ГОСТ 17772-88

г о с у д а р с т в е н н ы й               с т а н д а р т
                                                        С О ЮЗ А          ССР




               ч.                            ПРИЕМНИКИ ИЗЛУЧЕНИЯ
                                              ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ
                             ;Г
                              У               ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ
                    Щ                     И ФОТОПРИЕМНЫЕ УСТРОЙСТВА
                                   '    МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ
                                       ПАРАМЕТРОВ И ОП Р ЕД Е Л Е Н И Я Х АР А К ТЕ Р ИС Т ИК

 „                                                       ГОСТ 1 7 7 7 2 - 8 8
S                                                     (С Т С З В 3 7 8 9 - 8 2 )
ее
и?I
“                                                     Издание официальное
Цена 20 кон.




                                          ГОСУДАРСТВЕННЫП КОМИТЕТ СССР ПО СТАНДАРТАМ
                                                               М оем а
               сертификация труб

УДК 335.247.4.089.5:006.334                                       Группа Э29

Г О С УД А Р С Т В Е Н Н Ы И       С Т А Н Д А Р Т      С О ЮЗ А           ССР

           ПРИЕМНИКИ ИЗЛУЧЕНИЯ
 ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ
       И ФОТОПРИЕМНЫЕ УСТРОЙСТВА                            ГОСТ
  Методы измерения фотоэлектрических параметров
            и определения характеристик                   17772-88
       Semiconducting photoelectric defectors
         and receiving photoelectric devices.             (CT СЭВ
    Methods o! measuring photoelectric parameters         3 7 8 9 -8 2 )
          and determining characteristics.
ОКП 62 5000

                                                    Срок действии с 01.07.89
                                                                 до 01 07 92

   Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектрические
полупроводниковые приемники излучения (ФЭПП) и фотоприем­
ные устройства (ФПУ) на их основе, чувствительные к излучению
в диапазоне длин волн от 0,2 до 100 мкм.
   Стандарт не распространяется на ФЭПП и ФПУ, подлежащие
аттестации в качестве средств измерений.
   Стандарт устанавливает методы измерения фотоэлектрических
параметров и определении характеристик:
   а) на немодулированном излучении:
    И темпового, общего тока и фототока ФЭПП,
   2) темнового сопротивления ФЭПП.
   3) дифференциального электрического сопротивления ФЭПП,
   4) статической токовой чувствительности,
   5) рабочего напряжения лавинного фотодиода.
   б) коэффициента умножения темнового тока н фотогока лавин­
ного фотодиода,
   7) емкости ФЭПП;
   6) на модулированном излучении:
   8) напряжения фотосигиала и шума.
   9) тока фотосигнала и шума,
    10) эффективной фоточувствнтельной плошали.
    11) статической чувствительности.
    12) порога чувствительности,
    13) обнаружителыюй способности;
   в) на импульсном потоке:
    11) импульсной чувствительности (вольтовой и токовой).

Издание официальное                                 Перепечатка воспрещена
       *
                                   (£' Издательство стандартов. 1988

С. 2   ГОСТ   17772-88

   15) времени нарастания и спада;
   г) определение характеристик ФЭПП или ФПУ,
    16) польт-амперной характеристики,
   17) плоского угла зрения,
   18) линейной зоны и дифференциальной крутизны координат­
ной характеристики координатного фотодиода,
   19) дрейфа нулевой точки координатного фотодиода,
   20) коэффициента фотоэлектрической связи многоэлементного
ФЭПИ или ФПУ,
   21) неравномерности чувствительности,
   22) энергетических характеристик ФОТОТОКА ФЭПП
   23) энергетических характеристик напряжении фотосигнала,
   24) динамического диапазона,
   25) частотных характеристик,
   26) спектральной характеристики чувствительности и ее пара­
метров,
   27) фоновых характеристик,
   28) температурных характеристик,
   29) времени выхода на режим охлаждаемого ФЭПИ или ФПУ.
   30) времени автономной работы охлаждаемых ФЭПП или ФПУ,
   31) нестабильности параметров.
   Термины, применяемые в настоящем стандарте, и их пояснения
приведены в приложении 2.
   Степень соответствия настоящего стандарта СТ СЭВ 3789—82
приведена в приложении 1.

