ГОСТ 19656.14-79

iQ6S6. М




                              Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й     С Т А Н Д А Р Т
                                             С О Ю З А        ССР




                             ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СВЧ
                                      ПЕРЕКЛЮЧАТЕЛЬНЫЕ
                                  МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ КРИТИЧЕСКОЙ ЧАСТОТЫ


                                           ГОСТ 19656.14-79


                                            Издание официальное
I                                    Л
    Цена 3 коп.




                                  ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ
    набор прочности бетона
                                                   М оск аа

Редактор » ■
                       Гелпичсской редактор й.‘ //.
                             Корректор Л- Л Г/potio-libfca

Слипо a пай. 24 ОЭ 79 Поли s печ М 11.74 0JI7S п. л. 0,25 уч. взд. д Тир. НО) Ц М ) 3 коп
Орден* «Заек Почкгв» И гдагяаьстаэ стандартов. 1235)7. Москва, НевопросненскиЛ н * р , Э
            Тип. *.Млско»:ю|Д гечатяик». М м к и , Л ялей ntp. к. За*. 1315

У ДК «1.381.1.02*4.08: 006.334                                    Групп» Э29

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й         С Т А Н Д А Р Т    С О Ю З А     ССР




         ДИОДЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СВЧ
                ПЕРЕКЛЮЧАТЕЛЬНЫЕ
         Метод измерения критической частоты
                                                              ГОСТ
      Semiconductor microwave switching diodes.          19656 .14— 79
        Measurement method oi critical itequency




Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 11 сентября
1*Г9 г. Me 3437 срок действия установлен
                                                            с 0103 1981 г.
                                                           до 01.01 1986 г.

                 Несоблюденно стандарта преследуется по закону

    Настоящий стандарт распространяется на переключательные
 СВЧ полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения
 критической частоты f„v.
    Общие условия должны соответствовать ГОСТ 19656.0—74 и
 ГОСТ 18986.0-74.

                      1. ПРИНЦИП И УСЛОВИЯ ИЗМЕРЕНИЯ

    1.1. Метод основан на измерении полного входного сопротивле­
 ния измерительной диодной камеры с включенным в нее измеря­
 емым диодом.
    1.2. Режим измерения (уровень СВЧ мощности, частота, на­
 пряжение н ток смещения) устанавливается в стандартах или тех­
 нических условиях на диоды конкретных типов.

                                 2.   АППАРАТУРА

    2.1. Измерения следует производить на установке, структурная
 схема и требования к элементам которой должны соответствовать
 ГОСТ 19656.11—75.
    2.2. Допускается применять эквиваленты диодов в режимах
 короткого замыкания и холостого хода, обеспечивающие те же
 фазы стоячей волны, что и измеряемые диоды в режимах прямого

 Издание официальное                                    Перепечатка воспрещена
           ★
                                         ©Издательство стандартов, 1979-

Стр. 2 ГОСТ 1MS6.14— 79


и обратного смещения с погрешностью, установленной в стандарт
тах или технических условиях на диоды конкретных типов.

                3.   ПОДГОТОВКА И ПРОВЕДЕНИЕ ИЗМЕРЕНИЙ

   3.1. Подготовку и проведение измерений следует производить
в соответствии с ГОСТ 19656.11—75.
   3.2. Для диодов с общей емкостью более 1,0 пФ допускается
плоскость отсчета определять при короткозамкнутом центральном
проводнике измерительной диодной камеры.

                          4.   ОВРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ


   4.1.     Критическую частоту /кр в ГГц следует определять по фор­
муле

                                      sin (Vain (1,
/ч>= —                                                         (»


           V (                                  л,‘)

                      где       А = - £ - (/»—/,);

                                fe = - V - № - « ;



    ДЛ; д /г5     д/«; Л; / 2; /*; Л — значения, определяемые по
                                       ГОСТ 19656.11-75, мм;
   а — длина волны в измерительной линии, мм;
   с — скорость света 3 1 0 '1 мм/с.
   4.1.1. При выполнении условий:

                       со$! Ч '+ ^ ) !< 1'05:
                                    sin 32>0,95
критическую частоту /кр в ГГц определяют по формуле
                       е___________sin 0^
             ^*р—                                              (2)
                      ж        V (а /з-а л Х Д ^ -л /^ п Ъ )