ГОСТ 20827-75

УДК 771.351 : 535.318(083.74)                                                            Группа У99

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й                             С Т А Н Д А Р Т    С О Ю З А       ССР



                                     ОБЪЕКТИВЫ СЪЕМОЧНЫЕ
Метод измерения хроматической аберрации положения                                ГОСТ
                           Camera lenses. Method for measurement of the
                                  chromatic aberration of position
                                                                              20827— 75


Постановлением Государственного комитета стандартов                             Совета    Министров
СССР от 14 мая 1Р75 г. N9 1391 срои действия установлен
                                                                                          с 01.07.76
                                                                                         до 01.07,81
                                      Несоблюдение стандарта преследуется по закону


   Настоящий стандарт распространяется на фотографические,
киносъемочные и телевизионные съемочные объективы и устанав­
ливает метод измерения хроматической аберрации положения.

                                                  1. СУЩНОСТЬ МЕТОДА

   1.1.    Метод измерения хроматической аберрации положения ос
нован на определении положения плоскостей изображения в моно­
хроматическом свете для различных длин волн света.
   Положение плоскости изображения может быть определено
тремя способами:
   по совмещению дифракционных картин, полученных от двух
пар параллельных щелей, расположенных симметрично относи­
тельно осн объектива перед его входным зрачком и освещенных
из плоскости предметов монохроматическим светом, исходящим
из узкой щелн;
   по положению в поле зрения микроскопа дифракционной кар­
тины, полученной от одной пары щелей, расположенной перед
входным зрачком объектива и освещенной из плоскости предме­
тов монохроматическим светом, исходящим из узкой щели;




  Издание официальное                                                       Перепечатке воспрещен*
цены на проектные работы


                                                                                                17

Стр. 2 ГОСТ 20827—75


   по резкому изображению щели, расположенной в плоскости
предметов и освещенной монохроматическим светом, проходящим
через кольцевую диафрагму, установленную перед входным зрач­
ком объектива.
    П р и м е ч а н и е . Для объективов с относительным отверстием менее 1 : 10
предпочтительно применять способ с одной парой щелей, для объективов с диа­
метром входного зрачка менее 10 мм — способ с кольцевой диафрагмой.
    Допускается производить измерения при полном относительном отверстии
объектива, если отсутствует сфсрохрсматлчсская аберрация.

                                   2. АППАРАТУРА

   2.1.    Измерение хроматической аберрации положения съемоч­
ных объективов должно производиться на оптической скамье по
схеме черт. 1.




      1 веточка»: с»«т»: ? - конденсор; 3—сметных яптерфсрежциоаныЯ светофильтр:
      <-ра:ц»|И миьв « е л ь ; 5—коллиматор; £—диафрагма: А — с олной дерой щелей.
      В—с двумя пврвмв щелей. Я—кольцевая; 7— обьектяводержяте.ть; «-исп ы ту е­
                                 мый объектна; # —микроскоп
                                        Черт. 1
    П р и м е ч а н и е . Вместо источника света со сменным интерференционным
светофильтром допускается использование монохроматора.
    При испытаниях объективов, работающих с конечного расстояния, должна
быть использована схема черт. 1. за исключением коллиматор».
   2.2. Апертурный угол конденсора в пространстве изображе­
нии должен быть больше апертурного угла коллиматора.
   2.3. Интерференционный светофильтр должен иметь полушири­
ну полосы пропускания не более 15 нм.
   2.4. Световой диаметр коллиматора должен превышать диа­
метр входного зрачка испытуемого объектива на 10—20%.
   2.5. Кольцевая диафрагма должна иметь средний радиус коль­
ца г j / " -^-и ширину кольца нс более- —                 где г — радиус входно­
го зрачка испытуемого объектива, мм, /«* — фокусное расстояние
испытуемого объектива, мм.
 18

ГОСТ 3 M V —7S Стр. 3


    2.6. Микроскоп должен иметь окулярный микрометр и меха­
 низм микрометрического перемещения вдоль оптической оси.
    2.7. Апертура  мнкрообъектива  микроскопа должна быть
 больше апертуры испытуемого объектива в пространстве изобра­
 жений.