                         I. МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ

    1 .1 .     М е т о д и з м е р е н и я темпового, о б щ е г о тока
и   ф о т о т о к а ФЭПП
    1.1.1. Требования к средствам измерений
    1.1.1.1. Для измерения параметров ФЭПП (ФПУ) применяют
средства измерений, прошедшие государственные испытания в со­
ответствии с ГОСТ 8.001—80, ГОСТ 8.383 —80. Нестандартизнро-
ванные средства измерений должны быть аттестованы по ГОСТ
8.326—78. Средства измерений должны быть поверены по ГОСТ
8.5 1 3 -8 4 .
    Перечень средств измерения и вспомогательных устройств, при­
меняемых для измерения параметров ФЭПП и ФПУ, должен быть
указан в ТУ на их конкретные типы.
    1.1.1.2. Конструкция контактных устройств (контактодержате-
лей) для подключения ФЭПП к измерительной цепи должны обес­
печивать надежность электрического контакта без механических
повреждений выводов ФЭПП и исключать влияние их на резуль­
таты измерений.

ГОСТ 1 7772-88   С. 3

      1.1.1.3. Конструкция измерительной установки должна исклю­
чать влияние рассеянного света и посторонних источников излуче­
ния на результаты измерений.
     1.1.1.4. Тип источника излучения следует выбирать с учетом
параметров измеряемого изделия, установленных в стандартах
или ТУ на изделие конкретных типов. При измерении параметров,
используемых в качестве справочных, в зависимости от" области
спектральной чувствительности и режима работы ФЭПП, рекомен­
дуется применять следующие источники излучения:
     1) лампу накаливания типа СИС или PH при цветовой темпера­
туре 7\ = (2856±. 100) К по ГОСТ 8.023- 86;
     2) полный излучатель — абсолютно черное тело (АЧТ) с темпе­
ратурой полости Т*- ( 5 0 0 i2 ) К или Т = ( 1273±15) К по ГОСТ
8 .1 8 6 -8 3 .
     Методика измерения температуры полного излучателя (АЧТ)
и ее стабильности приведена в приложении 3.
     В состав источников излучения для ослабления потока излуче­
ния или для увеличения плотности мощности могут входить осла­
бители (аттенюаторы), зеркала, линзы, объективы н другие оп­
тические элементы. Влияние оптических элементов не должно
учитываться, если они изменяют коэффициент использования из­
лучения за счет изменения его спектрального состава не более чем
на 2 %. Под коэффициентом использования излучения следует по­
нимать
                          Л»
                          f 80t*(^)rj, Л
                          —   ----------------- ,                    ( 1)

                              Г Л
где S 0Jn Щ — относительная спектральная характеристика чув­
                   ствительности ФЭПП. отн. ед.;
           г >. —• спектральная    плотность     потока   излучения,
                   Вт-см г-МКМ“1.
   Максимальное значение потока         излучения.    падающего на
ФЭПП, должно выбираться из условия работы ФЭПП на линей­
ном участке его энергетической характеристики.
   Нестабильность потока излучения не должна выходить за пре­
делы интервала ± 2 %. При использовании в качестве источника
излучения лампы накаливания, блок питания ее должен удовлет­
ворять требованиям ГОСТ 17616—82.
   1.1.1.5. Источник питания ФЭПП должен обеспечивать установ­
ление напряжения питания ФЭПП с погрешностью, которая не
должна выходить за пределы интервала ± 3 %, если иное не ого­
ворено в ТУ на ФЭПП конкретного типа.