ГОСТ 22023-76

г о с у д а р с т в е н н ы й       с т а н д а р т
                                     С О Ю З А       ССР




                        МАТЕРИАЛЫ СТРОИТЕЛЬНЫЕ
                       МЕТОД МИКРОСКОПИЧЕСКОГО КОЛИЧЕСТВЕННОГО
                                  АНАЛИЗА СТРУКТУРЫ

                                      ГОСТ 22023—76

                                     Издание официальное
Цена 3 коп»




                                 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР
                                    ПО ДЕЛАМ СТРОИТЕЛЬСТВА
                                           М осква



   сметная стоимость

УДК 691 :620.186 : 006.354                                          Группа Ж19

 Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й       С Т А Н Д А Р Т        С О Ю З А     ССР




              МАТЕРИАЛЫ СТРОИТЕЛЬНЫЕ
      Метод микроскопического количественного                  гост
                анализа структуры
     Building materials. The method of microscopical
              quantative structure analysis
                                                           22023-76

Постановлением Государственного комитета Совета Министров СССР по делам
строительства от 14 июля 1976 г. № 111 срок введения установлен
                                                                с 01.01.1977 г.

   Настоящий стандарт распространяется на строительные мате­
риалы (бетоны, заполнители, стеновые, теплоизоляционные, кро­
вельные, пластмассовые и другие материалы) и устанавливает
метод микроскопического анализа и количественной оценки их
структуры.

                              1. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ
    1.1. Метод микроскопического анализа структуры строитель­
 ных материалов основан на измерении линейных размеров сече­
ний частиц и пор в плоскости среза материала (шлифов и при-
шлифовок) и вычислении на основании полученных результатов
измерений параметров структуры.
    Размеры сечений отдельных частиц не должны превышать
20 мм.
    1.2. Метод микроскопического анализа предусматривает опре­
деление следующих параметров структуры:
   объемного содержания отдельных компонентов материала Vu
в том числе пористости П х\
   количества частиц в плоскости сечения П\ и в единице объе­
ма N x;
   суммарной поверхности частиц или пор в единице объема ма­
териала Si;                    _
   среднеарифметической хорды /;                          А
   среднего радиуса сечений частиц (кругов) по площади q и
среднеарифметического радиуса частиц на шлифе q;
                                                А
   среднего радиуса частиц по объему г и среднеарифметического
радиуса частиц г;             _____________
Издание официальное                                     Перепечатка воспрещена
                         Переиздание. Декабрь 1978 г.
                                        © Издательство стандартов, 1979

Стр. 2 ГОСТ 22023— 76

   квадратического отклонения частиц по размерам ат;
   коэффициента, характеризующего вид функции распределения
частиц, Вс;                                   Л
   средней толщины перегородок между порами Z;
   коэффициента неравноосности частиц Кп.
    1.3.    Метод микроскопического анализа структуры материалов
применяется при исследовании и более полном определении каче­
ственных характеристик строительных материалов, изделий и кон­
струкций зданий и сооружений.
   Пояснения терминов и рекомендуемые формы журналов для
проведения анализа приведены в приложениях 1—3.

                           2. АППАРАТУРА

    2.1. Анализ структуры строительных материалов производится
 с помощью      универсального исследовательского микроскопа
 МБИ-6, оборудованного постоянной фотокамерой и измеритель­
 ным устройством МИУ-1.
    2.2. С помощью микроскопа производят визуальное исследова­
ние и фотографирование структуры материалов с увеличением в
 проходящем свете от 117,5 до 2250х и в отраженном свете от 45
до 2375х.
    2.3. Измерительное устройство состоит из препаратоводите-
ля, в. котором закрепляется срез образца, и счетного устройства.
Препаратоводитель служит для перемещения шлифов на трех раз­
личных скоростях. При перемещении шлифов замеряют длины
пройденных отрезков, равных хордам частиц. Численное значение
длин хорд фиксируется с нарастающим итогом счетным устройст­
вом. Каждому компоненту отводится па пульте управления от­
дельная клавиша. Минимальная величина замеряемого отрезка
0,05 мм.
   2.4. Допускается применять и другую аппаратуру для микро­
скопического количественного анализа структуры материалов- при
условии, что она должна обеспечивать замеры длин отрезков час­
тиц не менее 0,05 мм.

               3. ПОДГОТОВКА ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ИСПЫТАНИЯ

   3.1. У. образцов материала, отобранных для анализа структу­
ры, определяют удельные и объемные массы и вычисляют общую
пористость По в долях единицы по ГОСТ 9758—77.
   3.2. Подготовка пришлифовок. Из материала вырезают равно­
осную пластинку площадью не более 9 см2 и толщиной 5—110 мм.
Полученную пластинку обдирают всухую с одной стороны на чу­
гунном диске вручную микропорошком М28 по ГОСТ 3647—71.
После этого пластинку подшлифовывают на станке вращающимся

T 6t1 i2d23— 76 Стр. 3

чугунным диском порошком М14, смачивая водой или керосином,
а затем пластинку шлифуют вручную на. стеклянном^ диске по­
рошком М14 и М7 или М5 с глицерином по ГОСТ 3647—71.
    После полировки войлоком и сукном образец может использо­
ваться в качестве пришлифовки для изучения структуры мате­
риала в отраженном свете.
    При анализе анизотропных материалов подготавливают два
образца из пластинок, вырезанных во взаимно перпендикулярных
направлениях.
   3.3. Подготовка шлифов. Для получения шлифа,* пригодногц
для работы в проходящем свете, образец, в соответствии с п. 3.2,
обдирают, подшлифовывают и шлифуют. Далее пластинку шли­
фованной стороной приклеивают на нагретое матовое предметное
стекло, которое предварительно смазывают тонким слоем бальза­
ма. Приклеенную пластинку материала обтачивают, подшлифовы­
вают и шлифуют в соответствии с п. 3.2 до приобретения ею про­
зрачности. Далее шлиф промывают водой или керосином и насухо
вытирают. Приготовленный заранее бальзам намазывают на на­
гретое покровное стекло, после чего его накладывают на шлиф
и прижимают для удаления избытка бальзама и пузырьков возду­
ха. На предметном стекле надписывают номер шлифа.
    3.4. При испытании неорганических материалов, имеющих низ­
кую прочность, образец после операции обдира на чугунном диске
должны пропитывать в жидкой консистенции глицерина из кани­
фоли и ксилола при температуре 70°С не менее 4 ч, после чего в
соответствии с пп. 3.2 и 3.3 приступают к дальнейшей подготовке
 шлифов и пришлифовок.
    3.5. При испытании органических строительных материалов
 для получения тонких срезов должны применяться микротомные
 устройства. Наклейку срезов на предметные стекла производят в
 соответствии с п. 3.3.

                    4. ПРОВЕДЕНИЕ ИСПЫТАНИЙ

    4.1. На предметном столике микроскопа закрепляют устрой­
 ство для перемещения шлифа и проверяют на холостом ходу ра­
 боту микроскопа в комплекте с измерительным устройством в
 соответствии с имеющимися на них инструкциями.
    4.2. Подготовленный к испытанию шлиф (пришлифовку) за­
 крепляют в захватах объектодержателя. Подбором объективов и
 окуляров устанавливают заданное увеличение. Регулированием
 винтами грубой и микронаводки вводят шлиф в фокус микроско­
 па. Визуальным просмотром всего поля шлифа выбирают наибо­
 лее характерную структуру и устанавливают перекрестие окуляра
 на границе какой-либо частицы с другой частицей. Нажатием со­
 ответствующей клавиши, выбранной для данного компонента,