ГОСТ 22372-77

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й         С Т А Н Д А Р Т
                                        С О Ю З А      С С Р




                         МАТЕРИАЛЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ
                     МЕТОДЫ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ
                     И ТАНГЕНСА УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ В ДИАПАЗОНЕ
                                     ЧАСТОТ от 100 до 5 Ю 6 Гц

                                         ГОСТ 22372—77


                                       Издание официальное
Цена 5 коп.




                            ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ С СС Р ПО СТАНДАРТАМ
                                              Москва


украшение квартиры

У Д К .621.315.61.019.3 : 006.154                                       . Группа Э19

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й             С Т А Н Д А Р Т       С О Ю З А     С С Р


             МАТЕРИАЛЫ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ
 Методы определения диэлектрическом проницаемости                  ГОСТ
  и тангенса угла диэлектрических потерь а диапазоне
               частот от 100 до 5 • 10й Гц                     22372-77
                                                                      Взамен
     Dielectric materials. .Methods of determination of           ГОСТ 9141—65.
     permittivity and powerfactor with in a frequency             ГО СТ 13671—68
                 range of 100 to 5- I0* Hz



Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров С СС Р
от 18 февраля 1977 г. Ms 424 срок действия установлен
                                                             с 01.01 1978 г.
                                                            до 01.01 1983 г.

                   Несоблюдение стандарта преследуется по закону


   Настоящий стандарт распространяется на диэлектрические ма­
териалы и устанавливает методы определения относительной ди­
электрической проницаемости (диэлектрической проницаемости)
е и тангенса угла диэлектрических потерь tgd в диапазоне частот
от 100 до 5* 10е Гц.
   Методы испытаний, приведенные в настоящем стандарте, при­
менимы в интервале температур от минус 60 до плюс 250°С.
   Стандартч не распространяется на диэлектрические материалы
в виде пленок толщиной менее 0,015 см.
   Стандарт соответствует рекомендациям СЭВ по стандартиза­
ции PC 604—70 й PC 3277—71 за исключением диапазона частот.

                             1. МЕТОДЫ ОТБОРА ОБРАЗЦОВ

   1.1. Порядок отбора, способ обработки и число образцов для
испытаний твердых диэлектрических материалов должны быть
указаны в стандартах или другой нормативно-технической доку­
ментации на испытуемый материал. При отсутствии таких указа­
ний число образцов должно быть не менее трех.
   1.2. Образцы для испытаний твердых диэлектрических мате­
риалов должны быть изготовлены в виде круглых, квадратных
пластин или цилиндрических трубок.
   1.3. Поверхность образца должна быть ровной, гладкой, без
трещин, складок, вмятин, царапин, посторонних включений и дру­
гих дефектов. При необходимости поверхность образца должна
Изда мм* официальное                                          Перепечатня воспрещена
                                Переиздание. Ноябрь 1978 г.

Стр. 2 ГОСТ 22372— 77


быть очищена растворителем, не влияющим на свойства материа­
ла.
    1.4. Толщина и площадь испытуемых образцов должны быть
такими, чтобы.емкость конденсатора, полученная после нанесения
электродов на испытуемый образец, была достаточной для опре­
деления диэлектрической проницаемости с погрешностью в пре­
делах ± 4% . При этом диаметр или ширина плоского образца дол­
жны быть от 2,5 до 15 см, а длина трубчатого образца — от 10 до
30 см. Во всех случаях отношение диаметра образца к его толщине
должно быть не менее 10.
    Для материалов с большой (е>30) диэлектрической проницае­
мостью допустимы образцы меньшего диаметра, но не менее 1 см.
    1.5. Толщина образца должна определяться как среднеарифме­
тическое результатов измерений его не менее чем в пяти точках,
равномерно расположенных по поверхности образца. Погрешность
измерения толщины t в каждой, точке должна быть в пределах
± (0,0U + 0,0002) см. Каждое из измеренных значений толщины
не должно отличаться от-среднеарифметического более чем на 5%
при толщинах меньше 0,05 см и на 2% при толщине 0,05 см и бо­
лее.
    1.6. Измерение диэлектрической проницаемости и тангенса уг­
ла диэлектрических потерь материала должно проводиться на од­
ном и том же образце.
   •1.7. Число испытываемых проб, объем пробы, необходимый для
проведения одного испытания для жидкого диэлектрического ма­
териала, должны выбираться в соответствии с ГОСТ 6581—75.

