Проверяемый статус документов Полнотекстовый поиск Доступ без регистрации

Карточка нормативного документа

ГОСТ 21105-87

Контроль неразрушающий. Магнитопорошковый метод

Просмотреть PDF
Статус не подтверждённа 12.09.2026Перед применением сверяйтесь с официальным источником
Удобное чтениеАбзацы и заголовки без PDF-разрывов

Межгосударственный стандарт

ГОСТ 21105-87

Контроль неразрушающий. Магнитопорошковый метод

Nondestructive testing. Method of magnetic particle testing

Редакционная карточка ГОСТНОРМ. Полный текст публикуется только при подтверждённом праве использования. Метаданные сверяются по нескольким источникам.

Область применения

Область применения пока не подтверждена.

1

Страница 1

Группа Т59

                 М   Е       Ж    Г   О       С     У   Д    А   Р   С    Т   В   Е      Н   Н   Ы   Й   С Т А Н Д А Р Т


                                          КОНТРОЛЬ Н Е РАЗ РУ Ш АЮ Щ И Й
                                                                                                                   ГО С Т
                                                    Магнигопорошковый метод
                                                                                                                 21105-87
                                                       Nondestructive testing.
                                                  Method o f magnetic particle testing


                 МКС     19.100
                 ОКСТУ0011

                                                                                                             Дата ввеления 01.01.88


                      Настоящий стандарт распространяется на магнигопорошковый метод неразрушающего контроля
                 деталей, изделий и полуфабрикатов из ферромагнитных материалов с относительной магнитной про­
                 ницаемостью не менее 40 (далее — объекты контроля).
                      Термины, применяемые в настоящем стандарте, и их определения — по ГОСТ 24450.
                      Пояснения терминов, применяемых в настоящем стандарте, приведены в приложении 1.

                                                                     1. О СН О ВН Ы Е ПОЛОЖ ЕНИЯ

                       1.1. Мапштопорошковый метод неразрушающего контроля основан на явлении притяжения час­
                 тиц магнитного порошка магнитными потоками рассеяния, возникающими над дефектами в намагни­
                 ченных объектах контроля.
                       Наличие и протяженностъ индикаторных рисунков, вызванных полями рассеяния дефектов, можно
                 регистрировать визуально или автоматическими устройствами обработки изображения.
                       1.2. Магнитопорошковый метод предназначен для выяатения поверхностных и подповерхност­
                 ных нарушений сплошности: волосовин, трешин различного происхождения, непроваров сварных со­
                 единений. флокенов. закатов, надрывов и т. п.
                       1.3. Магнигопорошковый метод применяют для контроля объектов из ферромагнитных материа­
                 лов с магнитными свойствами, позволяющими создавать в местах нарушения сплошности магнитные
                 паля рассеяния, достаточные для притяжения частиц магнитного порошка.
                       Метод может быть использован для контроля объектов с немагнитными покрытиями.
                       1.4. Чувствительность магнитопорошкового метода определяется магнитными характеристиками
                 материала объекта контроля, его формой, размерами и шероховатостью поверхности, напряженностью
                 намагничивающего поля, местоположением и ориентацией дефектов, взаимным направлением намаг­
                 ничивающего поля и дефекта, свойствами дефектоскопического материала, способом его нанесения на
                 объект контроля, а также способом и условиями регистрации индикаторного рисунка выявляемых
                 дефектов.
                       1.5. В зависимости от размеров выявляемых дефектов устанавливаются три условных уровня чув­
                 ствительности. приведенные в табл. I.
                                                                                                     Таблица 1
                 Условный уровень чуact витсльности                   Минимальная ширина рлскрыти        Минимальная протяженность
                                                                         условного дефекта, мкм            условною лефекта. мм

                                          А                                            2,0
                                          Б                                           10,0                          0,5
                                          В                                           25,0

                       Примечания:
                      1. Условный уровень чувствительности А достигается при параметре шероховатости контролируемой
                 поверхности R a i 2,5 мкм, уровни чувствительности Б и В — при Да £10 мкм.