                   3. ПОДГОТОВКА К ИЗМЕРЕНИЮ

   3.1. Закрепить испытуемый объектив в объективодержателе
передней линзой к коллиматору.
    3.2. Установить раздвижную щель в фокальной плоскости кол­
лиматора перпендикулярно его оптической оси.
   Для объективов, рассчитанных для работы с конечного рас­
стояния, раздвижную щель необходимо установить на заданном
расстоянии S nv от передней линзы испытуемого объектива.
    3.3. Подобрать ширину раздвижной щели но резкости дифрак­
ционной картины в плоскости изображений.
   3.4. Установить диафрагму на минимальном расстоянии от
плоскости входного зрачка испытуемого объектива перпендикуляр­
но его оптической оси.
   3.5. Установить в каждой паре щелей диафрагм А , Б ширину
щелей и промежуток между ними равными 1/2d, где
                       rf = < 0 .0 2 - 0 .0 5 ) / * .
   3.6. Установить высоту щелей диафрагмы не более 0,2 диамет­
ра входного зрачка испытуемого объектива.              (
   З.^Располож ить пары щелей диафрагмы А, Б на расстоянии—
■ j / — от оптической оси испытуемого объектива.
   3.8. Сориентировать раздвижную щель н щели диафрагмы
параллельно друг другу.
   3.9. Выбрать увеличение микроскопа исходя из условия, что
дифракционная полоса видна через микроскоп под углом не ме­
нее 0,5°, и рассчитать увеличение Гм по формуле
                                  k ,.d
                           Гм>
                                    ‘ Дв
где А*1 — эмпирический коэффициент, равный 2 —4 мм,
    Хо — длина волны света, для которой выполнен основной рас­
          чет объектива, мм.
                    4. ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЯ

   4.1. И з м е р е н и е по с п о с о б у с двумя  парами
щелей
   4.1.1. Навести микроскоп на плоскость изображения, в кото­
рой дифракционные картины от двух пар щелей совмещаются в
                                                              19

Стр. 4 ГОСТ 20827—7J


одну картину. Критерием наводки на указанную плоскость яв­
ляется наибольшая резкость дифракционной картины.
   Наводку повторить не менее трех раз, производя каждый раз
отсчет Ki по шкале продольных перемещений микроскопа.
   4.1.2. Повторить измерения для нескольких длин волн, вклю­
чая Я$.
   4.2. И з м е р е н и е с п о с о б о м с к о л ь ц е в о й д и а ф р а г ­
мой
   4.2.1. Навести микроскоп на резкое изображение щели.
   4.2.2. Далее по п. 4.1.
   4.3. И з м е р е н и е п о с п о с о б у с о д н о й п а р о й щ е л е й
   4.3.1.     Выбрать соответствующую’ длине волны плоскость изо­
бражения, в которой будут производиться измерения. Для этого
установить    диафрагму последовательно          на расстоянии + г
                                                                     Vг
           т от оси объектива.
    П р и м е ч а н и е . Если при перемещении диафрагмы из одного крайнего
положения в другое наблюдается поперечное смещение дифракционной карти­
ны в поле зрения микроскопа, необходимо переместить микроскоп вдоль опти­
ческой оси на величину

                              I/ = fт t , —— ,
   где ft» — эмпирический коэффициент, равный 0.7 км;
       Д — смещение дифракционной картины в предметной пдоскосгя микро­
             скопа, мм.
   4.3.2. Навести перекрестие окуляра микроскопа на среднюю
дифракционную полосу.
   Наводку повторить не менее трех раз, производя каждый раз
отсчет й( по шкале окулярного микрометра.
   4.3.3. Повторить измерения для нескольких длин волн, вклю­
чая Ло-

                        5.   ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ


    5.1.     Рассчитать хроматическую аберрацию положения A S ^ п
формулам:
   а) для измерения по пп. 4.1 и 4.2.
                      &Sxg = К Ч - К х ,.
где К \( — вычисленное среднеарифметическое значение отсчетов
           по шкале продольных перемещений микроскопа для
           длины волны Я»;
    К — то же, для основной длины волны Яц.
  20