ме­
           тодом, %;
     Са — результат анализа пробы, выполненного спектральным
           методом, %;
     5 а — значение воспроизводимости спектрального метода ана­
           лиза;
    5 ах — значение воспроизводимости химического метода ана­
           лиза.
   (Измененная редакция, Изм. № 1).

        2. ФОТОГРАФИЧЕСКИЙ МЕТОД СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА

   2.1. А н а л и з м о н о л и т н ы х о б р а з ц о в
   2.1.1. Сущность метода
   Метод основан на возбуждении спектра образца дуговым или
искровым разрядом с последующей регистрацией его на фото­
пластинке с помощью спектрографа.

ГОСТ 23902—79 С. 3


   2.1.2. Аппаратура, материалы и реактивы
   Спектрограф средней дисперсии с кварцевой оптикой типа
ИСП-30.                                               ,,Rr м
   Источники света: искровой генератор типа И!-о или
или друговой генератор типа ДГ-2 или ИВС-28.
   Микрофотометр типа МФ-2 или ИФО-460.
   Ослабитель трехступенчатый.
   Угли спектрально чистые марок С-2 или С-3, диаметром о мм.
   Прутки магния марок МГ-95 или МГ-90 по ГОСТ 804 72,
   Прутки меди марок MOO, Ml или М2 по ГОСТ 859 78, диа­
метром 6 мм.                                             .
   Фотопластинки спектральные типов 1, 2, с/С, СЛ1-1 или
УФШ-3 чувствительностью от 3 до 10 единиц.
   Проявитель № 1.
   Фиксаж кислый по ГОСТ 2817—50.
   Станок токарный настольный типа ТВ 16.
    Станок шлифовальный типа ЭТ-62.
    Приспособление для заточки угольных электродов.
    Вата гигроскопическая по ГОСТ 5556—81.
    Спирт     этиловый     ректификованный    технический  по
ГОСТ 18300—87.
   Допускается применение другой аппаратуры, оборудования и
материалов при условии получения точности анализа, не ниже
предусмотренной настоящим стандартом.
    2.1.3. Подготовка образцов
   Для анализа используют образцы следующих форм и разме­
ров:
    прутки круглого или квадратного сечения диаметром (сторо­
ной) от 10 до 40 мм, длиной от 20 до 100 мм;
    профили, полосы, диски толщиной не менее 2 мм;
    листы толщиной не менее 0,5 мм;
    стружку толщиной от 0,7 до 1,5 мм, шириной от 12 до 15 мм,
длиной не менее 15 мм.
    Допускается использование образцов, полученных путем прес­
сования стружки или сплавления ее в инертной атмосфере.
    Обыскриваемую поверхность образцов затачивают на плос­
 кость на токарном или шлифовальном станке; параметр шерохо­
ватости поверхности Rz должен быть не более 20 мкм по ГОСТ
2789 _73. При анализе стружки используют ее гладкую сторону,
 которую предварительно протирают спиртом.
    На обыскриваемой поверхности образцов не допускаются ра­
ковины, царапины, трещины, шлаковые включения, надиры, вол­
 нистость, цвета побежалости.                              д^ .
    Подготовка к анализу СО и анализируемых ооразцов (АО)
должна быть однотипной для данной серии измерений. Противо-