                 Издание официальное                                                                         Перепечатка воспрсшсна
                         *
                                                                                   63




кружевной шарф

2

Страница 2

С. 2 ГОСТ 21105-87

     2. При выявлении подповерхностных дефектов, а также мри Ка > 10 мкм чувствительность метола пони­
жается и условный уровень чувствительности не нормируется.
     3. При контроле изделий с немагнитными покрытиями с увеличением толшины покрытия чувствитель­
ность метода понижается.
      (Измененная редакция. Изм. № 1).
      1.6. Вид, местоположение и ориентация недопустимых дефектов, а также необходимый уровень
чувствительности контроля конкретных изделий устанавливаются в отраслевой нормативно-техничес­
кой документации на контроль изделий.
      1.7. Магнитопорошковый контроль проводится по технологическим картам согласно ГОСТ 3.1102
и ГОСТ 3.1502, в которых указывают: наименование изделия (узла), наименование и номер детали,
эскиз детали с указанием габаритных размеров, зону контроля, способ контроля, вид и схему намаг­
ничивания, значения намагничивающего тока или напряженности магнитного паля, средства контро­
ля (аппаратуру, дефектоскопические материалы), нормы на отбраковку.

                                   2. ТРЕБОВАНИЯ К АППАРАТУРЕ

      2.1. При когггроле магнитопорошковым методом применяют стационарные, передвижные и пере­
носные дефектоскопы по нормативно-технической документации.
      Допускается применять специализированные дефектоскопы, предназначенные для контроля
конкретных изделий.
      2.2. В зависимости от назначения дефектоскопы включают в себя следующие функциональные
устройства:
      - блок питания;
      - блок формирования намагничивающего тока:
      - намагничивающие устройства:
      - устройство лля размагничивания;
      - устройство для нанесения дефектоскопических материалов:
      - блок автоматического управления технологическими операциями контроля;
      - исполнительные устройства для осуществления автоматических операций контроля:
      - приборы и устройства для контроля качества дефектоскопических материалов и технологичес­
ких процессов;
      - устройства для осмотра контролируемой поверхности и регистрации дефектов.
      2.3. Дефектоскопы должны быть снабжены измерителями намагничивающего тока. Погрешность
измерений не должна превышать 10 %.
      2.4. Дефектоскопы общего назначения должны обеспечивать возможность размагничивания объектов
контроля.
      2.5. Дефектоскопы, в которых намагничивание изделий осуществляется переменным, выпрям­
ленным или импульсным токами, при Koirrpone способом остаточной намагниченности должны обес­
печивать выключение тока в момент времени, при котором значение остаточной индукции составляет
не менее 0,9 ее максимального значения для данного материала при выбранном режиме.
      2.6. В дефектоскопах при контроле способом остаточной намагниченности не допускается исполь­
зовать в качестве намагничивающих устройств электромагниты постоянного тока, а также другие
устройства, в которых снижение магнитного потока от максимального значения до нуля при намагни­
чивании происходит в течение времени, превышающего 5 мс.
      2.7. Устройства для осмотра контролируемой поверхности и регистрации дефектов включают в
себя: Уф-облучатели. оптические устройства (лупы: бинокулярные, стереоскопические микроскопы;
зеркала; эндоскопы), а также автоматизированные системы отработки изображений.
      2.8. Требования к специализированным дефектоскопам устанавливают в отраслевой нормативно-
технической документации на контроль конкретных изделий.

                   3. ТРЕБОВАНИЯ К ДЕФЕКТОСКОПИЧЕСКИМ МАТЕРИАЛАМ

     3.1. При магнитопорошковом методе контроля применяют магнитные дефектоскопические мате­
риалы: порошки, суспензии и магнитогуммированные пасты.
     3.2. В зависимости от состояния контролируемой поверхности (ее цвета и шероховатости), магнит­
ных свойств материала и требуемой чувствительности контроля используют магнитные порошки,
имеющие естественную окраску, а также цветные и люминесцентные.
                                                  64

3

Страница 3

ГОСТ 2 11 0 5 -8 7 С. 3

      3.3. Основные свойства магнитных порошков, влияющих на выявляемость дефектов: дисперс­
ность, магнитные и оптические характеристики.
      Качество магнитных порошков оценивают по методикам, приведенным в отраслевой норматив­
но-технической документации па их поставку.
      3.4. Свойства магнитной суспензии, влияющие на выявляемость дефектов, определяются соста­
вом. концентрацией и свойствами отдельных ее компонентов.
      3.4.1. Концентрация магнитного порошка в суспензии должна составлять (25±5) г/дм3, а люми­
несцентного порошка — (4±1) г/дм3.
      При контроле резьбы и объектов с использованием магнитных полей напряженностью £100 А/см
концентрацию магнитного порошка уменьшают до 5 г/дм3.
      В технически обоснованных случаях допускается устанавливать более высокие значения концент­
рации магнитного порошка в суспензии.
      3.4.2. Вязкость дисперсионной среды суспензии не должны превышать 36 • 10“ * м2/с (36 сСт)
при температуре контроля. При вязкости носителя выше 10 ■ 10_6 м2/с (10 сСт) в технической
документации должно быть указано время стекання основной массы суспензии, после которого
допустим осмотр изделия.
      3.4.3. Дисперсионная среда суспензий с люминесцентными магнитными порошками не должна
ухудшать светоколористических свойств порошка, а ее собственная люминесцентная не должна иска­
жать результаты контроля.
      3.5. Магнитная суспензия не должна вызывать коррозии контролируемой поверхности.
      3.6. Магннто гуммированная паста представляет собой смесь магнитного порошка и затвердеваю­
щих органических полимерных веществ.
      3.7. Качество готовых дефектоскопических материалов определяют перед проведением контроля
на стандартных образцах предприятий, аттестованных в установленном порядке.

