ГОСТ 19834.3-76

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й                    С Т А Н Д А Р Т
                                                             С О Ю З А         С С Р




              И ЗЛ УЧ АТЕЛ И П О Л УП РО ВО Д Н И КО В Ы Е
                                    М Е Т О Д И ЗМ Е Р Е Н И Я О Т Н О С И Т Е Л Ь Н О ГО С П Е К Т РА Л Ь Н О ГО
                                        Р А С П Р Е Д Е Л Е Н И Я ЭН ЕРГИ И И ЗЛ УЧ ЕН И Я И Ш И РИ Н Ы
                                                                 С П Е К Т РА И ЗЛ УЧ ЕН И Я

                                                             ГОСТ 19834.3— 76
                                                           (СТ СЭВ 3788— 82)


                                                            Издание оф ициальное




                                                           >              £     *
Цеха 3 коп.




                                             ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ
                                                              Москаа
              переселение граждан

У Д К 42l.3«.J2.03t.6.029.67 : J35.42.0t: 004.3Л                                   Группа 329

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й            С Т А Н Д А Р Т             С О Ю З А            ССР


          ИЗЛУЧАТЕЛИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ.

    Метод измерения относительного спектрального                          ГО СТ
  распределения энергии излучения и ширины спектра
                     излучения.                                  1 9 8 3 4 .3 - 7 6 *
    Semiconductor em itters. M ethods for m easuring
      of relative spectral energydistribution and                (CT C3B 3788—82)
                   spectra] bandwidth
ОКП 621000


Постановлением Гоеударетаенного комитета стандарте» Совета Министре» СССР
От 13 апреля 1976 г. Не 810 срок действия установлен
                                                                 с 01.07.77
                                                                до 01.07J 7

                 Несоблюдение стандарта преследуется по закону

   Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые
излучатели некогерентного излучения (далее—излучатели) н уста­
навливает метод измерения относительного спектрального распре­
деления энергии излучения и ширины спектра излучения в диапа­
зоне длин волн 380—2000 им.
   Общие требования при измерении — по ГОСТ 19834.0—75.
   Стандарт соответствует СТ СЭВ 3788—82 в части измерения
относительного спектрального распределения энергии излучения и
ширины спектра излучения (см. справочное приложение 1).
   (Измененная редакция, Изм. № 1).

                        1». ПРИНЦИП И РЕЖИМ ИЗМЕРЕНИЯ

   !а.1. Принцип измерения основан на сравнении спектрального
распределения энергии излучателя и образцового источника из­
лучения.
   1а.2. Значение прямого тока через излучатель должно соответ­
ствовать установленному в стандартах или технических условиях
на излучатели конкретных типов.
    Разд. 1а. (Введен дополнительно, Изм. № 1).



Игдвнме официальное                                             Перелечатк» воспрещена
      *
          * Переиздание февраль 1984 г. с Изменением .N5 /. утвержденным
            о декабре 1983 г : Поет М 5736 от 06.12.83 (НУС 3—1984 г.).
                                            €> И з д а т е л ь с т в о с т а н д а р т о в , 1 984

Стр- 2 ГОСТ 19634.3— 76


                                  1. АППАРАТУРА

   I.I.    Измерение спектрального состава излучения проводят на
установке, структурная схема которой приведена на чертеже.




          О—генератор тома: О- излучатель (проверяемый мл* оЛрзлзовыП);
          л;. Х 2 - ко н тен т подключения яалуч&тедя; Л1-~слехтрпльямА пои-
          пор; й -фотопуж емннн; РА—к>иерктель тохп; /.—расстоянии егт
                               кэлучатсля до фотоержемникя

    1.2. Генератор тока должен обеспечивать задание и поддер­
жание тока через излучатель с погрешностью в пределах ± 5% .
    1.3. В качестве образцового источника излучения следует ис­
пользовать образцовую светоизмерительную лампу накаливания
3-го разряда по ГОСТ 8023—74 или ГОСТ 8.101—80.
    1 4. В качестве спектральных приборов следует использовать
спектрографы, спектроскопы или монохроматоры с призменным
или дифракционным диспергирующим элементом.* Спектральный
прибор должен быть проградуирован с погрешностью и пределах
± 5% ширины спектра излучателя.
    1.5. Режим работы фотоприемника должен обеспечивать реги­
страцию излучения на линейном участке его энергетической ха­
рактеристики.
    1.6. Измеритель тока должен иметь класс точности нс ни­
же 1,5.
    Рлзл. I. (Измененная редакция, Изм. № 1).

                2. ПОДГОТОВКА И ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ

   2.1. (Исключен, Изм. № 1).
   2.2. При измерениях ширина входной щели спектрального при­
бора не должна превышать ширины выходкой щели. Ширину вы­
ходной шели выбирают из следующих условий:
   поток излучения на выходе спектрального прибора должен
быть достаточно большим для регистрации его фотоприемииком;
   спектральная ширина щели не должна превышать интервал
длин волн, н котором производятся измерения.
   Спектральная ширина щели ДЯо.ь вычисляется по формуле

    ♦ Типы приборов — го> рекомендуемому приложению 2

ГОСТ 19334.3   76 Стр. 3


                       " " • '“ Ж •                                (I)
                              dk
где Ь— ширина щели, мм;
   Л — линейная дисперсия спектрального прибора, м м /н м /
   (Измененная редакция, Изм. № 1).
   2.3. При измерениях фотоприсмннк должен быть жестко зафик­
сирован относительно спектрального прибора и весь поток излуче­
ния из выходной щели должен попадать на фотоприемник.
   2.4. Перед входной щелью спектрального прибора устанавлива­
ют конденсор.
   2 5. Показания п регистрирующего прибора для длины волны
Я снимают при следующих условиях:
    при освещении входной щели спектрального прибора образцо­
вым источником л0>. ;
    при освещении входной щели спектрального прибора измеряе­
мым излучателем пх>. .
   2.6.    Измерения по п. 2.5 производят во всем спектральном диа­
пазоне излучений не менее чем в 10 точках и не реже чем через
10 нм.
    (Измененная редакция, Изм. & 1).

                    3. ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ

   3.1. Для каждой длины волны X вычисляют относительную
спектральную плотность энергии излучения Си измеряемого из­
лучателя по формуле

                                                              .     ( 2)

   где е>.о — относительная спектральная плотность энергии излу­
              чения образцового источника, выбираемая по реко­
             мендуемому приложению 3.
   Строят относительную спектральную характеристику

                     Ы ^ )~ Не/.Г~»ВХ).                             ( 3)
   где exmix — максимальная относительная спектральная плот­
                 ность энергии излучения измеряемого излучателя
                 из ряда вычислений по формуле (2).
    3.2. По относительной спектральной характеристике находят
 длину полны Хтах, соответствующую максимальной спектральной
 плотности энергии излучения измеряемого источника, и ширину
 спектра АХо.в-