ГОСТ 19438.2-74

Y W A        li




                             Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й       С Т А Н Д А Р Т
                                            С О Ю З А      ССР




                                   ЛАМ ПЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ
                                         МАЛОМОЩ НЫ Е
                                     МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ СТАТИЧЕСКИХ
                                      МЕЖДУЭЛЕКТРОДНЫХ ЕМКОСТЕЙ

                                          ГОСТ 19438.2-74

                                           Издание официальное
Цена 11 коп.




                                 государственный комитет ссср п о стандартам
                                                  Москва



       новогодние скатерти

У Д К 611.165.08» 8 : 006.354                                        Группа Э29

Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н Ы Й          С Т А Н Д А Р Т      С О Ю З А     С С Р




        ЛАМПЫ ЭЛЕКТРОННЫЕ МАЛОМ ОЩ НЫ Е                        ГОСТ
                Методы мэмераииа статических
                 междуэлактродных емкостей               1 9 4 3 8 .2 — 7 4 *
                Low-power electronic tubes.
              Methods o< measurement of direct                   В м м еи
                 interctectrode capacitances                  ГОСТ 8100— 63




Постановлением Государственного комитата стандартов Совета Министров СССР
от 22 виввря 1974 г. Не 195 срои введения установлен
                                                                 с 01.07.75
Проворам в 1984 т. Постанов леммам Госстандарта от 16 яиаарв 1985 г. № 89
срок действия продлен
                                                                до 01.07.90

                   Несоблюдение стандарта преследуется по закону


   Настоящий стандарт распространяется на приемко-усилитель­
ные генераторные и электрометрические лампы мощностью, продол­
жительно рассеиваемой анодом, до 25 Вт и устанавливает следую­
щие методы измерения статических междуэлектродных емкостей:
   метод деления напряжения;
   метод моста.
   Стандарт соответствует Публикации МЭК 100 в части методов
измерений.
   (Измененная редакция, Изм. № !, 2).

           1.    ОБЩИЕ ТРЕБОВАНИЯ К ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ АППАРАТУРЕ
                           И УСЛОВИЯМ ИЗМЕРЕНИЯ

   1.1. Испытательные установки для измерения статических меж­
дуэлектродных емкостей * должны соответствовать требованиям
ГОСТ 19438.0-80.
   Отсчетные устройства испытательных установок должны быть
проградуированы в единицах емкости.
    • Термины и определения приведены в справочном приложений 7.

Издание официальное                                      Перепечатка воспрещен»
          ★
   * Переиздание (ноябрь 1985 г.) с Изменениями М I, 2, утвержденными в
               июне 1980 г , январе 1988 г. (НУС 8—80, •#—85)
                                         © Издательство стандартов, 1986

