ГОСТ 23480-79

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й       С Т А Н Д А Р Т
                                              С О Ю З А      ССР




                                         КОНТРОЛЬ НЕРАЗРУШАЮЩИЙ

                               МЕТОДЫ РАДИОВОЛНОВОГО ВИДА
                                              ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ

                                                ГО СТ 2 3 4 8 0 — 79



                                              Издание официальное




                                   ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ
                                                    Москва



оценка объектов недвижимости

УДК 620.179.1.082 : 006.354                                           Группа Т59

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й           С Т А Н Д А Р Т      С О Ю З А     ССР


               Контроль неразрушающий
         МЕТОДЫ РАДИОВОЛНОВОГО ВИДА
                   Общие требования
                                                                ГОСТ
                  Non-destructive testing.                  23480-79*
                   Radio wave methods.
                   General requirements


Постановлением Государственного комитета СССР по етайдартам от 7 февраля
1979 г. № 485 срок введения установлен
                                                                с 01.01.80
Проверен в 1984 г. Постановлением Госстандарта от 22.08.84 Н г 2945
срок действия продлен                                                 до 01,01.90

                Несоблюдение стандарта преследуется по закону

   Настоящий стандарт распространяется на сверхвысокочастот­
ные (далее СВЧ) методы радиоволнового вида неразрушающего
контроля и устанавливает область применения, общие требования
к аппаратуре и контрольным образцам, порядку подготовки и про­
ведению контроля, оформлению результатов и требования безопас­
ности.
   Термины, применяемые в настоящем стандарте, и их поясне­
ния приведены в справочном приложении 1.
    (Измененная редакция, Изм. № 1).

             1. ОСНОВНЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ И ОБЛАСТЬ ПРИМЕНЕНИЯ
   1.1. СВЧ-методы основаны на взаимодействии электромагнит­
ного поля в диапазоне длин волн от 1 до 100 мм с объектом кон­
троля, преобразовании параметров поля в параметры электриче­
ского сигнала и передаче на регистрирующий прибор или средства
обработки информации.
   1.2. По первичному информативному параметру различают сле­
дующие СВЧ-методы: амплитудный, фазовый, амплитудно-фазо­
вый, геометрический, временной, спектральный, поляризационный’
голографический.
   1.3. Области применения СВЧ-методов радиоволнового вида не­
разрушающего контроля приведены в табл. 1.
Издание официальное                                       Перепечатка воспрещена

               * Переиздание (ноябрь 1984 г.) с Изменением М 1,
                 утвержденным в августе 1984 г. (ИУС 12—84).
                                             © Издательство стандартов, 1985

Стр. 2 ГОСТ 23480—79

                                                                         Таблица      1

                                Факторы,                        Чувстви­    Погреш­
                              ограничиваю­    Контролируемые
 Название      Область                          параметры      тельность     ность
 метода       применения      щие область
                               применения


                               Сложная          Толщина         1—3 мм        5%
              Толщиномет-
            рия полуфаб-     конфигурация.    до 100 мм
            )икатов, изде­    Изменение за­
            лий из радио-    зора между
            прозрачных       антенной пре­
            материалов       образователя
                             и поверхно­
Ампли­                       стью объекта
тудный                       контроля
                                                Дефекты:       Трещины
              Дефектоско­                                       более
            пия полуфаб-                      трещины, рас­
            эикатов, изде­                    слоения, вклю­    0.1Х1Х
            лий из радио-                     чения, недоп-     X I ММ
            прозрачных                        рессовки
            материалов

          Толщиномет-                           Толщина        5 -10-3 мм      1%
        рия листовых                          до 0,5 к г
        материалов и           Волнистость
        полуфабрика­         профиля или
        тов, слоистых        поверхности
        изделий и конг       ■объекта конт­
        струкций  из         роля при шаге
Фазовый                      менее 10 L.
        диэлектрика
                             Отстройка от
                             влияния ам­    Толщина               0,1°         1°
              Контроль       плитуды сиг­ до 0,5 X е
            «электричес­
            кой» (фазо­      нала
            вой) толщины

                               Неоднознач­   Толщина            0,05 мм     +0,1 мм
          Толщиномет-
        рия материа­         ность отсчета  0—50 мм
        лов, полуфаб­        при измене­
        рикатов, изде­       ниях толщины
        лий и конст­         более ОцбАв .
Ампли­  рукций из ди­        Изменение
тудно-  электриков,          диэлектриче­
фазовый контроль из­         ских свойств
        менений тол­         материала
        щины                 объектов кон­
                             троля величи­
                              ной более 2%.
                             Толщина бо­
                             лее 50 мм

ГОСТ 23480—79 Стр. 3


                                                               Продолжение табл. 1

                                Факторы,
 Название        Область      ограничиваю­    Контролируемые     Чувстви­    Погреш­
 метода        применения     щие область       параметры       тельность     ность
                               применения


 Ампли­       Дефектоско­     Изменение        Расслоения,     Включения
 тудно-     пия слоистых    зазора между     включения,         порядка
фазовый     материалов      антенной пре­    трещины, из­         0,06X8
            и изделий из    образователя     менения плот­     Трещины
            диэлектрика     и поверх- ’      ности нерав­      с раскры-
            и полупровод­   ностью объ­      номерное рас­     вом поряд­
            ника толщи­     екта контроля    пределение        ка 0,06 мм.
            ной до 50 мм                     составных         Разноплот-
                                             компонентов       ность по­
                                                                 рядка
                                                               0,05 г/см3

              Толщиномет-     Сложная         Толщина            1,0 мм      3 -5 %
            рия изделий     конфигурация     0—500 мм
            и конструкций   объектов кон­
            из диэлектри­   троля; непа-
            ков: контроль   раллельность
            абсолютных      поверхностей.
            значений тол­   Толщина бо­
            щины, оста­     лее 500 мм
            точной толщи­
            ны
Геомет­
 ричес­                                        Определение       1,0 мм      3 -5 %
  кий         Дефектоско­   Сложная
            пия полуфаб­ конфигурация        глубины зале­
            рикатов и из­ объектов кон­      гания дефек­
            делий: кон­   троля              тов в пределах
            троль рако­                      до 500 мм
            вин, расслое­
            ний, инород­
            ных включе­
            ний в изде­
            лиях из ди­
            электрических
            материалов

              Толщиномет-   Наличие            Толщина          5—10 мм       5%
            рия конструк­ «мертвой» зо­      более 500 мм
            ций и сред,   ны. Наносе-
            являющихся    кундная тех­
            диэлектриками ника. Приме-
Времен­                   нение генера­
  ной         Дефектоско­ торов мощ­           Определение      5—10 мм       5%
            пия сред из   ностью более       глубины зале­
            диэлектриков  100 мВт            гания- дефек­
                                             тов в преде­
                                             лах выше
                                             500 мм