                         2. АППАРАТУРА

   2.1.    Измерение емкости и тангенса угла диэлектрических по­
терь конденсатора должно проводиться на установках и приборах,
удовлетворяющих следующим требованиям:
   а) измерительная установка, состоящая из источника напряже­
ния, измерительного устройства и индикатора, должна обеспечи­
вать проведение измерений в диапазоне частот от 100 до 5-106 Гц
или на фиксированных частотах в этом диапазоне;
   б) напряжение измерительной цепи должно иметь синусоидаль­
ную форму с постоянной амплитудой, а ее значение должно быть
указано в стандартах или другой нормативно-технической доку­
ментации на материал и в любом случае не должна превышать
напряжение ионизации. Колебания напряжения должны быть в
пределах ± 3 % , а стабильность частоты напряжения должна быть
такой, чтобы ее уход за время измерения был не более 1% изме­
ряемой частоты. Основная погрешность установки частоты долж­
на быть в пределах ± 1%;

ГОСТ 22272— 77 Стр. 3


  * в) индикатор, используемый в качестве указателя равновесия
моста, должен быть достаточно селективным, чтобы исключить
влияние искажения формы кривой питающего напряжения. Ос­
лабление второй гармоники по отношению к основной должно быть
 не менее 35 дБ;
    г) основная погрешность прибора (установки), применяемого
для измерения емкости С и тангенса угла диэлектрических потерь*
tgfi конденсатора в диапазоне емкостей от 20 до 1000 пФ, должна
 быть в пределах: ±(0,01 С-4-1) пФ при измерении С;
 ±(0,05 tgft-f 0,0002) при измерении tg б.
    2.2.    Установка для температурных измерений, в которую кроме
 приборов для определения е, tg6 и измерительной ячейки входят
 измерительная камера с системами нагрева, охлаждения, терморе­
 гулирования и приборов для измерения температуры, должна удов­
 летворять следующим требованиям:
    а) объем измерительной камеры должен быть достаточным для
 размещения измерительной ячейки и обеспечивать возможность
 смены образца;
    б) •металлические элементы камеры должны быть стойкими к
 повышенной температуре и окислению, а также достаточно проч­
 ными. Наиболее приемлемыми для этой цели являются нержавею­
 щая сталь и латунь;
    в) конструкция камеры не должна ухудшать электрические
 свойства измерительной ячейки, собственная емкость измеритель­
 ной ячейки должна быть минимальной и не меняться в процессе
 измерения;
    г) измерительная камера должна обеспечивать равномерное
 распределение температуры по всему объему. Перепад темпера­
 тур в месте расположения образца не должен превышать 2°С. При
-необходимости конструкция камеры должна предусматривать при­
 нудительное перемешивание воздуха;
    д) измерительная ячейка и образец не должны подвергаться
 прямому облучению от нагревательных элементов;
    ё) система терморегулирования должна обеспечивать равно­
 мерное изменение температуры в камере со скоростью от 1 до 15°С
 в минуту или поддержание температуры на постоянном уровне. Ко­
лебания температуры при ступенчатом нагреве в месте располо­
жения образца во время измерения должны быть в пределах ± 190;
    ж) измерение температуры должно проводиться термопарами
 или другими устройствами, обеспечивающими погрешность измере­
 ния в пределах ±1°С. Термопары должны располагаться в мак­
симальной близости от образца и нс должны влиять на результа­
ты измерений. В камере, рассчитанной на одновременное испыта­
ние нескольких образцов, термопары должны располагаться b o i -
ле каждого образца;