Стр. 2 ГОСТ 194JB.2— 74



      12. Основная относительная погрешность измерения между-
  электродны.х емкостей не должна превышать:
      ± 20% при измерении емкостей менее 0,001 пФ-                  i
              *      *        »     ОТ 0,001 до 0 .Гиф ;
     —бя »           *        *     более 0.1 пФ.
     Способы поверки основной относительной погрешности должны
 указываться в технической документации на средства измерения
 утвержденной в установленном порядке.                   измерения.
     1.3. Включение ламп в испытательную установку должно осу­
 ществляться при помощи измерительных панелей, приспособлен-
 ных, оЛ,я включения ламп с различными цоколями
     1.3 1. Лицевая плата измерительной панели должна быть пло­
 ской. Допускается применение плат с неплоской поверхностью ест и
  Г ^ к о ”Г п 7 а т о Т ЛНИТеЛЫЮЙ погрешнмсти         в сравнении
      Конструкция и размеры лицевых плат измерительных панелей
  для измерения междуэлектродных емкостей ламп с жесткими вы-
  водами (миниатюрных, сверхминиатюрных, стеклянных, металли­
  ческих и т. д.) приведена в рекомендуемом приложении 1.
      Конструкция измерительных панелей для измерения между­
  электродных емкостей ламп с гибкими выводами, приведена в ре­
  комендуемом приложении 2, а с дисковыми и цилиндрическими_
  в рекомендуемом приложении 3.
      1.3.2. Конструкция измерительной панели должна обеспечивать
 одно положение испытываемых ламп относительно этой измери­
 тельной панели и специального экрана.                            *
     Примеры выполнения приспособлений для крепления ламп на
 лицевой плате измерительной панели приведены в рекомендуемом
 приложении 2.                                     v      " a/ c- ww
     1.3.3. Для изоляции незаземленных экранирующих деталей к
 лицевой плате измерительной панели допускается крепить тонкую
 изолирующую пленку такой толщины, при которой обеспечивается
 выполнение требования п. 1.2.
     1.3.4. В измерительных панелях, предназначенных для испыта­
 ния ламп с верхним выводом, этот вывод и соединения с ним дол-
 жны быть помещены в экран, соединенный с корпусом измери­
тельной панели.                                      3           у
    Подключение к измерительной панели ламп, имеющих верхний
вывод в виде колпачка или штырька, обеспечивают при помощи
колпачков, приведенных в рекомендуемом приложении 4. а имею-
пшх гибкий верхний вывод — в рекомендуемом приложении 2.
    J.3.5. Конструкция и экранировка измерительных панелей и
проводов должны быть такими, чтобы панель без испытываемой
лампы, но со всеми предусмотренными и установленными на ней
экранами имела такую собственную емкость, при которой обеспе-

ГОСТ 1 9 4 M J — 74 Стр. 3


чнвается измерение междуэлектродных емкостей с погрешностью,
не превышающей указанной в п. 1.2.
   При измерении междуэлектродных емкостей менее 0,001 пФ
собственная емкость панели должна быть не более 0,0001 пФ.
   1.3.6. Измерительная панель должна быть приспособлена для
измерения всех междуэлектродных емкостей лампы. Допускается
в технически обоснованных случаях измерять мсждуэлектродные
емкости лампы при помощи комплекта измерительных панелей.
   1.3.7. Все экраны, металлические части измерительной панели,
подлежащие заземлению, и места разъемов экранов должны иметь
надежный электрический контакт с корпусом измерительной уста­
новки и между собой.
    1.3.8. Изоляционные материалы, используемые для изготовле­
ния деталей панели, должны иметь диэлектрическую проницае­
мость не более 5.
   1.4. Испытываемую лампу вместе с измерительной панелью
необходимо защищать от воздействия внешних электрических по­
лей, если вносимая ими погрешность превышает 2% от предель­
но допустимого значения измеряемой емкости.
   Для этой цели применяют общий экран, соединяемый с экви­
валентной землей. По конструктивному оформлению экран может
быть составным или цельным. При использовании общего экрана
его минимальные размеры и форма должны быть такими, чтобы
дополнительная погрешность, возникающая за счет близости экра­
на к лампе, не увеличивала погрешности измерении, указанной
в п. 1.2.
   Форму экрана выполняют в виде колпака цилиндрической фор­
мы с внутренним диаметром, равным диаметру лицевой платы
измерительной панели, при этом верхняя плоскость экрана должна
отстоять от ближайшей точки лампы на расстоянии не меиее
25 мм.
    15. Междуэлектродную емкость лампы измеряют как емкость
между какими-либо двумя или более электродами вместе с соеди­
ненной с ними внутрнламповой арматурой.
    1.6. Измерение статических междуэлектродных емкостей дол­
жно проводиться при ненакаленном катоде.
    1.7. Емкости между наружными токопроводящими деталями
лампы не учитывают, если эти емкости не превышают 1% от пре­
дельно допустимого значения измеряемой емкости, указанного в
стандартах или в другой технической документации, утвержденной
в установленном порядке, на лампы конкретных типов.
   Для проверки эффективности экранировки наружных токопро­
водящих деталей лампы допускается применять модель лампы.
Пример выполнения модели лампы, при помощи которой изме­
ряют емкость между наружными токопроводящими деталями лам­
пы, приведен в рекомендуемом приложении 5.