ГОСТ 21316.0-75

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Е      С Т А Н Д А Р Т Ы
                                    С О Ю З А        С С Р




                                 ФОТОЭЛЕМЕНТЫ
                              МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ


                         ГОСТ 21316.0-75-ГОСТ 21316.7-75

                                    Издание официальное

  IТссгп-и-' Х{ы е.о W — l -Шв.                                               Ц
                     (л/ J {/§3 oryj       <&f. /У . 19 tjb& t
                     <Uu cr^itu- ^ u ^ u iU r                to o f o f g j
                         l LUff crv
UOH
M id




                             ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СТАНДАРТОВ
                                    СОВЕТА МИНИСТРОВ СССР
       жакет схема
                                          Москва

(Г о с /          1     0   ~ - f- S   3   (Т С С .

dlotm саиЛ'мм и ы ' Тмлт <шу уг»*>
Ш Г on, С6. Сё, / / ^ /Ш f*L~

г  (и>\Лил гЖЖмл/ Jh> оlo t до
                               1.ф^3 f 9 i l r / .




 © И здательство стандартов, 1976

УДК 621.3U.2.W31063.74)                                               Группа Э »

  Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й         с т а н д а р т       С О Ю З А       ССР



                     ФОТОЭЛЕМЕНТЫ
              Методы измерения параметров
                     Общие положения
                                                                  ГОСТ
    Photocells. Methods of characteristics measurements.      2 1 3 1 6 .0 — 7 5
                   General considerations



к Постановлением Государственного комитата стандартов Совета Министров СССР
. от 2 декабря 1975 г. N* 3747 срок действия установлен
                                                                          с 01.01.79
                                                                         до 01.01.64
                 Несоблюдение стандарта преследуется по закону


     Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные
  фотоэлементы и устанавливает общие положения для стандартов
  на метод измерения следующих параметров:
     световой чувствительности;
     нестабильности;
     темнового тока;
     сопротивления изоляции;
     неравномерности чувствительности по фотокатоду;
     предела линейности световой характеристики в непрерывном
  режиме;
     предела линейности световой характеристики в импульсном
  режиме.
                              1. ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ

     1.1. Измерение электрических и светотехнических параметров
     оэлементов следует производить в нормальных климатических
  условиях но ГОСТ 16962—71, если иное нс установлено в стан­
  дартах на фотоэлементы конкретных типов* (далее—стандартах).
     1.2. Измерение электрических н светотехнических параметров
  фотоэлементов следует производить в режимах, установленных в
  стандартах на фотоэлементы конкретных типов.
     * Здесь и далее при отсутствии стандартов на фотоэлементы конкретных
 типов, нормы, режимы и требования указываются в технической документации,
 утвержденной в установленном порядке.

  Издание официальное                                      Перепечатка воспрещена
          ★
                                                                                   3

С тр . 2 ГО С Т 21316.0— 1: $



    1.3. Параметры фотоэлементов измеряют в светонепроницае­
мой камере.
    1.4. При измерении световой чувствительности, нестабильно­
сти, темнового тока, сопротивления изоляции, неравномерности
чувствительности по фотокатоду, предела линейности световой ха­
рактеристики в непрерывном и импульсном режиме необходимо
облучать всю рабочую поверхность входного окна фотоэлемента.
   Поверхность входного ок&а фотоэлемента должна быть распо­
ложена под углом 90±3° к направлению падения излучения, если
иное не оговорено в стандартах на фотоэлементы конкретных
типов.
    1.5. Перед измерением параметров фотоэлементы должны быть
выдержаны в течение времени и в условиях, указанных в стандар­
тах на фотоэлементы конкретных типов.

                                2.   АППАРАТУРА

   2.1. С в е т о н е п р о н и ц а е м а я к а м е р а
   2.1.1. Светонепроницаемая камера должна обеспечивать пол­
ную защиту фотоэлементов от внешних источников излучения, а
также от воздействия магнитных, электрических полей и проника­
ющей радиации в том случае, если они превышают естественный
фон.
   2.1.2. Светонепроницаемая камера должна иметь электрическое
соединение с общей точкой измерительной схемы (испытательной
установки).
   2.1.3. Б качестве изоляционного материала для проводных изо­
ляторов не следует применять фторопласт и другие материалы с
большим коэффициентом пропускания без специальной свето-
защиты.
   2.1.4. Конструкция камеры должна исключать появление отра­
жений от стенок камеры и деталей, расположенных в камере.
   2.2. И с т о ч н и к и и з л у ч е н и я
   2.2.1. При измерении параметров фотоэлементов следует при­
менять источники излучения, указанные в стандартах на методы
измерения конкретных параметров.
   2.3. И с т о ч и и хи п и т а н и я ф о т о э л е м е н т о в
   2.3.1. В качестве источников питания фотоэлементов должны
применяться источники постоянного напряжения с нестабильно­
стью выходного напряжения не более 1% при изменении напря­
жения питающей сети на ±10% и нестабильностью в течение вре­
мени, необходимом для проведения измерения, не более 1%.
   Напряжение на выходе источника питания должно регулиро­
ваться в пределах, необходимых для измерения конкретного пара
метра фотоэлемента.