                          4. ПОДГОТОВКА И ПРОВЕДЕНИЕ КОНТРОЛЯ

     4.1. Магнитопорошковый метод контроля включают технологические операции:
     - подготовку к контролю;
     - намагничивание объекта контроля;
     - нанесение дефектоскопического материала на объект контроля;
     - осмотр контролируемой поверхности и регистрации индикаторных рисунков дефектов;
     - оценку результатов контроля;
     - размагничивание.
     4.2. При магнитопорошковом методе контроля применяют:
     - способ остаточной намагниченности (СОН);
     - способ приложенного поля (СПП).
     4.2.1. При контроле СОН объект контроля предварительно намагничивают, а затем, после снятия
намагничивающего поля, на его поверхность наносят дефектоскопический материал. Промежуток вре­
мени между указанными выше операциями должен быть не более часа. Осмотр контролируемой повер­
хности проводят после отекания основной массы суспензии.
     СОН применяют при контроле объектов из магнитотвердых материалов с коэрцитивной силой
Не £10 А/см, с остаточной индукцией 0,5 Тл и более.
     4.2.2. При контроле СПП операции намагничивания объекта контроля и нанесения суспензии
выполняют одновременно. При этом индикаторные рисунки выяатяемых дефектов образуются в про­
цессе намагничивания. Намагничивание прекращают после стекання с контролируемой поверхности
основной массы суспензии. Осмотр контролируемой поверхности проводят после прекращения намаг­
ничивания.
     Для уменьшения нагрева объекта контроля рекомендуется применять прерывистый режим намаг­
ничивания, при котором ток по намагничивающему устройству пропускают в течение 0,1—3 с с
перерывами до 5 с.
     4.2.3. Способ контроля выбирают в зависимости от магнитных свойств материалов объекта и
требуемой чувствительности контроля в соответствии с приложением 2.
     4.3. Подготовка к контролю должна включать:
     - подготовку объекта к операциям контроля;
     - проверку работоспособности дефектоскопов;
3- 1 -3770                                     65

4

Страница 4

С . 4 ГОСТ 2 1 1 0 5 - 8 7


     - проверку качества дефектоскопических материалов.
     4.3.1. При подготовке объема с контролируемой поверхности необходимо удалить продукты кор­
розии. остатки окалины, масляные загрязнения, а при необходимости — следы лакокрасочных покры­
тий.
     4.3.2. При контроле объектов с темной поверхностью при помощи черного магнитного порошка
на контролируемую поверхность следует наносить покрытие, обеспечивающее необходимый контраст,
толщиной до 20 мкм.
     4.3.3. Проверку работоспособности дефектоскопов и качества дефектоскопических материалов
проводят при помощи стандартных образцов предприятий, специально изготовленных или отобранных
из числа забракованных изделий с дефектами, размеры которых соответствуют принятому уровню
чувствителы«ости.
     Методика изготовления образцов приведена в приложении 3.
     4.4. При магнитопорошковом контроле применяют намагничивание: циркулярное; продольное
(полюсное); комбинированное; во вращающемся магнитном пате.
     Вилы, способы и схемы намагничивания приведены в табл. 2.

                                                                                                 Таблица 2

                                    С п о с о б iiju a iiiii'iiu iJ in u i

                                П ропусканием              тока        по всему
                             объекту




                                Пропусканием              тока        по     части
                             объекта




                                 Пропусканием тока по проводни­
    Циркулярное              ку, помещенному в сквозное отверстие
                             в объекте

                                                                                     О   О




                             те




                                                                                             О
                                Пропусканием тока по тороидаль­
                             ной обмотке




                                                                   66
Показаны первые 4 из 12

История статуса

Подтверждённых событий пока нет.