Межгосударственный стандарт
ГОСТ 19834.0-75
Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров
Semiconductor emitters. Methods for measurement of parameters. General principles
Редакционная карточка ГОСТНОРМ. Полный текст публикуется только при подтверждённом праве использования. Метаданные сверяются по нескольким источникам.
Область применения
Область применения пока не подтверждена.
1
Страница 1
Г О СУ ДА Р СТ В Е НН Ы! : СТА
С О ЮЗ А ССР
МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТР
ГОСТ 19834.0— 75,
>834.2-74 — ГОСТ 198 34 .S*80
Ш ттщ тт
Издание официальное
т '.*
щ
4* *
:& Р Й Ё
а*
» , * , , ^ . ■
■
*
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ > ; : г ’
Москва
гигиеническое заключение2
Страница 2
УДИ 621.382.2.001.24 : 006.354 Группа Э29
Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й С Т А Н Д А Р Т С О Ю З А ССР
ИЗЛУЧАТЕЛИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
ГОСТ
Общие требования при измерении, параметров
1 9 8 3 4 .0 — 7 5 *
Semiconductor emitters.
General requirements for measurement
of parameters (СТ СЭВ 3788— 82)
ОКП 621000
Постановлением Государственного комитета стандартов Совета Министров СССР
от 14 февраля 1975 г. № 433 срок действия установлен
с 01.07.76
до 01.07.87
Несоблюдение стандарта преследуется по закону
1. Настоящий стандарт распространяется на полупроводнико
вые излучатели некогерентного излучения (далее—излучатели), в
том числе бескорпусные, и устанавливает общие требования при
измерении параметров.
Стандарт соответствует СТ СЭВ 3788—82 в части общих поло
жений (см. справочное приложение 2).
2. УСЛОВИЯ И РЕЖИМ ИЗМЕРЕНИЯ
2.1. Условия при измерении параметров излучателей — по
ГОСТ 20.57.406-81.
2.2. Электрический режим измерения должен соответствовать
установленному в стандартах или технических условиях на излуча
тели конкретных типов.
3. АППАРАТУРА
3.1. Аппаратура — по нормативно-технической документации и
стандартам на конкретные методы измерения со следующим допол
нением.
3.1.1. Измерительные установки должны обеспечивать исключе
ние влияния посторонних засветок на результат измерений. Пог-
Издание официальное Перепечатка воспрещена
* Переиздание (апрель 1985 г.) с Изменением № 1, утвержденным
в декабре 1983 г.. Пост. № 5736 от 06.12.83 (ИУС 3 - 8 4 ) .
© Издательство стандартов, 1985
13
Страница 3
Стр. 2 ГОСТ 19834.0— 75
решности за счет контактных соединений при измерении парамет
ров бескорпусных излучателей следует учитывать в стандартах на
конкретные методы измерения.
3.1.2. Положение излучателя и фотоприемника должно обеспе
чивать измерение параметров в направлении геометрической оси
корпуса излучателя для корпусных приборов и в направлении,
перпендикулярном излучающей поверхности, для бескорпусных
излучателей, в том числе для излучающих структур на пластинах.
3.1.3. При наличии в конструкции излучателя оптических эле
ментов, изменяющих пространственную структуру излучения (линз,
световодов, фоконов и т. п.), дополнительные требования должны
соответствовать указанным в стандартах или технических услови
ях на излучатели конкретных типов.
3.1.4. В качестве образцовых и рабочих источников излучения
следует использовать светоизмерительные лампы накаливания и
светоизмерительные лампы с ленточным телом накала по ГОСТ
8.023—83 и ГОСТ 8.101—80, образцовые излучатели и контрольные
образцы на основе излучателей, имеющих известную относитель
ную спектральную плотность энергии излучения.
3.1.5. В качестве фотоприемника следует использовать фото
электронные умножители, фотоэлементы и фотоэлектрические по
лупроводниковые приемники излучения, чувствительные во всем
диапазоне измерения измеряемого параметра и отградуированные
по спектральной чувствительности. •
3.1.6. Чувствительность фотоприемника должна быть постоян
ной в пределах допустимой погрешности во всем диапазоне изме
рения измеряемого параметра.
3.1.7. При импульсных режимах измерения фотометрических
и статических параметров следует учитывать динамические пара
метры фотоприемника и инерционные свойства излучателя. Дли
тельность импульса прямого тока должна превышать не менее чем
в 50 раз длительность переходных процессов в излучателе и фо-
топриемнике. Длительность, амплитуда и частота следования им
пульсов прямого тока должны соответствовать установленным в
стандартах или технических условиях на излучатели конкретных
3.1.8. Для измерения параметров матричных излучателей сле
дует предусматривать возможность применения автоматизирован
ных измерительных установок, в том числе с ЭВМ.
1—3.1.8. (Измененная редакция, Изм. № 1).
4—6. (Исключены, Изм. № 1).
Приложение справочное. (Исключено, Изм. № 1).
24
Страница 4
ГОСТ 19834.0— 75 Стр. 3
ПРИЛОЖЕНИЕ 2
Справочное
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ
о соответствии ГОСТ 19834.0— 75 СТ СЭВ 3788— 82
П ункты Г О С Т 1 9 8 3 4 .0 -7 5 П ункты С Т С Э В 3 7 8 8 -8 2
П . 3.1.1 П . 1.1.3.4
п. 3.1.2 п. 1.1.3.2
п. 3.1.3 п. 1.1.2.5
п. 3.1.5 п. 1.1.2.3
п. 3.1.7 п. 1.1.2.8
(Введено дополнительно, Изм. № 1).Показаны первые 4 из 6
История статуса
Подтверждённых событий пока нет.